Alexander V. Senichev, Vadim G. Talalaev, Igor V. Shtrom, Horst Blumtritt, George E. Cirlin, Jorg Schilling, Christoph Lienau, Peter Werner // ACS Photonics. 2014. htt://dx.doi.org/10.1021/ph5002022
Дубровский В.Г., Цырлин Г.Э., Устинов В.М. // ФТП. 2009. Т. 43. С. 1585--1628
Dong Y., Tian B., Kempa T.J., Lieber С.М. // Nano Lett. 2009. V. 9. P. 2183
Hu L., Chen G. // Nano Lett. 2007. V. 7(11). P. 3249--3252
Kayes B.M., Atwater H.A., Lewis N.S. // J. Appl. Phys. 2005. V. 97. P. 114 302
Jiang X., Qihua Xiong, Sungwoo Nam et al. // Nano Lett. 2007. V. 7. P. 3214--3218
Diedenhofen S.L., Vecchi G., Algra R.E. et al. // Advanced Materials. 2009. V. 21. P. 973--978
Muskens O.L., Diedenhofen S.L., Kaas B.C. // Nano Lett. V. 9. P. 930--934
Demichel O., Heiss M., Bleuse J. et al. // Appl. Phys. Lett. 2010. V. 97. N 20. P. 201 907--201 909
Li Q.H., Gao T., Wang Y.G., Wang T.H. // Appl. Phys. Lett. 2005. V. 86. N 12. P. 123 117--123 119
Cirlin G.E., Dubrovskii V.G., Samsonenko Yu.B., Bouravleuv A.D., Durose K., Proskuryakov Y.Y., Mendes Budhikar, Bowen L., Kaliteevski M.A., Abram R.A., Dagou Zeze // Phys. Rev. B. 2010. V. 82. N 3. P. 035 302
Самсоненко Ю.Б., Цырлин Г.Э., Хребтов А.И., Буравлев А.Д., Поляков, Улин В.П., Дубровский В.Г., Werner P. // ФТП. 2011. Т. 45. С. 441--445
Алексеев П.С., Дунаевский М.С., Марычев М.О., Нежданов А.В., Lepsa M., Grutzmacher D., Титков А.Н. // Вестник Нижегородского университета. 2013. Т. 2. С. 22--27
Novikov B.V., Serov S.Yu., Filosofov N.G., Shtrom I.V., Talalaev V.G., Vyvenko O.F., Ubyivovk E.V., Samsonenko Yu.B., Bouravleuv A.D., Soshnikov I.P., Sibirev N.V., Cirlin G.E., Dubrovskii V.G. // RRL --- Rapid Research Letters. 2010. V. 4. N 7. P. 175--177
Rziga-Ouaja F., Mejri H., Triki A., Selmi A. // J. Appl. Phys. 2000. V. 88. P. 2583
Борисов В.И., Сабликов В.А., Борисова И.В., Чмиль А.И. // ФТП. 1998. Т. 33. С. 68--74
Edmund G. Seebauer, Meredith C. Kratzer // Charged Semiconductor Defects. Springer-Verlag London Limited, 2009