Издателям
Вышедшие номера
Анализ локальной атомной структуры марганца и его оксидов методом спектроскопии протяженных тонких структур энергетических потерь электронов
Бакиева О.Р.1, Немцова О.М.1, Сурнин Д.В.1, Гай Д.Е.1
1Физико-технический институт УрО РАН, Ижевск, Россия
Email: ftiran@mail.ru
Поступила в редакцию: 11 декабря 2014 г.
Выставление онлайн: 19 июня 2015 г.

Предложена методика определения параметров локальной атомной структуры системы марганец-кислород методом спектроскопии протяженных тонких структур энергетических потерь электронов. Получены экспериментальные спектры протяженных тонких структур энергетических потерь электронов с чистой металлической поверхности марганца и его стехиометрических оксидов. Из экспериментальных спектров выделены нормированные осциллирующие части, анализ которых проведен методом решения обратной задачи с использованием регуляризации по Тихонову. Получены параметры локальной атомной структуры исследуемых объектов --- координационные числа, длины химической связи и параметры их дисперсии. Работа выполнена при финансовой поддержке РФФИ N 14-02-31488 и Программы президиума РАН. Проект N 12-П-2-1013.
  • B.M. Kincaid, A.E. Meixner, P.M. Platzman. Phys. Rev. Lett. 40, 1296 (1978)
  • J.J. Ritsko, P.C. Gibbons, S.E. Schnattery. Phis. Rev. Lett. 32, 671 (1974)
  • R.D. Leapman, I.A. Grunes, P.L. Fejes. Phys. Rev. B 26, 541 (1982)
  • M. DeCrescenzi, L. Papagno, G. Chiarello. Solid State Commun. 40, 613 (1987)
  • M. De Crescenzi. Critic. Rev. Solid State Mater. Sci. 15, 3, 279 (1989)
  • M. De Crescenzi. Surf. Sci. Rep. 21, 89 (1995)
  • T. Fujikawa. Electron Energy Loss Spectroscopy for Surface Study. Handbook of Thin Film Materials. (2000) v. 2, p. 415
  • Д.И. Кочубей, Ю.А. Бабанов, К.И. Замараев, Р.В. Ведринский. Рентгеноспектральный метод изучения структуры аморфных тел. Наука, Новосибирск (1988). 301 с
  • Б.В. Андрюшечкин, К.Н. Ельцов, А.Н. Климов. Тр. Ин-та общей физики им. А.М. Прохорова 59, 23 (2003)
  • D.E. Guy, D.V. Surnin, A.N. Deev, Yu.V. Ruts. J. Electron Spectroscopy and Related Phenomena 95, 193 (1998)
  • Yu.V. Ruts, D.E. Guy, D.V. Surnin, V.I. Grebennikov. In: Handbook of Surfaces and Interfaces of Materials / Ed. H.S. Nalwa. V. 2. Surface and Interface Analysis and Properties. Ch. 14, 1 (2001)
  • Д.Е. Гай, В.И. Гребенников, Д.В. Сурнин, О.Р. Желтышева. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования 11, 81 (2003)
  • O.R. Zheltysheva, D.E. Guy, D.V. Surnin, Y.V. Ruts, V.I. Grebennikov. Nucl. Instrum. Meth. Phys. Res. A 543, 244 (2005)
  • E. Clementi, C.C.J. Roothaan, M. Yoshimine. Phys. Rev. 127, 5, 1618 (1962)
  • E. Clementi, C. Roetti. At. Data Nucl. Data Tables 14, 11 760 (1974)
  • J.J. Rehr, R.C. Albers. Rev. Mod. Phys. 72, 3, 621 (2000)
  • А.Л. Агеев, Н.В. Ершов, В.Р. Швецов, Ю.А. Бабанов, В.В. Васин. Длина химической связи. Комплекс программ обработки данных рентгеноспектрального структурного анализа. АН СССР, УНЦ, Ин-т математики и механики, Свердловск (1987). 87 с
  • А.П. Бабичев Н.А. Бабушкина, А.М. Братковский. Физические величины. Справочник. Наука, М. (1991). 1232 с
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.