Вышедшие номера
Расчёт рефлектометрических характеристик с учетом профильной неоднородности переходного слоя
Шагаев В.В.1
1Московский государственный технический университет им. Н.Э. Баумана, Калужский филиал, Калуга, Россия
Email: shagaev_vv@rambler.ru
Поступила в редакцию: 30 октября 2014 г.
Выставление онлайн: 19 ноября 2015 г.

Рассмотрена задача о влиянии переходного слоя с малой фазовой толщиной на результаты рефлектометрических исследований. Методом теории возмущений получены выражения для коэффициентов отражения электромагнитных волн с p- и s-поляризацией. Выполнен анализ логарифмической производной от коэффициента отражения по углу для волны с p-поляризацией. Показано, что вблизи угла Брюстера производная имеет ярко выраженные особенности, связанные с электродинамическими параметрами переходного слоя. Представлены результаты расчетов для диффузионных слоев.
  1. Зинченко С.П., Ковтун А.П., Толмачев Г.Н. // ЖТФ. 2009. Т. 79. Вып. 11. С. 128--133
  2. Шварцбург А.Б. // УФН. 2000. Т. 170. Вып. 12. С. 1297--1324
  3. Шварцбург А.Б., Агранат М.Б., Чефонов О.В. // Квант. электрон. 2009. Т. 39. Вып. 10. С. 948--952
  4. Биленко Д.И., Полянская В.П., Гецьман М.А. и др. // ЖТФ. 2005. Т. 75. Вып. 6. С. 69--73
  5. Бабиков В.В. Метод фазовых функций в квантовой механике. М.: Наука, 1976. 286 с

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.