Методами визуализации структуры поверхности и рентгенофлуоресцентного элементного микроанализа изучены закономерности эрозии и переноса вещества элементов разрядного устройства. Обнаружено влияние микрорельефа и окисной пленки, присутствующей на поверхности материала катода, на развитие дугового разряда в коммутаторе.
Месяц Г.А. Импульсная энергетика и электроника. М.: Наука, 2004. 704 с
Таблицы физических величин: Справочник / Под ред. акад. И.К. Кикоина. М.: Атомиздат, 1976. 1008 с
Физические величины: Справочник / А.П. Бабичев, Н.А. Бабушкина, А.М. Братковский и др.; Под ред. И.С. Григорьева, Е.С. Мелихова. М.: Энергоатомиздат, 1991. 1232 с
Месяц Г.А. Эктоны в вакуумном разряде: пробой, искра, дуга. М.: Мир, 2000. 424 с
Иванов В.А., Коныжев М.Е., Зимин А.М., Тройнов В.И., Летунов А.А., Камолов Т.И., Дорофеюк А.А. // 21-я Всероссийская (с международным участием) конференция "Физика низкотемпературной плазмы" ФНТП-2014. Казань. 20-23 мая 2014. Казань: Изд-во КНИТУ, 2014. Т. 1. С. 175
Иванов В.А. // Прикладная физика. 2001. N 1. С. 5
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.