Исследованы микроструктура и магниторезистивные характеристики обладающих гигантским магниторезистивным эффектом сверхрешеток [NiFeCo/Cu]8 с различной толщиной буферного слоя NiFeCr, приготовленных методом магнетронного напыления. Показано, что формирование таких наноструктур с сильным или слабым гистерезисом обусловлено тем, какая структура --- ОЦК или ГЦК --- сформировалась в буферном слое NiFeCr. Предложен способ существенного снижения ширины петли гистерезиса магнитосопротивления путем использования составного буферного слоя Ta/NiFeCr. Работа выполнена в рамках государственного задания ФАНО России (тема Спин" N 01201463330), а также при частичной финансовой поддержке Министерства образования и науки РФ (гранты N 14.Z50.31.0025, НШ-7539.2016.2), РФФИ (проект N 16-02-00061), программы УрО РАН (проект N 15-9-2-22). Исследования микроструктуры проведены в Центре коллективного пользования Испытательный центр нанотехнологий и перспективных материалов" ИФМ УрО РАН в отделе электронной микроскопии.
K. Wetzig, C.M. Schneider. Metal based thin films for electronics. WILEY-VCH, Weinheim (2003). 378 p
S. Tumanski. Handbook of magnetic measurements. CRC Press, Taylor \& Francis Group, Boca Raton-London-N. Y. (2011). 382 p
М.А. Миляев, Л.И. Наумова, В.В. Проглядо, Т.П. Криницина, А.М. Бурханов, Н.С. Банникова, В.В. Устинов. ФММ 112, 146 (2011)
Н.С. Банникова, М.А. Миляев, Л.И. Наумова, В.В. Проглядо, Т.П. Криницина, И.Ю. Каменский, В.В. Устинов. ФММ 116, 1040 (2015)
M.R. Parker, S. Hossain, D. Seale, J.A. Barnard, M. Tan, H. Fujiwara. IEEE Trans. on Magn. 30, 358 (1994)
R. Coehoorn, J.P.W.B. Duchateau. J. Magn. Magn. Mater. 123, 390 (1993)
T. Kanda, M. Jimbo, S. Tsunashima, S. Goto, M. Kumazawa, S. Uchiyama. IEEE Transl. Magn. Jpn. 9, 103 (1994)
X. Yang, Z. Peng, H. Liao, Z. Li. J. Wuhan University of Technology --- Mater. Sci. Ed. 19, 23 (2004)
Y. An, J. Liu, Y. Ma. J. Appl. Phys. 103, 013905 (2008)
V.A. Vas'ko, M.T. Kief. J. Appl. Phys. 93, 8409 (2003)
J.R. Childress, M.J. Carey, R.J. Wilson, N. Smith, C. Tsang, M.K. Ho, K. Carey, S.A. MacDonald, L.M. Ingall, B.A. Gurney. IEEE Trans. Magn. 37, 1745 (2001)
Z.T. Diao, S. Goto, K. Meguro, S. Tsunashima, M. Jimbo. J. Appl. Phys. 81, 2327 (1997)
R. Nakatani, K. Hoshino, H. Hoshiya, Y. Sugita. Mater. Trans. 37, 1710 (1996)
С.С. Горелик, Ю.А. Скаков, Л.Н. Расторгуев. Рентгенографический и электронно-оптический анализ. МИСИС, М. (1994). 328 с
R. Jerome, T. Valet, P. Galtier. IEEE Trans. Magn. 30, 4878 (1994)
R. Coehoorn. In: Handbook of magnetic materials, V. 15 / Ed. K.H.J. Buschow. Elsevier B.V., Amsterdam (2003). P. 31
S. Gangopadhyay, J.X. Shen, M.T. Kief, J.A. Barnard, M.R. Parker. IEEE Trans. Magn. 31, 3933 (1995)
Л.А. Чеботкевич, Ю.П. Иванов, А.В. Огнёв. ФТТ 49, 2039 (2007)
© 2017 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук