Приведены результаты исследования электропроводности на постоянном токе пленок диметилдиимида перилентетракарбоновой кислоты методом циклической термодесорбции кислорода. Определены микроскопические параметры прыжкового электропереноса по примесным и собственным локализованным состояниям. Методами сканирующей зондовой микроскопии (методом атомно-силовой микроскопии, скани- рующей зондовой спектроскопии, фотоассистированной электросиловой микроскопии Кельвина) определены ширина запрещенной зоны и знак основных носителей тока. Обсуждается возможность применения фотоассистированной сканирующей туннельной микроскопии для наномасштабного фазового анализа фотопроводящих пленок. Работа выполнена при поддержке Германского министерства образования и исследований (Bundesministerium fur Bildung und Forschung, грант BLR03/002) и Государственной программы научных исследований Республики Беларусь "Конвергенция 2020" (грант ГБ 16-196). DOI: 10.21883/FTT.2018.02.45377.162
J.-P. Sun, A.D. Hendsbee, A.J. Dobson, G.C. Welch, I.G. Hill. Organ. Electron. 35, 151 (2016)
E. Kozma, W. Mroz, F. Galeotti. Dyes Pigments 114, 138 (2015)
J. Wang, E. He, X. Liu, L. Yu, H. Wang, R. Zhang, H. Zhang. Sensors Actuators B 239, 898 (2017)
S. Mondal, W.-H. Lin, Y.-C. Chen, S.-H. Huang, R. Yang, B.-H. Chen, T.-F. Yang, S.-W. Mao, M.-Y. Kuo. Organ. Electron. 23, 64 (2015)
U. Zschieschang, K. Amsharov, M. Jansen, K. Kern, H. Klauk, R.T. Weitz. Organ. Electron. 26, 340 (2015)
N. Tuv gluov glu, S. Karadeniz, B. Bari s. Mater. Sci. Semiconductor Proc. 33, 199 (2015)
C.M. Fisher, M. Burghard, S. Roth. Synthetic Met. 71, 1975 (1995)
M. Hiramoto, K. Ihara, M. Yokoyama. Jpn. J. Appl. Phys 34/1, 3803 (1995)
M. Hiramoto, I. Sato, K. Nakayama, M. Yokoyama. Jpn. J. Appl. Phys 37/2, L1184 (1998)
T. Suga, M. Iizuka, S. Kuniyoshi, K. Kudo, K. Tanaka. Synthetic Met. 102, 1050 (1999)
А.С. Комолов, Э.Ф. Лазнева, Н.Б. Герасимова, Ю.А. Панина, А.В. Барамыгин, С.А. Пшеничнюк. ФТТ 58, 1836 (2016)
А.Е. Почтенный, А.Н Лаппо. Письма в ЖТФ 31, 34 (2005)
А.Е. Почтенный, А.В. Мисевич. Письма в ЖТФ 29, 56 (2003)
D.A. Smith, R.W. Owens. Appl. Phys. Lett. 76, 3825 (2000)
O.M. Stukalov, A.E. Pochtenny, V.L. Mironov, S.V. Gaponov, D.G. Volgunov. Phys. Low Dimensional Struct. 5/6, 121 (2002)
Б.И. Шкловский, А.Л. Эфрос, И.А. Янчев. Письма в ЖЭТФ 14, 348 (1971)
J.-P. Meyer, D. Schlettwein, D. Wohrle, N.I. Jaeger. Thin Solid Films 258, 317 (1995)
W. Zhang, G. Yu. In: Organic Optoelectronic Materials / Ed. Y. Li. Springer International Publishing (2015). С. 105