Gushchina E. V.1, Malykh D. A1, Dunaevskiy M. S. 1
1Ioffe Institute, St. Petersburg, Russia
Email: katgushch@yandex.ru
The study demonstrates the possibility of modifying fragments of hexagonal boron nitride layers by bending them with a probe using a scanning probe microscope. The specific ranges of h-BN fragments with a lateral size of about 1 micron have been determined. It was possible to obtain a layer up to 8 monolayers thick from initially thick fragments of h-BN by the layer flip method. Keywords: Hexagonal boron nitride, atomic force microscopy.
- A.K. Geim, I.V. Grigorieva. Nature 499, 419 (2013)
- A. Razaq, F. Bibi, X. Zheng, R. Papadakis, S.H.M. Jafri, H. Li et. al. Materials 15, 3, 1012 (2022)
- S.K. Tiwari, S. Sahoo, N. Wang, A. Huczko. J. Sci.: Adv. Mater. Dev. 5, 1, 10 (2020)
- M. Xu, T. Liang, M. Shi, H. Chen. Chem. Rev. 113, 3766 (2013)
- S.J. Haigh, A. Gholinia, R. Jalil, S. Romani, L. Britnell, D.C. Elias, K.S. Novoselov, L.A. Ponomarenko, A.K. Geim, R. Gorbachev. Nature Mater. 11, 9, 764 (2012)
- A.K. Geim, K.S. Novoselov. Nature Mater. 6, 183 (2007)
- H. Sediri, D. Pierucci, M. Hajlaoui, H. Henck, G. Patriarche, Y.J. Dappe, S. Yuan, B. Toury, R. Belkhou, M.G. Silly, F. Sirotti, M. Boutchich, A. Ouerghi. Sci. Rep. 5, 16465 (2015)
- B.R. Borodin, M.S. Dunaevskiy, F.A. Benimetskiy, S.P. Lebedev, A.A. Lebedev, P.A. Alekseev. J. Phys.: Conf. Ser. 1124, 081031 (2018)
- S. Thomas, M.S. Manju, K.M. Ajith, S.U. Lee, M. A. Zaeem. Physica E 123, 114180 (2020)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.