Исследовано поведение внутренних микронапряжений, величины области когерентного рассеяния рентгеновского излучения и остаточного количества металлической фазы при циклическом нагружении монокристаллов SmS гидростатическим давлением выше критического для фазового перехода полупроводник--металл. Показано, что разрушение образцов происходит при достижении микронапряжениями величин, соответствующих пределу прочности монокристаллов SmS. С увеличением количества циклов нагружений наблюдается плавное уменьшение области когерентного рассеяния, сопровождающееся уменьшением количества металлической фазы в образцах. Работа выполнена при поддержке РФФИ (грант N 11-08-00583-а)
A. Jayaraman, V. Narayanamurti, E. Bucher, R.G. Maines. Phys. Rev. Lett. 25, 20, 1430 (1970)
И.А. Смирнов, В.С. Оскотский. УФН 124, 2, 241 (1978)
В.В. Каминский, Н.Н. Степанов, Л.Н. Васильев, Ю.Н. Харченко, И.А. Смирнов. ФТТ 27, 1, 77 (1985)
C.C. Горелик, Л.Н. Расторгуев, Ю.А. Скачков. Рентгенографический и электронографический анализ. Металлургия, М. (1970). 368 с
Л.Н. Васильев, В.В. Каминский, М.В. Романова, Н.В. Шаренкова, А.В. Голубков. ФТТ 48, 10, 1777 (2006)
Н.В. Шаренкова, В.В. Каминский, А.В. Голубков, Л.Н. Васильев, Г.А. Каменская. ФТТ 47, 4, 598 (2005)
Н.В. Шаренкова, В.В. Каминский, М.В. Романова, Л.Н. Васильев, Г.А. Каменская. ФТТ 50, 7, 1158 (2008)
Н.В. Шаренкова, В.В. Каминский, С.Н. Петров. ЖТФ 81, 9, 144 (2011)
В.В. Каминский, А.В. Голубков, В.А. Дидик, М.В. Романова, Е.А. Скорятина, В.П. Усачева, Б.Н. Шалаев, Н.В. Шаренкова. ФТТ 51, 10, 1900 (2009)
Б.И. Смирнов, Г. Кестнер, А.В. Рябов, И.А. Смирнов. ФТТ 25, 2, 541 (1983)
В.В. Каминский, А.В. Голубков. ФТТ 21, 9, 2805 (1979)
© 2017 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук