Особенности наноструктуры и удельной проводимости тонких пленок различных металлов
Антонец И.В., Котов Л.Н., Некипелов С.В., Голубев Е.А.1
1Институт геологии УрО РАН, Коми научный центр, Сыктывкар, Россия
Email: kotov@syktsu.ru
Поступила в редакцию: 15 апреля 2003 г.
Выставление онлайн: 18 февраля 2004 г.
Методом вакуумного осаждения на полимерной подложке выращены аморфные пленки серебра, меди, золота и железа толщиной 6-350 nm. Исследованы особенности наноструктуры пленок. Получена зависимость удельной проводимости от толщины пленки, а также выявлена связь поведения проводимости с особенностями морфологии поверхности.
- Абелес Ф. // Физика тонких пленок. Т. 6. М.: Мир, 1973
- Хасс Г. Физика тонких пленок. Т. 1. М.: Мир, 1967. 343 с
- Технология тонких пленок. Сб. статей / Под ред. Л. Майссела, Р. Глэнга. Пер. с англ. М.И. Елинсона, Г.Г. Смолко. М.: Сов. радио, 1977
- Елинсон М.И. // РЭ. 1968. N 1. C. 3--30
- Cоколов А.В. Оптические свойства металлов. М.: Физматлит, 1961
- Суху Р. Магнитные тонкие пленки. М.: Мир, 1967
- Бек Г., Гюнтеродт Г.Й. Металлические стекла. М.: Мир, 1983. 454 с
- Займан Дж. Модели беспорядка. М.: Мир, 1982. 592 с
- Полухин В.А., Ватолин Н.А. Моделирование аморфных металлов. М.: Наука, 1985
- Андреенко А.С., Никитин С.А. // УФН. 1997. Т. 167. N 6. C. 605
- Marchal G., Mangin P., Janot C. // Thin Solid Films. 1974. Vol. 23. P. 17
- Hasegava R. // Phys. Rev. Lett. 1972. Vol. 28. P. 1376
- Liu H.-D., Zhao Y.-P., Ramanath G. et al. // Thin Solid Films. 2001. Vol. 384. P. 151--156
- Sarychev A.K., Bergman D.J., Yagil Y. // Phys. Rev. B. 1995. Vol. 51. N 8. P. 5366--5385
- Levy-Nathansohn R., Bergman D.J. // Phys. Rev. B. 1997. Vol. 55. N 8. P. 5425--5439
- Фролов Г.И., Жигалов В.С., Польский А.И., Поздняков В.Г. // ФТТ. 1996. Т. 38. Вып. 4. С. 1208--1213
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук