"Журнал технической физики"
Издателям
Вышедшие номера
Высокочувствительный интерференционно-голографический метод исследования прозрачных объектов с малыми поперечными размерами
Лявшук И.А.1, Ляликов А.М.1
1Гродненский государственный университет им. Я. Купалы, Гродно, Белоруссия
Email: amlialikov@grsu.by
Поступила в редакцию: 22 октября 2007 г.
Выставление онлайн: 20 октября 2008 г.

Рассмотрен новый метод исследования прозрачных объектов, имеющих малые поперечные размеры. Метод основан на голографической интерферометрии бокового сдвига, сочетающей смещение исследуемого прозрачного объекта между записью пары голографических интерферограмм и их оптическую обработку. Интерференционные картины исследуемого прозрачного объекта вследствие величины бокового сдвига, равного или превышающего линейные размеры объекта, эквивалентны по виду интерференционным картинам, получаемым в двулучевом интерферометре с референтной волной, кроме этого они имеют повышенную чувствительность отображения оптических неоднородностей исследуемого объекта. Представлены результаты эксперимента по апробации данного метода для контроля оптических неоднородностей кристалла активной среды твердотельного лазера. Получены интерференционные картины, отображающие оптическую неоднородность кристалла с повышенной в 12 раз чувствительностью. PACS 42.40.Kw
  • Оптический производственный контроль / Под ред. Д. Малакары. М.: Машиностроение, 1985. 400 с
  • Афанасьев В.А. Оптические измерения. М.: Высш. шк., 1981. 229 с
  • Зейликович И.С., Спорник Н.М. Голографическая диагностика прозрачных сред. Минск: Университетское, 1988. 208 с
  • Зейликович И.С., Ляликов А.М. // УФН. 1991. Т. 161. N 1. С. 143--164
  • Шехтман В.Н., Родинов А.Ю., Пельменев А.Г. // Опт. и спектр. 1994. Т. 76. N 6. С. 988--993
  • Башкин А.С., Коротков П.И., Максимов Ю.П. и др. // Квант. электрон. 1997. Т. 24. N 9. С. 786--790
  • Santhanakrishnan T., Palanisamy P.K., Sirohi R.S. // Appl. Opt. 1998. Vol. 37. N 16. P. 3447--3449
  • Иванов П.В., Корябин А.В., Шмальгаузен В.И. // Квант. электрон. 1999. Т. 27. N 1. С. 78--80
  • Соколов В.И. // Квант. электрон. 2001. Т. 31. N 10. С. 891--896
  • Комиссарук В.А. // Тр. ВВИА им. Жуковского. 1971. Вып. 1301. С. 121--144
  • Ляликов А.М. // Квант. электрон. 2005. Т. 35. N 3. С. 290--292
  • Ляликов А.М. // Опт. и спектр. 2005. Т. 99. N 1. С. 151--155
  • Ляликов А.М. // Опт. и спектр. 2007. Т. 102. N 5. С. 874--879
  • Спорник Н.М., Белозеров А.Ф., Бывальцев А.М. и др. А.с. СССР. N 396540 // Б.И. 1973. N 36
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.