Методом полиионной сборки получены наноразмерные композитные покрытия полиэлектролит/наночастицы оксида железа, проведена их характеризация с помощью методов атомно-силовой микроскопии, электронного магнитного резонанса, эллипсометрии, вторично-ионной масс-спектрометрии. Проведенный комплекс исследований позволил установить зависимость между количеством слоев наночастиц магнетита в нанокомпозитной пленке и ее показателем преломления, толщиной и шероховатостью поверхности. Обнаружена нелинейная зависимость интенсивности сигнала электронного магнитного резонанса от числа слоев магнитных наночастиц в пленке. PACS: 68.35.B-, 68.35.-d, 75.70.-i, 78.66.-w
Petty M.C. Langmuir-Blodgett films: an introduction. Cambridge. Cambridge Univ. Press, 1996. 234 p
Khomutov G.B. // Adv. Coll. Int. Sci. 2004. Vol. 111. P. 79
An M., Hing J.-D. // Thin Solid Films. 2006. Vol. 500. P. 74
Schlehoff J.B., Dubas S.T., Farhat T. // Langmuir. 2000. Vol. 16. N 26. P. 9968
Michel M., Izguierdo A., Decher G., Voegel J.-C., Schaaf P., Ball V. // Langmuir. 2005. Vol. 21. N 17. P. 7854
Decher G. // Science. 1997. Vol. 277. P. 1232
Correa-Duarte M.A., Giersig M., Kotov N.A., Liz-Marzan L.M. // Langmuir. 1998. Vol. 1.4 N 22. P. 6430
Ruths J., Essler F., Decher G., Rieglar H. // Langmuir. 2000. Vol. 16. N 23. P. 8871
Mamedov A.A., Kotov N.A. //Langmuir. 2000. Vol. 16. N 13. P. 5530
Mamedov A., Ostrander J., Aliev F., Kotov N.A. // Langmuir. 2000. Vol. 16. N 8. P. 3941
Tjong S.C., Liang G.D. // Mat. Chem. Phys. 2006. Vol. 100. P. 1
Губин С.П., Кокшаров Ю.А., Хомутов Г.Б., Юрков Г.Ю. // Усп. химии. 2005. Т. 74. N 6. С. 539
Ушаков Н.М., Кособудский И.Д., Юрков Г.Ю., Губин С.П., Запсис К.В., Кочубей В.И., Ульзутуев А.Н. // Радиотехника. 2005. Т. 10. С. 105
Варфоломеев А.Е., Волков А.В., Годовский Д.Ю., Капустин Г.А., Москвина М.А. // Письма в ЖТФ. 1995 Т. 67. Вып. 1. С. 37
Звездин К.А. // ФТТ. 2000. Т. 42. Вып. 1. С. 116
Kim S.-S., Kim S.-T., Ahn J.-M., Kim K.-H. // J. Magn. Magn. Mater. 2004. Vol. 271. P. 39
Kingman S.W., Rowson N.A. // Minerals Engineering. 1998. Vol. 11. N 11. P. 1081
Портнов С.А., Ященок А.М., Губский А.С., Горин Д.А. Невешкин А.А., Климов Б.Н., Нефедов А.А., Ломова М.В. // Приборы и техника эксперимента. 2006. Т. 5. С. 1
Grigoriev D., Gorin D., Sukhorukov G.B., Yashchenok A., Maltseva E., Mohwald H. // Langmuir. 2007. Vol. 23. N 24. P. 12 388
Shchukin D.G., Sukhorukov G.B., Mohwald H. // Angew. Chem. Int. Ed. Engl. 2003. Vol. 42. P. 4472
Gaponik N., Radthenko I.L., Sukhorukov G.B., Rogach A.L. // Langmuir. 2004. Vol. 20. P. 1449
Kostler S., Delgado A.V., Ribitsch V. // J. Coll. Int. Sci. 2005. Vol. 286. P. 339
Kolasinska M., Warszynski P. // Appl. Surf. Sci. 2005. Vol. 252. P. 759
Kolasinska M., Krastev R., Warszynski P. // J. Coll. Int. Sci. 2007. Vol. 305. P. 46
Биленко Д.И., Полянская В.П., Гецьман М.А., Горин Д.А., Невешкин А.А., Ященок А.М. // ЖТФ. 2005. Т. 75. Вып. 6. С. 69
Rokakh A.G., Zhukov A.G., Stetsura S.V., Serdobintsev A.A. // Nucl. Inst. Meth. Phys. Res. B. 2004. Vol. 226. N 4. P. 595
Harris J.J., Bruening M.L. // Langmuir. 2000. Vol. 16. N 4. P. 2006
Neff P.A., Naji A., Ecker C., Nickel B., Klitzing R., Bausch A.R. // Macromolecules. 2006. Vol. 39. N 2. P. 443
Nagy N., Deak A., Horvolgyi Z., Fried M., Agod A., Barsony I. // Langmuir. 2006. Vol. 22. N 20. P. 8416
Фелдман Л., Майер Д. Основы анализа поверхности и тонких пленок. М.: Мир, 1989. 344 с
Киттель Ч. Введение в физику твердого тела. М.: Наука, 1978. 789 с