Экспериментально показано, что облучение стекол, содержащих ионы серебра, электронами с энергией 5--7 keV и дозой 20--50 mC/cm2 приводит к образованию на поверхности стекла тонкой пленки и наночастиц серебра. При высокой концентрации ионов серебра в стекле пленка серебра формируется и под поверхностью стекла. Причиной данных эффектов является формирование в приповерхностном слое стекла области отрицательного объемного заряда, что приводит к полевой миграции ионов серебра из объема стекла в область отрицательного объемного заряда и на поверхность стекла, и восстановление электронами с тепловой энергией ионов серебра до нейтральных атомов.
Zhou W., Mandia J.D., Griffiths M., Bialiayeu A., Zhang Y., Gordon P.G., Barry S.T., Albert J. // Opt. Expr. 2013. Vol. 21. P. 245--255
Tagada C.K., Dugasani S.R., Aiyer R., Park S., Kulkarni A., Sabharwal S. // Sens. and Act. B: Chem. 2013. Vol. 183. P. 144--149
Nashchekin A.V., Nevedomskiy V.N., Obraztsov P.A., Stepanenko O.V., Sidorov A.I., Usov O.A., Turoverov K.K., Konnikov S.G. // Proc. SPIE. 2012. Vol. 8427. P. 842 739
Choi S., Dicksonc R.M., Yu J. // Chem. Soc. Rev. 2012. Vol. 41. P. 1867--1891
Yang R., Lu Z. // Int. J. of Opt. 2012. Vol. 2012. P. 1--12
Hewageegana P., Stockman M.I. // Infrared Phys. and Tech. 2006. Vol. 50. P. 177--181
Tseng C.W., Chen Y.L., Tao Y.T. // Org. Electr. 2012. Vol. 13. P. 1436--1442
Jin X.R., Lu Y., Zheng H., Lee Y.P., Rhee J.Y., Kim K.W., Jang W.H. // Opt. Commun. 2011. Vol. 284. P. 4766--4768
Normatov A., Ginzburg P., Berkovitch N., Lerman G.M., Yanai A., Levy U., Orenstein M. // Opt. Expr. 2010. Vol. 18. P. 14 079--14 086
Chang R., Chiang H.P., Leung P.T., Tsai D.P., Tse W.S. // Sol. St. Commun. 2005. Vol. 133. P. 315--320
Ma X., Benavides J., Haughn C.R., Xu F., Doty M.F., Cloutier S.G. // Org. Electr. 2013. Vol. 14. P. 1916--1923
Singh M.R. // Superlat. and Microstr. 2008. Vol. 43. P. 537--541
Lindquist N.C., Nagpal P., McPeak K.M., Norris D.J., Oh S.H. // Rep. Prog. Phys. 2012. Vol. 75. P. 161
Garcia M.A. // J. Phys. D: Appl. Phys. 2011. Vol. 44. P. 1--20
Климов В.В. Наноплазмоника. М.: Физмалит, 2010. 480 с
Kreibig U., Vollmer M. Optical properties of metal clusters. Berlin: Springer-Verlag, 1995. 532 p
Дыкман Л.А., Богатырев В.А., Щеголев С.Ю., Хлебцов Н.Г. Золотые наночастицы: синтез, свойства, биомедицинское применение. М.: Наука, 2008. 319 с
Карпов С.В., Слабко В.В. Оптические и фотофизические свойства фрактальноструктурированных золей металлов. Новосибирск: СО РАН, 2003. 265 с
Amoruso S., Ausanio G., Bruzzese R., Vitiello M., Wang X. // Phys. Rev. B. 2005. Vol. 71. P. 033 406
Stoll S.L., Gillan E.G., Barron A.R. // Chem. Vap. Depos. 1996. Vol. 2. P. 182
Kaganovskii Y., Mogilko E., Lipovskii A.A., Rosenbluh M. // J. Phys.: Conf. Ser. 2007. Vol. 61. P. 508
Образцов П.А., Нащекин А.В., Никоноров Н.В., Сидоров А.И., Панфилова А.В., Брунков П.Н. // ФТТ. 2013. Т. 55. N 6. С. 1180--1186
Ганеев Р.А., Ряснянский А.И., Степанов А.Л., Кодиров М.К., Усманов Т. // Опт. и спектр. 2003. Т. 95. N 6. С. 1034
Sidorov A.I., Nashchekin A.V., Nevedomskiy V.N., Usov O.A., Podsvirov O.A. // Int. J. of Nanosci. 2001. Vol. 10. P. 1265
Podsvirov O.A., Ignatiev A.I., Nashchekin A.V., Nikonorov N.V., Sidorov A.I., Tsekhomsky V.A., Usov O.A., Vostokov A.V. // Nucl. Instr. and Meth. in Phys. Res. B. 2010. Vol. 268. P. 3103
Игнатьев А.И., Нащекин А.В., Неведомский В.М., Подсвиров О.А., Сидоров А.И., Соловьев А.П., Усов О.А. // ЖТФ. 2011. Т. 81. С. 75
Подсвиров О.А., Сидоров А.И., Цехомский В.А., Востоков А.В. // ФТТ. 2010. Т. 52. N 9. С. 1776--1779
Tervonen A., West B.R., Honkanen S. // Opt. Eng. 2011. Vol. 50. P. 071 107
Nikonorov N.V., Sidorov A.I., Tsekhomskii V.A. Silver nanoparticles in oxide glasses: technologies and properties. В кн. "Silver nanoparticles" / Ed. by D.P. Perez. Vukovar: Croatia: In-Tech. 2010. 334 p.
Макаров В.В. // ЖТФ. 1978. Т. 48. С. 551
Аброян И.А., Андронов А.Н., Титов А.И. Физические основы электронной и ионной технологий. М.: Высшая школа, 1984. 320 с
Touzin M., Goeriot D., Guerret-Piecort C., Juve D., Treheux D., Fitting H.-J. // J. Appl. Phys. 2006. Vol. 99. P. 114 110
© 2017 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук