Издателям
Вышедшие номера
Синтез и электронная структура графена на пленке никеля, адсорбированной на графите
Жижин Е.В.1,2, Пудиков Д.А.1,2, Рыбкин А.Г.1,2, Ульянов П.Г.1,2, Шикин А.М.1
1Санкт-Петербургский государственный университет, Санкт-Петербург, Россия
2Ресурсный центр Физические методы исследования поверхности" Санкт-Петербургского государственного университета, Санкт-Петербург, Россия
Email: evgeny_liquid@mail.ru
Поступила в редакцию: 25 марта 2015 г.
Выставление онлайн: 20 августа 2015 г.

Методами фотоэлектронной спектроскопии исследован процесс формирования графена на поверхности тонкой пленки Ni на подложке высокоориентированного пиролитического графита. Показано, что образование графена проходит через фазу поверхностного карбида никеля со стехиометрией Ni2C, формирующегося уже при температуре 180oC. Карбидная фаза при последующем нагреве трансформируется в графеновый монослой, сильно связанный с поверхностью. Проведен тщательный анализ всех переходных фазовых процессов исходя из тонкой структуры фотоэлектронных линий. Также представлены данные исследования морфологии поверхности при помощи атомно-силовой микроскопии. Особо подчеркивается, что достоинством исследуемого метода твердотельного" источника углерода является возможность формирования графена при более низких температурах (по меньшей мере при 280oC), чем при крекинге углеродсодержащих газов, требующем температуры порядка 400-500oC. Работа выполнена в рамках НИР N 15.61.202.2015 и 11.38.271.2014.
  • K.S. Novoselov, A.K. Geim, S.V. Morozov, D. Jiang, M.I. Katsnelson, I.V. Grigorieva, S.V. Dubonos, A.A. Firsov. Nature 438, 197 ( 2005)
  • A.K. Geim, K.S. Novoselov. Nature Mater. 6, 183 (2007)
  • A.H. Castro Neto, F. Guinea, N.M.R. Peres, K.S. Novoselov, A.K. Geim. Rev. Mod. Phys. 81, 109 (2009)
  • A.K. Geim, A.H. MacDonald. Phys. Today 60, 35 (2007)
  • M.I. Katsnelson, K.S. Novoselov, A.K. Geim. Nature Phys. 2, 620 (2006)
  • Z. Chen, Y.M. Lin, M.J. Rooks, P. Avouris. Physica E 40, 228 (2007)
  • F. Xia, T. Mueller, Y.M. Lin, A. Valdes-Garcia, P. Avouris. Nature Nanotechnol. 4, 839 ( 2009)
  • H.W.Ch. Postma. Nano Lett. 10, 420 (2010)
  • A.M. Shikin, G.V. Prudnikova, V.K. Adamchuk, F. Moresco, K.-H. Rieder. Phys. Rev. B 62, 13 202 (2000)
  • Yu.S. Dedkov, A.M. Shikin, V.K. Adamchuk, S.L. Molodtsov, C. Laubschat, A. Bauer, G. Kaindl. Phys. Rev. B 64, 035 405 (2001)
  • A.M. Шикин, В.K. Адамчук, K.Х. Ридер. ФТТ 51, 2251 (2009)
  • А.А. Попова, А.М. Шикин, А.Г. Рыбкин, Д.Е. Марченко, О.Ю. Вилков, А.А. Макарова, А.Ю. Варыхалов, O. Rader. ФТТ 53, 2409 (2011)
  • A. Varykhalov, J. Sanchez-Barriga, A.M. Shikin, C. Biswas, E. Vescovo, A. Rybkin, D. Marchenko, O. Rader. Phys. Rev. Lett. 101, 157 601 (2008)
  • A.M. Shikin, A.G. Rybkin, D. Marchenko, A.A. Rybkina, M.R. Scholz, O. Rader, A. Varykhalov. New J. Phys. 15, 013 016 (2013)
  • A. Varykhalov, M.R. Scholz, T.K. Kim, O. Rader. Phys. Rev. B 82, 121 101 (2010)
  • K.V. Emtsev, A. Bostwick, K. Horn, J. Jobst, G.L. Kellogg, L. Ley, J.L. McChesney, T. Ohta, S.A. Reshanov, J. Rohrl, E. Rotenberg, A.K. Schmid, D. Waldmann, H.B. Weber, T. Seyller. Nature Mater. 8, 203 (2009)
  • K.V. Emtsev, F. Speck, T. Seyller, L. Le, J.D. Riley. Phys. Rev. B 77, 155 303 (2008)
  • D. Usachov, A. Fedorov, O. Vilkov, B. Senkovskiy, V.K. Adamchuk, L.V. Yashina, A. Volykhov, M. Farjam, N.I. Verbitskiy, A. Grueneis, C. Laubschat, D.V. Vyalikh. Nano Lett. 14, 4982 (2014)
  • Д.Ю. Усачёв, А.В. Фёдоров, О.Ю. Вилков, А.В. Ерофеевская, А.С. Вопилов, В.К. Адамчук, Д.В. Вялых. ФТТ 57, 5, 1024 (2015)
  • J. Lahiri, T. Miller, L. Adamska, I.I. Oleynik, M. Batzill. Nano Lett. 11, 518 (2011)
  • L.L. Patera, C. Africh, R.S. Weatherup, R. Blume, S. Bhardwaj, C. Castellarin-Cudia, A. Knop-Gericke, R. Schloegl, G. Comelli, S. Hofmann, C. Cepek. ACS Nano 7, 7901 (2013)
  • Q. Yu, J. Lian, S. Siriponglert, H. Li, Y.P. Chen, S.-S. Pei. Appl. Phys. Lett. 93, 113 103 (2008)
  • G. Odahara, S. Otani, C. Oshima, M. Suzuki, T. Yasue, T. Koshikawa. Surf. Sci. 605, 1095 (2011)
  • X. Mingsheng, F. Daisuke, S. Keisuke, W. Eiichiro, H. Nobutaka. Cond-mat.mtrl-sci; arXiv:1006.5085 (2010)
  • D.Q. Yang, E. Sacher. Langmuir 22, 860 (2006)
  • F. Ravani, K. Papagelis, V. Dracopoulos, J. Parthenios, K.G. Dassios, A. Siokou, C. Galiotis. Thin Solid Films 527, 31 (2013)
  • V.K. Portnoi, A.V. Leonov, S.N. Mudretsova, S.A. Fedotov. Phys. Met. Metallogr. 109, 2, 153 (2010)
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.