"Письма в журнал технической физики"
Издателям
Вышедшие номера
Сканирующая ближнепольная оптическая нанотомография: метод многопараметрического 3D-исследования наноструктурированных материалов
Ефимов А.Е.1,2, Бобровский А.Ю.3, Агапов И.И.1, Агапова О.И.1, Олейников В.А.4,5, Набиев И.Р.5,6, Мочалов К.Е.4,5
1Федеральный научный центр трансплантологии и искусственных органов им. академика В.И. Шумакова Минздрава России, Москва, Россия
2ООО "СНОТРА", Москва, Россия
3Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова, Москва, Россия
4Институт биоорганической химии им. академиков М.М. Шемякина и Ю.А. Овчинникова РАН, Москва, Россия
5Национальный исследовательский ядерный университет МИФИ (Московский инженерно-физический институт), Москва, Россия
6Лаборатория по исследованиям в области нанонаук, Университет г. Реймса Шампань-Арденн, 51 рю Когнак Жэ, Реймс, Франция
Email: mochalov@mail.ru
Поступила в редакцию: 9 октября 2015 г.
Выставление онлайн: 20 января 2016 г.

Разработан экспериментальный подход к многопараметрической наномасштабной 3D-характеризации широкого класса композитных наноматериалов. Метод позволяет одновременно исследовать оптические свойства, 3D-морфологию, а также распределение механических и электрических свойств одного и того же объемного участка образца. Комбинированный подход сочетает в себе методы конфокальной и ближнепольной оптической микроспектроскопии с латеральным разрешением до 50 nm (флуоресценция, комбинационное рассеяние) с методом сканирующей зондовой микроскопии. Возможность получения объемного распределения оптических, морфологических, электрических и механических свойств образца с наномасштабным разрешением реализуется благодаря последовательному исследованию слоев наноматериалов с шагом до 20 nm и общей глубиной Z-сканирования до 3 mm. Разработанная методика применена для исследования ЖК-полимера, допированного флуоресцентными нанокристаллами.
  • Caplan J., Niethammer M., Taylor R.M., Czymmek K.J. // Curr. Opin. Struct. Biol. 2011. V. 21. N 5. P. 686--693
  • Mironov A.A., Beznoussenko G.V. // J. Microsc. 2009. V. 235. P. 308--321
  • Spiegelhalter C., Tosch V., Hentsch D. et al. // PLoS One. 2010. V. 5. P. e9014
  • Colombelli J., Besser A., Kress H. et al. // J. Cell Sci. 2009. V. 122. P. 1665--1679
  • Labernadie A., Thibault C., Vieu C., Maridonneau-Parini I., Charriere G.M. // Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 2010. V. 107. N 49. P. 21 016--21 021
  • Betzig E., Trautman J.K., Harris T.D., Weiner J.S., Kostelak R.L. // Science. 1991. V. 251. P. 1468--1470
  • Zenhausern F., O'Boyle M.P., Wickramasinghe H.K. // Appl. Phys. Lett. 1994. V. 65. P. 1623--1625
  • Pettinger B., Ren B., Picardi G., Schuster R., Ertl G. // Phys. Rev. Lett. 2004. V. 92. P. 096 101
  • Amenabar I., Poly S., Nuansing W., Hubrich E.H., Govyadinov A. A., Huth F., Krutokhvostov R., Zhang L., Knez M., Heberle J., Bittner A.M., Hillenbrand R. // Nat. Communications. 2013. V. 4. P. 2890
  • Efimov A.E., Tonevitsky A.G., Dittrich M., Matsko N.B. // J. Microsc. 2007. V. 226. P. 207--216
  • Efimov A.E., Gnaegi H., Schaller R., Grogger W., Hofer F., Matsko N.B. // Soft Matter. 2012. V. 8. P. 9756--9760
  • Mochalov K.E., Efimov A.E., Bobrovsky A., Agapov I.I., Chistyakov A.A., Oleinikov V., Sukhanova A., Nabiev I. // ACS Nano. 2013. V. 7. N 10. P. 8953--8962
  • Bobrovsky A., Mochalov K., Oleinikov V., Sukhanova A., Prudnikau A., Artemyev M., Shibaev V., Nabiev I. // Adv. Mater. 2012. V. 24. N 46. P. 6216--6222
  • Bobrovsky A., Samokhvalov P., Shibaev V. // Adv. Opt. Mater. 2014. V. 2. P. 1167--1172.
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.