Издателям
Вышедшие номера
Спектры отражения поликристаллов SmS в дальней инфракрасной области
Улашкевич Ю.В.1, Каминский В.В.1, Казанин М.М.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: ulashkev@mail.ru
Поступила в редакцию: 18 апреля 2012 г.
Выставление онлайн: 20 октября 2012 г.

Измерены спектры отражения поликристаллических образцов SmS в дальней инфракрасной области в широком интервале температур (293-80 K). Показана эффективность таких измерений для определения градиента концентрации свободных электронов, что важно для оценки величины термовольтаического эффекта в образце. Работа поддержана грантом РФФИ N 11-08-00583-а, а также фирмой "SmS tenzotherm GmbH".
  • В.В. Каминский, С.М. Соловьев. ФТТ 43, 423 (2001)
  • В.В. Каминский, М.М. Казанин. Письма в ЖТФ 34, 8, 92 (2008)
  • В.В. Каминский, М.М. Казанин, А.Н. Клишин, С.М. Соловьев, А.В. Голубков. ЖТФ 81, 6, 150 (2011)
  • V. Zelezny, J. Petzelt, V.V. Kaminski, M.V. Romanova, A.V. Golubkov. Solid State Commun. 72, 1, 43 (1989)
  • Ю.И. Уханов. Оптические свойства полупроводников. Наука, М. (1977). 368 с
  • Ю.В. Улашкевич, В.В. Каминский, А.В. Голубков. ФТП 43, 324 (2009)
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.