Вышедшие номера
Home » Оптика и спектроскопия » Год 2020, выпуск 1 » Статья стр. 50
<<<>>>
Особенности оптических и энергетических свойств тонких пленок CdSe
DOI: 10.21883/OS.2020.01.48837.215-19
Переводная версия: 10.1134/S0030400X20010105
Ильчук Г.А.1, Петрусь Р.Ю.1, Кашуба А.И.1,2, Семкив И.В.1, Змийовська Э.О.1
1Национальный университет "Львовская политехника", Львов, Украина
2Львовский национальный университет им. Ивана Франко, Львов, Украина
Email: ilchukg@gmail.com
Выставление онлайн: 20 декабря 2019 г.
PDF версия
Представлены результаты экспериментальных и теоретических исследований оптических и энергетических свойств тонких пленок CdSе, полученных методом квазизамкнутого объема. Приведены методика синтеза, результаты структурных и оптических исследований тонких пленок CdSе, осажденных на поверхности кварцевой подложки марки КВ (ГОСТ 15130-86). Качество пленок анализируется с использованием методики рентгеновской дифракции, энергодисперсионного анализа и сканирующей электронной микроскопии. В рамках метода псевдопотенциала теоретически изучена динамика изменения параметров электронной подсистемы пленки CdSе. Установлен прямозонный характер запрещенной щели пленки. На основе плотности состояний установлен генезис зоны проводимости и валентной зоны. С использованием соотношения Крамерса-Кронига получены спектры оптических диэлектрических функций, отражения, показателя преломления и экстинкции, которые удовлетворительно коррелируют с полученными экспериментальными данными. Ключевые слова: тонкая пленка, электронный энергетический спектр, плотность состояний, оптические функции, запрещенная зона, интерференция.
  1. Zhang Y., Li P., Lau W.M., Gao Y., Zi J., Zheng Z. // Mater. Chem. Phys. 2014. V. 145. P. 441. doi 10.1016/j.matchemphys.2014.02.033
  2. Al-Kotb M.S., Al-Waheidi J.Z., Kotkata M.F. // Superlattices Microstruct. 2014. V. 69. P. 149. doi 10.1016/j.spmi.2014.02.007
  3. Wang X., Li R., Fan D. // Nanoscale Res. Lett. 2011. V. 6. P. 614. doi 10.1186/1556-276X-6-614
  4. Devadason S., Muhamad M.R. // Phys. B Condens. Matter. 2007. V. 393. P. 125. doi 10.1016/j.physb.2006.12.073
  5. Mahawela P., Jeedigunta S., Vakkalanka S., Ferekides C.S., Morel D.L. // Thin Solid Films. 2005. V. 480--481. P. 466. doi 10.1016/j.tsf.2004.11.066
  6. Park Y.M., Andre R., Kasprzak J., Dang L.S., Bellet-Amalric E. // Appl. Surf. Sci. 2007. V. 253. P. 6946. doi 10.1016/j.apsusc.2007.02.012
  7. Shyju T.S., Anandhi S., Indirajith R., Gopalakrishnan R. // J. Cryst. Growth. 2011. V. 337. P. 38. doi 10.1016/j.jcrysgro.2011.09.051
  8. Larramendi E.M., Karla Gutierrez Z.-B., O. de Melo, Woggon U., Schikora D., Lischka K. // J. Cryst. Growth. 2010. V. 312. P. 1807. doi 10.1063/1.3374706
  9. Бубнов Ю.З., Лерье М.С., Старос Ф.Г., Филаретов Г.А.  Вакуумное нанесение пленок в квазизамкнутом объеме, М.: Советское Радио, 1975
  10. Бойко Б.Т., Марунько С.В., Панчеха П.А., Полоцкий В.А. // Изв. вузов. Физика. 1984. N 1. C. 108--110
  11. Калинкин И.П. Эпитаксиальные пленки соединений А2В6. Л.: ЛГУ, 1978
  12. Il'Chuk G.A., Kurilo I.V., Kus'nezh V.V., Petrus R.Y., Kogut I.T., Stan'ko T.N. // Inorg. Mater. 2013. V. 49. P. 329. doi 10.1134/S0020168513030059
  13. Il'chuk G.A., Kurilo I.V., Petrus R.Y., Kus'nezh V.V. // Inorg. Mater. 2014. V. 50. P. 559. doi 10.1134/S0020168514060077
  14. Ilchuk H.A., Petrus R.Y., Kashuba A.I., Semkiv I.V., Zmiiovska E.O. // Nanosistemi, Nanomater., Nanotehnologii. 2018. V. 16. P. 519
  15. Larramendi E.M., Karla Gutierrez Z.-B., O. de Melo, Woggon U., Schikora D., Lischka K. // J. Cryst. Growth. 2010. V. 312. P. 1807. doi 10.1063/1.3374706
  16. Ivashchenko M.M., Opanasyuk A.S., Perekrestov V.I., Kosyak V.V., Gnatenko Y.P., Kolomiets V.M. // Vacuum. 2015. V. 119. P. 81. doi 10.1016/j.vacuum.2015.04.036
  17. Baines T. Zoppi G., Bowen L., Shalvey T.P., Mariotti S., Durose K., Major J.D. // Sol. Energy Mater. Sol. Cells. 2018. V. 180. P. 196. doi 10.1016/j.solmat.2018.03.010
  18. Yong-Nian Xu, Ching W.Y. // Phys. Rev. B. 1993. V. 48. P. 4335. doi 10.1103/PhysRevB.48.4335
  19. Hopfield J.J. // J. Appl. Phys. 1961. V. 32. P. 2277. doi 10.1063/1.1777059
  20. Bergstresser T.K., Cohen M.L. // Phys. Rev. 1967. V. 164. P. 1069. doi 10.1103/PhysRev.164.1069
  21. Zakharov O., Rubio A., Blase X., Cohen M.L., Louie S.G. // Phys. Rev. B. 1994. V. 50. P. 10780. doi 10.1103/PhysRevB.50.10780
  22. STOE \& Cie GmbH, WinXPOW 3.03, Powder Diffraction Software Package, Darmstadt, Germany, 2010
  23. Brus V.V., Solovan M.N., Maistruk E.V., Kozyarskii I.P., Maryanchuk P.D., Ulyanytsky K.S., Rappich J. // Phys. Solid State. 2014. V. 56. P. 1947. doi 10.1134/S1063783414100072
  24. Khrypunov G.S., Kopach G.I., Dobrozhan A.I., Mygushchenko R.P., Kropachek O.V., Lyubov V.M. // Funct. Mater. 2019. V. 26. P. 23. doi 10.15407/fm26.01.23
  25. Ninomiya S., Adachi S. // J. Appl. Phys. 1995. V. 78. P. 4681. doi 10.1063/1.359815
  26. Vanderbilt D. // Phys. Rev. B. 1990. V. 41. P. 7892. doi 10.1103/PhysRevB.41.7892
  27. Perdew J.P., Burke K., Ernzerhof M. // Phys. Rev. Lett. 1996. V. 77. P. 3865. doi 10.1103/PhysRevLett.77.3865
  28. Monkhorst H.J., Pack J.D. // Phys. Rev. B. 1976. V. 13. P. 5188. doi 10.1103/PhysRevB.13.5188
  29. Schlegel H.B. // J. Comp. Chem. 1982. V. 3. P. 214. doi 10.1002/jcc.540030212
  30. Petrus R.Yu., Ilchuk H.A., Sklyarchuk V.M., Kashuba A.I., Semkiv I.V., Zmiiovska E.O. // J. Nano- and Electronic Physics. 2018. V. 10. P. 06042. doi 10.21272/jnep.10(6).06042
  31. Velumani S., Mathew X., Sebastian P.J., Narayandass Sa.K., Mangalaraj D. // Solar Energy Materials and Solar Cells. 2003. V. 76. P. 347. doi 10.1016/S0927-0248(02)00287-8
  32. Kashuba A.I., Piasecki M., Bovgyra O.V., Stadnyk V.Yo., Demchenko P., Fedorchuk A., Franiv A.V., Andriyevsky B. // Acta Physica Polonica A. 2018. V. 133. P. 68. doi 10.12693/APhysPolA.133.68
  33. Kashuba A., Andriyevskyy B., Semkiv I., Andriyevska L., Petrus R., Zmiiovska E., Popovych D. // J. Nano- and Electronic Physics. 2018. V. 10. P. 06025. doi 10.21272/jnep.10(6).06025
  34. Petrus R.Yu., Il'chuk H.A., Kashuba A.I., Semkiv I.V., Zmiiovska E.O. // Opt. and Spectrosc. 2019. V. 126. P. 220. doi 10.1134/S0030400X19030160
  35. Gajdos M., Hummer K., Kresse G., Furthmuller J., Bechstedt F. // Phys. Rev. B. 2006. V. 73. P. 045112. doi 10.1103/PhysRevB.73.045112
  36. Giannozzi P., Baroni S., Bonini N., Calandra M., Car R., Cavazzoni C., Ceresoli D., Chiarotti G.L., Cococcioni M., Dabo I., DalCorso A., Fabris S., Fratesi G., S. de Gironcoli, Gebauer R., Gerstmann U., Gougoussis C., Kokalj A., Lazzeri M., Martin-Samos L., Marzari N., Mauri F., Mazzarello R., Paolini S., Pasquarello A., Paulatto L., Sbraccia C., Scandolo S., Sclauzero G., Seitsonen A.P., Smogunov A., Umari P., Wentzcovitch R.M. // J. Phys.: Condens Matter. 2009. V. 21. P. 395502. doi 10.1088/0953-8984/21/39/395502

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme