Вышедшие номера
Home » Оптика и спектроскопия » Год 2020, выпуск 2 » Статья стр. 211
<<<>>>
Люминесценция дефектов F-типа и их термическая стабильность в сапфире, облученном импульсными ионными пучками
DOI: 10.21883/OS.2020.02.48962.244-19
Переводная версия: 10.1134/S0030400X20020022
The work was supported by Minobrnauki initiative research project № 16.5186.2017/8.9 and Act 211 Government of the Russian Federation, contract no. 02.A03.21.0006.
Ананченко Д.В.1, Никифоров С.В.1, Рамазанова Г.Р.1, Баталов Р.И.2, Баязитов Р.М.2, Новиков Г.А.2
1Уральский федеральный университет им. первого Президента России Б.Н. Ельцина, Екатеринбург, Россия
2Казанский физико-технический институт им. Е.К. Завойского, ФИЦ Казанский научный центр РАН, Казань, Россия
Email: d.v.ananchenko@urfu.ru, s.v.nikiforov@urfu.ru, ramazanova_guzalliia@mail.ru, batalov@kfti.knc.ru, bayaz@kfti.knc.ru, h.novikoff@kfti.knc.ru
Выставление онлайн: 20 января 2020 г.
PDF версия
Исследована люминесценция и термическая стабильность дефектов, образующихся в монокристаллах alpha-Al2O3 после импульсной обработки пучком ионов C+/H+ с энергией 300 keV и длительностью импульса 80 ns. По результатам измерения оптического поглощения, фотолюминесценции и импульсной катодолюминесценции обнаружено, что такой тип воздействия приводит к интенсивной генерации в alpha-Al2O3 как одиночных F- и F+-центров, так и более сложных дефектов (агрегатных центров F2-типа или вакансионно-примесных комплексов). Термическая стабильность дефектов F-типа, образуемых в alpha-Al2O3 при воздействии импульсным ионным пучком, сравнима со стабильностью радиационно-индуцированных дефектов в нейтронно-облученных образцах. Ключевые слова: сапфир, люминесценция, ионное облучение, радиационно-индуцированные дефекты.
  1. Dobrovinskaya E.R., Lytvynov L.A., Pishchik V. Sapphire: Material, Manufacturing, Applications. Springer Science \& Business Media, 2009
  2. Evans B.D. // J. Nuclear Materials. 1995. V. 219. P. 202-223. doi 10.1016/0022-3115(94)00529-X
  3. Lee K.H., Crawford Jr J.H. // Phys. Rev. B. 1979. V. 19. N 6. P. 3217. doi 10.1103/PhysRevB.19.3217
  4. Evans B.D., Stapelbroek M. // Phys. Rev. B. 1978. V. 18. N 12. P. 7089. doi 10.1103/PhysRevB.18.7089
  5. Evans B.D., Pogatshnik G.J., Chen Y. // Nuclear Instruments and Methods in Physics Research. Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. 1994. V. 91. N 1-4. P. 258-262. doi 10.1016/0168-583X(94)96227-8
  6. Itou M., Fujiwara A., Uchino T. // J. Phys. Chem. C. 2009. V. 113. N 49. P. 20949-20957. doi 10.1021/jp908417m
  7. Song Y. et al. // Nuclear Instruments and Methods in Physics Research. Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. 2007. V. 254. N 2. P. 268-272. doi 10.1016/j.nimb.2006.11.058
  8. Tanabe T., Fujiwara M., Miyazaki K. // J. Nuclear Materials. 1996. V. 233. P. 1344-1348. doi 10.1016/S0022-3115(96)00250-4
  9. Al Ghamdi A., Townsend P.D. // Nuclear Instruments and Methods in Physics Research. Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. 1990. V. 46. N 1-4. P. 133-136. doi 10.1016/0168-583X(90)90684-M
  10. Toshima R. et al. // J. Nuclear Science and Technology. 2002. Т. 39. N 1. С. 15-18. doi 10.1080/18811248.2002.9715152
  11. Remnev G.E. et al. // Surface and Coatings Technology. 1997. V. 96. N 1. P. 103-109
  12. Романов И.Г., Царева И.Н. // Письма в ЖТФ. 2001. Т. 27. N 16. С. 65-70. doi 10.1016/S0257-8972(97)00116-3
  13. Ghyngazov S. et al. // Nuclear Instruments and Methods in Physics Research. Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. 2018. V. 434. P. 120-123. doi 10.1016/j.nimb.2018.08.037
  14. Izerrouken M., Benyahia T. // Nuclear Instruments and Methods in Physics Research. Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. 2010. V. 268. N 19. P. 2987-2990. doi 10.1016/j.nimb.2010.05.024
  15. Баталов Р.И., Баязитов Р.М., Новиков Г.А. и др. // Микроэлектроника. 2018. Т. 47. N 5. С. 74-82
  16. Электронный ресурс. Режим доступа: https://global.kyocera.com/prdct/fc/product/pdf/ s\_c\_sapphire.pdf
  17. Chapoulie R. et al. // Phys. Stat. Sol. (a). 1999. V. 171. N 2. P. 613-621. doi 10.1002/(SICI)1521-396X(199902)171: 2<613::AID-PSSA613>3.0.CO;2-%23
  18. Page P.S. et al. // J. Lumin. 2010. V. 130. N 5. P. 882-887. doi 10.1016/j.jlumin.2009.12.029
  19. Nagabhushana K.R. et al. // J. Lumin. 2011. V. 131. N 4. P. 764-767. doi 10.1016/j.jlumin.2010.11.034
  20. Molnar G. et al. // Radiation Measurements. 2001. V. 33. N 5. P. 663-667. doi 10.1016/S1350-4487(01)00080-4
  21. Blasse G., Verweij J.W.M. // Materials Chemistry and Physics. 1990. V. 26. N 2. P. 131-137. doi 10.1016/0254-0584(90)90033-7
  22. Solov'ev S.V., Milman I.I., Syurdo A.I. // Phys. Solid State. 2012. V. 54. N 4. P. 726-734. doi 10.1134/S106378341
  23. Furuno S. et al. // Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. 1997. V. 127. P. 181-185
  24. Perevalov T.V. et al. // J. Appl. Phys. 2010. V. 108. N 1. P. 013501
  25. Lee K.H., Crawford Jr J.H. // Appl. Phys. Lett. 1978. V. 33. N 4. P. 273-275. doi 10.1063/1.90362
  26. Yukihara E.G. et al. // Radiation Measurements. 2003. V. 37. N 6. P. 627-638. doi 10.1016/S1350-4487(03)00077-5
  27. Nikiforov S.V. et al. // Radiation Measurements. 2014. V. 71. P. 74-77. doi 10.1016/j.radmeas.2014.02.010
  28. Ramirez R. et al. // J. Appl. Phys. 2007. V. 101. N 12. P. 123520. doi 10.1063/1.2748729
  29. Vila R. et al. // Solid State Commun. 1991. V. 79. N 4. P. 295-297. doi 10.1016/0038-1098(91)90549-B
  30. Atobe K., Nishimoto N., Nakagawa M. // Phys. Stat. Sol. (a). 1985. V. 89. N 1. P. 155-162. doi 10.1002/pssa.2210890115
  31. Draeger B.G., Summers G.P. // Phys. Rev. B. 1979. V. 19. N 2. P. 1172. doi 10.1103/PhysRevB.19.1172
  32. Popov A.I. et al. // Nuclear Instruments and Methods in Physics Research. Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. 2018. V. 433. P. 93-97. doi 10.1016/j.nimb.2018.07.036

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2025 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme