Оптика и спектроскопия

Авторам

Правила оформления публикаций

Вышедшие номера

2024
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9
2023
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2022
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2021
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2020
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2019
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2018
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12

Спектроскопия тонких пленок оксида цинка вблизи края фундаментального поглощения

DOI: 10.21883/OS.2021.09.51340.1776-21

Аванесян В.Т.¹, Провоторов П.С.¹, Стожаров В.М.¹, Сычев М.М.², Ерузин А.А.

¹Российский государственный педагогический университет им. А.И. Герцена, Санкт-Петербург, Россия Herzen State Pedagogical University of Russia, St. Petersburg, Russia

Herzen State Pedagogical University of Russia, St. Petersburg, Russia

²Санкт-Петербургский государственный технологический институт (Технический университет), Санкт-Петербург, Россия Saint-Petersburg State Institute of Technology (Technical University), St. Petersburg, Russia

Saint-Petersburg State Institute of Technology (Technical University), St. Petersburg, Russia

Поступила в редакцию: 27 декабря 2020 г.

В окончательной редакции: 27 декабря 2020 г.

Принята к печати: 19 мая 2021 г.

Выставление онлайн: 25 июня 2021 г.

PDF версия

Абстракт
Литература
Статистика просмотров

Представлены результаты исследования спектров оптического поглощения в тонких пленках оксида цинка ZnO, полученных методом реактивного катодного распыления. Наблюдаемое поглощение света в области энергий фотонов, меньших ширины запрещенной зоны, объясняется присутствием в запрещенной зоне хвостов плотности локальных состояний. Определены ширина запрещенной зоны и характеристическая энергия Урбаха. Установлено влияние особенностей структуры и примесного фактора на поведение полученных экспериментальных спектральных зависимостей. Ключевые слова: оксид цинка, ширина запрещенной зоны, модель Тауца, энергия Урбаха.

Jayaraj M.K., Antony A., Ramachandran M. // Bull. Mater. Sci. 2002. V. 25. N 3. P. 227
Granqvist C.G. // Solar Energy Mater and Solar Cells. 2007. V. 91. N 17. P. 1529
Ellmer K., Klein A., Rech B. Transparent Conductive Zinc Oxide: Basics and Applications in Thin Film Solar Cells. Berlin: Springer Series in Materials Science (104). 2008. 38 p
Kon M., Keun P.K., Shigesato Y., Frash P., Akio M., Susuki K. // Jpn. J. Appl. Phys. 2002. V. 41. N 3, 4. P. 6174
Premkumar T., Vidya R. // Mater. Res. Express. 2019. V. 6. N 5. P. 055912
Миркин Л.И. Рентгеноструктурный анализ. Индицирование рентгенограмм: справочное руководство. М.: Наука, 1981. 496 с
Swanson H.E., Fuyat R.K. // Circular of the Bureau of Standards: Standard X-ray Diffraction Powder Patterns. 1953. V. 2. N 539. P. 25
Dinnebier R.E., Billinge S.J.L. Powder Diffraction: Theory and Practice. Cambridge: RSC Publishing, 2008. 582 p
Зайцев С.В., Герасименко Ю.В., Салтыков С.Н., Ховив Д.А., Ховив А.М. // Неорг. матер. 2011. T. 47. N 4. C. 468
Кондрашин В.И. // Изв. вузов. Технические науки. Электроника, измерительная и радиотехника. 2016. T. 38. N 2. C. 93
Садовников С.И., Кожевникова Н.С., Ремпель А.А. // ФТП. 2010. T. 44. N 10. С. 1394
Достанко А.П., Агеев О.А., Голосов Д.А., Завадский С.М., Замбург Е.Г., Вакулов Д.Е., Вакулов З.Е. // ФТП. 2014. T. 48. N 9. С. 1274
Tauc J., Grigorovici R., Vancu A. // Phys. Stat. Sol. 1966. V. 15. N 2. P. 627
Аванесян В.Т., Ракина А.В., Сычев М.М., Васина Е.С. // Oпт. и спектр. 2016. T. 121. N 1. C. 58
Сердобинцев А.А., Веселов А.Г., Кирясова О.А. // ФТП. 2008. T. 42. N 4. C. 496
Urbach F. // Phys. Rev. 1953. V. 92. N 5. P. 1324
Аванесян В.Т., Писковатскова И.В., Стожаров В.М. // ФТП. 2019. T. 53. N 8. C. 1043
Грузинцев А.Н., Волков В.Т., Якимов Е.Е. // ФТП. 2003. T. 37. N 3. C. 275

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель