Оптика и спектроскопия

Авторам

Правила оформления публикаций

Вышедшие номера

2024
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
2023
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2022
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2021
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2020
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2019
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2018
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12

Расчет напряженности электрического поля в интерференционных покрытиях

DOI: 10.21883/OS.2022.11.53786.3630-22

Переводная версия: 10.21883/EOS.2022.11.55112.3630-22

Министерство образования и науки Российской Федерации, FSFR-2020-004

Котликов Е.Н.

¹, Тропин А.Н.

¹Санкт-Петербургский государственный университет аэрокосмического приборостроения, Санкт-Петербург, Россия Saint-Petersburg State University of Aerospace Instrumentation, St. Petersburg, Russia

Saint-Petersburg State University of Aerospace Instrumentation, St. Petersburg, Russia

²Акционерное общество "Научно-исследовательский институт "Гириконд", Санкт-Петербург, Россия JSC "NII "Giricond", Saint-Petersburg, Russia

Email: 216@giricond.ru

Поступила в редакцию: 29 апреля 2022 г.

В окончательной редакции: 24 августа 2022 г.

Принята к печати: 25 августа 2022 г.

Выставление онлайн: 25 октября 2022 г.

PDF версия

Абстракт
Литература
Статистика просмотров

Описана методика расчета электрического поля в интерференционных покрытиях. Методика используется для нахождения областей в структуре покрытия с минимумами напряженности электрического поля. В эти области при проектировании вводятся тонкие поглощающие металлические пленки. Приведены результаты расчета спектров пропускания узкополосных интерференционных фильтров, в структурах которых используются поглощающие металлические пленки. Показано, что такие металлодиэлектрические тонкопленочные структуры блокируют излучение в длинноволновой области спектра. Ключевые слова: амплитуда напряженности электромагнитного поля, узкополосные интерференционные фильтры, спектры, пленки, поглощение, пропускание.

Е.Н. Котликов. Оптич. журн., 88 (6), 45 (2021). DOI: 10.17586/1023-5086-2021-88-06-45-47 [E.N. Kotlikov. J. Opt. Techn., 88 (6), 321 (2021). DOI: 10.1364/JOT.88.000321]
Е.Н. Котликов, А.Н. Тропин. Оптич. журн., 88 (9), 85 (2021). DOI: 10.17586/1023-5086-2021-88-09-85-92 [E.N. Kotlikov, A.N. Tropin. J. Opt. Techn., 88 (9), 543 (2021). DOI: 10.1364/JOT.88.000543]
Е.Н. Котликов. Оптич. журн., 87 (11), 81 (2020). DOI: 10.17586/1023-5086-2020-87-11-81-87 [E.N. Kotlikov. J. Opt. Techn., 87 (11), 693 (2020). DOI: 10.1364/JOT.87.000693]
O. Arnon, P. Baumeister. Appl. Opt., 19 (11), 1853 (1980). DOI: 10.1364/AO.19.001853
B.T. Sullivan, K.L. Byrt. Appl. Opt., 34 (25), 5684 (1995). DOI: 10.1364/AO.34.005684
Ю.В. Троицкий. Многолучевые интерферометры отраженного света (Наука, Новосибирск, 1985)
F. Abeles. Ann. Phys. (Paris), 12 (3), 504 (1948). DOI: 10.1051/anphys/194812030504
W.N. Hansen. J. Opt. Soc. Am., 58 (3), 380 (1968). DOI: 10.1364/JOSA.58.000380
M. Born, E. Wolf. Principles of Optics, 4th rev. ed. (Pergamon Press, 1970)
Mathcad [Электронный ресурс]. URL: https://www.mathcad.com/en/
Справочник по лазерам, т. 1, под ред. А.М. Прохорова (Сов. Радио, Москва, 1978)
Н.А. Борисевич, В.Г. Верещагин, М.А. Валидов. Инфракрасные фильтры (Наука и техника, Минск, 1971)
Е.Н. Котликов, Ю.А. Новикова. Опт. спектр., 120 (5), 867 (2016). DOI: 10.7868/S0030403416050160 [E.N. Kotlikov, Y.A. Novikova. Opt. Spectrosc., 120 (5), 815 (2016). DOI: 10.1134/S0030400X16050167]
Е.Н. Котликов, И.И. Коваленко, Ю.А. Новикова. Инф.-упр. сист., 3 (76), 51 (2015). DOI: 10.15217/issn1684-8853.2015.3.51

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель