Анализ фемтосекундной модификации тонких пленок a-Ge2Sb2Te5 методом XZ-сканирования
Российский научный фонд, 23–29–00977
Будаговский И.А.
1, Кузовков Д.О.
1,2,3, Лазаренко П.И.
2, Смаев М.П.
11Физический институт им. П.Н. Лебедева Российской академии наук, Москва, Россия
2Национальный исследовательский университет "МИЭТ", Зеленоград, Москва, Россия
3ГК "Лазеры и аппаратура", Зеленоград, Москва, Россия
Email: BudagovskyIA@mail.ru
Поступила в редакцию: 11 декабря 2023 г.
В окончательной редакции: 9 января 2024 г.
Принята к печати: 16 января 2024 г.
Выставление онлайн: 2 апреля 2024 г.
Рассмотрена светоиндуцированная модификация тонких халькогенидных пленок Ge2Sb2Te5 с помощью фемтосекундного лазерного излучения в ближнем ИК диапазоне (1030 nm), реализуемая посредством двухкоординатного (XZ) сканирования. При смещении образца вдоль оси пучка изменялись параметры воздействующего излучения вследствие изменения размера облучаемой области, что обеспечивало последовательную смену характерных режимов модификации: от формирования периодических двухфазных поверхностных структур, кристаллизации, возникновения предабляционных структур до абляции. Продемонстрировано, что XZ-сканирование является удобным способом как для определения необходимых для модификации пленки параметров излучения, так и для определения геометрии пучка. Ключевые слова: лазерная модификация, фемтосекундные импульсы, тонкие пленки, аморфные халькогениды, оптическая микроскопия.
- J. Hegedus, S.R. Elliott. Nat. Mater., 7 (5), 399 (2008). DOI: 10.1038/nmat2157
- M. Wuttig, N. Yamada. Nat. Mater., 6 (11), 824 (2007). DOI: 10.1038/nmat2009
- S. Abdollahramezani, O. Hemmatyar, H. Taghinejad, A. Krasnok, Y. Kiarashinejad, M. Zandehshahvar, A. Alu, A. Adibi. Nanophotonics, 9 (5), 1189 (2020). DOI: 10.1515/nanoph-2020-0039
- Q. Wang, E.T.F. Rogers, B. Gholipour, C.-M. Wang, G. Yuan, J. Teng, N.I. Zheludev. Nat. Photonics, 10 (1), 60 (2016). DOI: 10.1038/nphoton.2015.247
- Z. Guo, X. Yang, F. Shen, Q. Zhou, J. Gao, K. Guo. Sci. Rep., 8 (1), 12433 (2018). DOI: 10.1038/s41598-018-30550-2
- С.А. Козюхин, П.И. Лазаренко, А.И. Попов, И.Л. Еременко. Успехи химии, 91 (9), RCR5033 (2022). DOI: 10.1070/RCR5033 [S.A. Kozyukhin, P.I. Lazarenko, A.I. Popov, I.L. Eremenko. Russ. Chem. Rev., 91 (9), RCR5033 (2022). DOI: 10.1070/RCR5033]
- I. Friedrich, V. Weidenhof, S. Lenk, M. Wuttig. Thin Solid Films, 389 (1), 239 (2001). DOI: 10.1016/S0040-6090(01)00891-4
- J. Fu, X. Shen, Y. Xu, G. Wang, Q. Nie, C. Lin, S. Dai, T. Xu, R. Wang. Mater. Lett., 88, 148 (2012). DOI: 10.1016/j.matlet.2012.08.051
- G. D'Arrigo, M. Scuderi, A. Mio, G. Favar., M. Conte, A. Sciuto, M. Buscema, G. Li-Destri, E. Carria, D. Mello, M. Calabretta, A. Sitta, J. Pries, E. Rimini. Mater. Design, 202, 109545 (2021). DOI: 10.1016/j.matdes.2021.109545
- Y. Liu, M.M. Aziz, A. Shalini, C.D. Wright, R.J. Hicken. J. Appl. Phys., 112 (12) (2012). DOI: 10.1063/1.4770359
- A.V. Kiselev, V.V. Ionin, A.A. Burtsev, N.N. Eliseev, V.A. Mikhalevsky, N.A. Arkharova, D.N. Khmelenin, A.A. Lotin. Opt. Laser Technol., 147, 107701 (2022). DOI: 10.1016/j.optlastec.2021.107701
- S.A. Kozyukhin, P.I. Lazarenko, Yu.V. Vorobyov, M.S. Savelyev, A.A. Polokhin, V.B. Glukhenkaya, A.A. Sherchenkov, A.Y. Gerasimenko. Mater. Tech., 107 (3), 307 (2019). DOI: 10.1051/mattech/2019008
- S. Kozyukhin, M. Smayev, V. Sigaev, Yu. Vorobyov, Yu. Zaytseva, A. Sherchenkov, P. Lazarenko. Phys. Status Solidi B, 257 (11), 1900617 (2020). DOI: 10.1002/pssb.201900617
- S. Zabotnov, A. Kolchin, D. Shuleiko, D. Presnov, T. Kaminskaya, P. Lazarenko, V. Glukhenkaya, T. Kunkel, S. Kozyukhin, P. Kashkarov. Micro, 2 (1), 88 (2022). DOI: 10.3390/micro2010005
- K. Zhao, W. Han, Z. Han, X. Zhang, X. Zhang, X. Duan, M. Wang, Y. Yuan, P. Zuo. Nanophotonics, 11 (13), 3101 (2022). DOI: 10.1515/nanoph-2022-0133
- M.P. Smayev, P.I. Lazarenko, I.A. Budagovsky, A.O. Yakubov, V.N. Borisov, Yu.V. Vorobyov, T.S. Kunkel, S.A. Kozyukhin. Opt. Laser Technol., 153, 108212 (2022). DOI: 10.1016/j.optlastec.2022.108212
- T. Kunkel, Yu. Vorobyov, M. Smayev, P. Lazarenko, A. Kolobov, S. Kozyukhin. Appl. Surf. Sci., 624, 157122 (2023). DOI: 10.1016/j.apsusc.2023.157122
- J. Bonse, A. Rosenfeld, J. Kruger. J. Appl. Phys., 106 (10) (2009). DOI: 10.1063/1.3261734
- М.П. Смаев, П.И. Лазаренко, М.Е. Федянина, И.А. Будаговский, А. Рааб, И.В. Сагунова, С.А. Козюхин. Опт. и спектр., 131 (2), 196 (2023). DOI: 10.21883/OS.2023.02.55005.15-23 [M.P. Smayev, P.I. Lazarenko, M.E. Fedyanina, I.A. Budagovsky, A. Raab, I.V. Sagunova, S.A. Kozyukhin. Opt. Spectrosc., 131 (2), 185 (2023). DOI:10.61011/EOS.2023.02.55783.15-23]
- C. Ruiz de Galarreta, S.G.C. Carrillo, Y.Y. Au, E. Gemo, L. Trimby, J. Shields, E. Humphreys, J. Faneca, L. Cai, A. Baldycheva, J. Bertolotti, C.D. Wright. J. Opt., 22 (11), 114001 (2020). DOI: 10.1088/2040-8986/abbb5b
- F. Chen, J.R.V. de Aldana. Las. Photonics Rev., 8 (2), 251 (2014). DOI: 10.1002/lpor.201300025
- Ya.S. Lebedeva, M.P. Smayev, I.A. Budagovsky, M.E. Fedyanina, I.S. Sinev, T.S. Kunkel, A.V. Romashkin, P.A. Smirnov, A.A. Sherchenkov, S.A. Kozyukhin, P.I. Lazarenko. J. Surf. Invest., 17 (Suppl. 1), S339 (2023). DOI: 10.1134/S1027451023070297
- V. Weidenhof, I. Friedrich, S. Ziegler, M. Wuttig. J. Appl. Phys., 89 (6), 3168 (2001). DOI: 10.1063/1.1351868
- H. Shimizu, S. Yada, G. Obara, M. Terakawa. Opt. Express, 22 (15), 17990 (2014). DOI: 10.1364/OE.22.017990
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.