Вышедшие номера
Home » Оптика и спектроскопия » Год 2025, выпуск 4 » Статья стр. 343
<<<>>>
Оптические характеристики тонких пленок ниобата бария-стронция в зависимости от температуры
Исследование выполнено при финансовой поддержке Министерства науки и высшего образования РФ (Государственное задание в сфере научной деятельности. Проект № FENW-2023-0010/ГЗ0110/23-11-ИФ).
Жидель К.М. 1, Павленко А.В. 1,2
1Научно-исследовательский институт физики Южного федерального университета, Ростов-на-Дону, Россия
2Федеральный исследовательский центр Южный научный центр РАН, Ростов-на-Дону, Россия
Email: karinagidele@gmail.com
Поступила в редакцию: 24 октября 2024 г.
В окончательной редакции: 24 октября 2024 г.
Принята к печати: 22 марта 2025 г.
Выставление онлайн: 26 мая 2025 г.
PDF версия
С использованием метода спектрофотометрии в спектральном диапазоне 200-1000 nm и при температурах 299.15-393.15 K проведены исследования оптических свойств монокристаллических тонких пленок Sr0.61Ba0.39Nb2O6 толщиной ~646 nm, синтезированных на подложках MgO (001) методом высокочастотного катодного распыления в атмосфере кислорода. Установлено, что край оптического поглощения в спектрах пропускания Sr0.61Ba0.39Nb2O6/MgO смещается с ростом температуры в длинноволновую область. Рассчитаны дисперсионные зависимости показателя преломления n(λ) и коэффициента экстинкции k(λ) пленки Sr0.61Ba0.39Nb2O6 при фиксированных температурах. Показано, что пленки обладают немного более низкими значениями оптических параметров в сравнении с монокристаллом Sr0.61Ba0.39Nb2O6. Дисперсия n(λ) была интерпретирована в рамках модели индивидуального дипольного осциллятора и аппроксимирована соотношением Коши. Полученные результаты свидетельствуют о стабильности оптических характеристик гетероструктур Sr0.61Ba0.39Nb2O6 на подложках MgO в исследуемом диапазоне длин волн в заданном температурном интервале. Ключевые слова: тонкие пленки, ниобат бария-стронция, SBN, спектр пропускания, край поглощения, энергия Урбаха, ширина запрещенной зоны.
  1. T. Lukasiewicz, M.A. Swirkowicz, J. Dec, W. Hofman, W. Szyrski. J. Cryst. Growth, 310 (7), 1464 (2008). DOI: 10.1016/j.jcrysgro.2007.11.233
  2. M.D. Ewbank, R.R. Neurgaonkar, W.K. Cory, J. Feinberg. J. Appl. Phys., 62 (2), 374 (1987). DOI: 10.1063/1.339807
  3. P.V. Lenzo, E.G. Spencer, A.A. Ballman. Appl. Phys. Lett., 11 (1), 23 (1967). DOI: 10.1063/1.1754944
  4. R.R. Neurgaonkar, W.K. Cory, J.R. Oliver. Ferroelectrics, 51 (1), 3 (1983). DOI: 10.1080/00150198308009045
  5. A.M. Glass. J. Appl. Phys., 40 (12), 4699 (1969). DOI: 10.1063/1.1657277
  6. S. Gupta, A. Paliwal, V. Gupta, M. Tomar. Opt. Laser Technol., 122, 105880 (2020). DOI: 10.1016/j.optlastec.2019.105880
  7. Д.В. Стрюков, Я.Ю. Матяш, А.В. Павленко. ФТТ, 65 (11), 1964 (2023). DOI: 10.61011/OS.2025.04.60529.7251-24 [D.V. Stryukov, Y.Y. Matyash, A.V. Pavlenko. Phys. Solid State, 65 (11), 1881 (2023). DOI: 10.61011/OS.2025.04.60529.7251-24]
  8. В.В. Крутов, А.С. Сигов, А.А. Щука. Российский технологический журнал, 5 (2), 3 (2017)
  9. M. Han, and A. Wang. Opt. Lett., 32 (13), 1800 (2007). DOI: 10.1364/OL.32.001800
  10. E.D. Palik. Handbook of Optical Constants of Solids (Academic Press, Burlington, 1997)
  11. А.В. Павленко, Д.В. Стрюков, Л.И. Ивлева, А.П. Ковтун, К.М. Жидель, П.А. Лыков. ФТТ, 63 (2), 250 (2021). DOI: 10.61011/OS.2025.04.60529.7251-24 [A.V. Pavlenko, D.V. Stryukov, L.I. Ivleva, A.P. Kovtun, K.M. Zhidel, P.A. Lykov. Phys. Solid State, 63, 286 (2021). DOI: 10.1134/S1063783421020219]
  12. R. Swanepoel. J. Рhys. E, 16 (12), 1214 (1983). DOI: 10.1088/0022-3735/16/12/023
  13. J.C. Manifacier, J. Gasiot, J.P. Fillard. J. Рhys. E, 9 (11), 1002 (1976). DOI: 10.1088/0022-37,35/9/11/032
  14. Th. Woike, T. Granzow, U. Dorfler, Ch. Poetsch, M. Wohlecke, R. Pankrath. Phys. Status Solidi (A), 186 (1), R13 (2001). DOI: 10.1002/1521-396X(200107)186:1%3CR13::AID- PSSA999913%3E3.0.CO;2-G
  15. S.H. Wemple, M. DiDomenico. Phys. Rev. B, 3 (4), 1338 (1971). DOI: 10.1103/PhysRevB.3.1338
  16. Ю.С. Кузьминов. Сегнетоэлектрические кристаллы для управления лазерным излучением (Наука, Гл. ред. физ.-мат. лит., М., 1982)
  17. Ю.И. Уханов. Оптические свойства полупроводников (Наука, М., 1977)
  18. F. Urbach. Phys. Rev., 92 (5), 1324 (1953). DOI: 10.1103/PhysRev.92.1324
  19. J. Tauc, R. Grigorovici, A. Vancu. Phys. Status Solidi (B), 15 (2), 627 (1966). DOI: 10.1002/pssb.19660150224
  20. J. Sol?, L. Bausa, D. Jaque. An Introduction to the Optical Spectroscopy of Inorganic Solids (John Wiley\& Sons, 2005)
  21. Я.Ю. Матяш, А.С. Анохин, А.В. Павленко. ФТТ, 64 (11), 1638 (2022). DOI: 10.61011/OS.2025.04.60529.7251-24 [Ya.Yu. Matyash, A.S. Anokhin, A.V. Pavlenko. Phys. Solid State, 11, 1617 (2022). DOI: 10.61011/OS.2025.04.60529.7251-24]
  22. K. Samanta, A.K. Arora, T.R. Ravindran, S. Ganesamoorthy, K. Kitamura, S. Takekawa. Vib. Spectrosc., 62, 273 (2012). DOI: 10.1016/j.vibspec.2012.07.002
  23. R.E. Wilde. J. Raman Spectrosc., 22 (6), 321 (1991). DOI: 10.1002/jrs.1250220604
  24. K.G. Bartlett, L.S. Wall. J. Appl. Phys., 44 (11), 5192 (1973). DOI: 10.1063/1.1662124
  25. E. Amzallag, T.S. Chang, R.H. Pantell, R.S. Feigelson. J. Appl. Phys., 42 (8), 3254 (1971). DOI: 10.1063/1.1660719
  26. S. Gupta, A. Kumar, V. Gupta, M. Tomar. Vacuum, 160, 434 (2019). DOI: 10.1016/j.vacuum.2018.11.057
  27. K. Dorywalski, B. Andriyevsky, C. Cobet, M. Piasecki, I.V. Kityk, N. Esser, T. ukasiewicz, A. Patryn. Opt. Mater., 35 (5), 887 (2013). DOI: 10.1016/j.optmat.2012.10.050
  28. F. Abeles. Optical Properties of Solids (North-Holland Publishing Company, Amsterdam and London, 1972)
  29. D.L. Greenaway, G. Harbeke. Optical Properties and Band Structure of Semiconductors (Pergamon, 1968)
  30. J. Schefer, D. Schaniel, V. Pomjakushin, U. Stuhr, V. Petv ri cek, Th. Woike, M. W?hlecke, M. Imlau. Phys. Rev. B, 74 (13), 134103 (2006). DOI: 10.1103/PhysRevB.74.134103

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2025 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme