Приведены результаты дефектоскопического исследования образцов монокристаллического арсенида галлия. Исследование выполнено методом малоуглового рассеяния света среднего ИК диапазона (lambda=10.6 мкм). Предлагается модель крупномасштабных примесных скоплений в арсениде галлия, которые, по мнению авторов, представляют собой области, насыщенные микровключениями Ga и антиструктурным дефектом Ga As.
В.П. Калинушкин. Тр. ИОФАН. (М.), \bf 4, 3 (1986)
V.V. Voronkov, S.E. Zabolotskiy, V.P. Kalinushkin, D.I. Murin, M.G. Ploppa, V.A. Yuryev. J. Cryst. Growth, \bf 103, 126 (1990)
В.В. Воронков, Г.И. Воронкова, В.П. Калинушкин, Д.И. Мурин, Э.М. Омельяновский, Л.Я. Первова, А.М. Прохоров, В.И. Райхштейн. ФТП, \bf 18, 1363 (1984)
V.P. Kalinushkin, D.I. Murin, E.M. Omeljanovsky et al. Semicond. Sci. Techn., \bf 2, 379 (1987)
В.П. Калинушкин, В.А. Юрьев, Д.И. Мурин. ФТП, \bf 25, 798 (1990)
V.P. Kalinnuskin, V.A. Yuryev, D.I. Murin, M.G. Ploppa. Semicond. Sci. Techn., \bf 7, A255 (1992)
Е.А. Глушков, Н.В. Измайлов, А.А. Литвин и др. Изв. АН СССР. Неорг. матер., \bf 21, 2003 (1985)
В.Т. Бублик, М.Г. Мильвидский, В.Б. Освенский. Изв. вузов. Физика, вып. 1, 7 (1980)
В.Т. Бублик, В.В. Каратаев, Р.С. Кулагин, М.Г. Мильвидский, В.Б. Освенский, О.Г. Столяров, Л.П. Холодный. Кристаллография, \bf 18, 353 (1973)
Yo. Otoki, M. Watanabe, T. Inada, S. Kuma. J. Cryst. Growth., \bf 103, 85(1990)
T. Inada, Yo. Otoki, K. Ohata, S. Taharasako, S. Kuma., J. Cryst. Growth, \bf 96, 327 (1989)
А.Н. Георгобиани, И.М. Тигиняну. ФТП, 22, 3 (1988)
E.R. Weber, M. Kaminska. Proc. V Int. Conf. on Semi-insulating III-V Mater. (ed. by G.Grossmann, L. Ledebo), 111. Bristol: Adam Hilger (1988)
J. Wagner. Phys. Scr. T., 29, 167 (1989)
Zhaoqing Fang, Lei Shan, T.E. Schkesinger, A.G. Milnes. Sol. St. Electron., \bf 35, 405 (1989)
M. Bugajski, K.H. Ko, J. Lagowski, H.S. Gatos. J. Appl. Phys., \bf 65, 596 (1989)
P.W. Yu., D.C. Look, W. Ford. J. Appl. Phys., \bf 62, 2960 (1987)
G.A. Baraff, M. Schluter. Phys. Rev. B, \bf 33, 7340 (1986)
В.П. Калинушкин, В.А. Юрьев, Д.И. Мурин и др. В кн.: VII международная конференция по микроэлектронике "Microelectronics '90". Т. 1, 57. Минск (1990)