"Физика и техника полупроводников"
Издателям
Вышедшие номера
Химический и фазовый состав спиновых светоизлучающих диодов GaMnAs/GaAs/InGaAs
Николичев Д.Е.1, Боряков А.В.1, Зубков С.Ю.1, Крюков Р.Н.1, Дорохин М.В.1, Кудрин А.В.1
1Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского, Нижний Новгород, Россия
Поступила в редакцию: 8 октября 2013 г.
Выставление онлайн: 20 мая 2014 г.

Методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии совместно с ионным профилированием проведен количественный химический анализ структур спиновых светоизлучающих диодов со спин-инжектирующим слоем GaMnAs и квантовой ямой InGaAs. Получено распределение фаз по глубине и выявлены причины их перераспределения. В спин-инжектирующем слое количество антиферромагнитного Mn и ферромагнитного MnAs находится на одном уровне. Усовершенствована методика разделения фаз и контроля правильности определения содержания компонентов.
  • А.Г. Багмут, И.А. Багмут, В.А. Жучков, Г.П. Николайчук, А.Н. Красников. ФИП, 8, 36 (2010)
  • В.Н. Неволин, В.Ю. Фоминский, А.Г. Гнедовец, Р.И. Романов. ЖТФ, 79, 120 (2009)
  • H.S. Kim, Y.J. Cho, K.J. Kong, C.H. Kim, K.B. Chung, J. Park, J.-Y. Kim, J. Yoon, M.-H. Jung, Y. Jo, B. Kim, J.-P. Ahn. Chem. Mater., 21, 1137 (2009)
  • А.В. Огнeв, А.С. Самардак. Вестник ДВО РАН, N 4, 70 (2006)
  • Ю.А. Данилов. Журн. "Вестн. Нижегород. ун-та", N 5, 339 (2010)
  • Б.Н. Звонков, О.В. Вихрова, Ю.А. Данилов, Е.С. Демидов, П.Б. Демина, М.В. Дорохин, Ю.Н. Дроздов, В.В. Подольский, М.В. Сапожников. Оптич. журн., 75, 56 (2008)
  • М.П. Сих. В сб.: Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, / под ред. Д. Бриггса, М.П. Сиха.M. (Мир, М., 1987) c. 203
  • Handbooks of monochromatic XPS spectra. Vol. 1. The elements and native oxides, ed. by B.V. Crist (XPS International Inc., 1999)
  • Handbooks of monochromatic XPS spectra. Vol. 2. Commercially pure binary oxides and a few common carbonates and hydroxides, ed by B.V. Crist (XPS International LLC, 2005)
  • J.L. Hilton, B.D. Schultz, C.J. Palmstrom. J. Appl. Phys., 102, 063 513 (2007)
  • M. Oshima, M. Mizuguchi, K. Ono, H. Akinaga, M. Sugiyama. J. Electron Spectrosc. and Rotated Phenomena, 124, 165 (2002)
  • XPS/AES software. http://www.xpsdata.com/
  • Д.Е. Николичев, А.В. Боряков, С.Ю. Зубков, М.В. Дорохин, А.В. Кудрин, А.В. Здоровейщев, М.Н. Дроздов, С.И. Суродин. Журн. "Вестн. Нижегород. ун-та", N 1, 48 (2013)
  • X. Liu, J.K. Furdyna, J. Phys.: Condens. Matter, 18, R245 (2006)
  • H.W. Nesbitt, D. Banerjee. Amer. Mineralogist, 83, 305 (1998)
  • P.W. Huang, J.H. Huang, C.H. Yen, C.Y. Cheng, F. Xu, H.C. Ku, S.F. Lee. J. Phys.: Condens. Matter, 23, 415 801 (2011)
  • B. Schmid, A. Muller, M. Sing, R. Claessen, J. Wenisch, C. Gould, K. Brunner, L. Molenkamp, W. Drube. J. Phys. Rev. Soc., 78, 075 319 (2008)
  • К.М. Хeрд. УФН, 142, 331 (1984)
  • B. Boucher, R. Buhl, M. Perrin. J. Appl. Phys., 42, 1615 (1971)
  • H.J. Kim, J.B. Lee, Y.-M. Kim, M.-H. Jung, Z. Jagliv cic, P. Umek, J. Dolinv sek. Nanoscale Res Lett., 2, 81 (2007)
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.