"Физика и техника полупроводников"
Издателям
Вышедшие номера
Емкостные измерения в случае сильной зависимости последовательного сопротивления базы диода от приложенного напряжения
Лебедев А.А.1, Давыдов Д.В.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 22 июня 1999 г.
Выставление онлайн: 20 декабря 1999 г.

Проведено исследование эпитаксиально-диффузионных 6H-SiC-диодов с наличием в базе высокоомной прослойки, сопротивление которой изменялось при включении диода в прямом направлении. Показано, что несмотря на отсутствие обычных признаков влияния последовательного сопротивления (независимость емкости от частоты и малая величина емкостной отсечки), емкостные измерения в таких структурах могут быть некорректны.
  • А.А. Лебедев, Н.А. Соболев. ФТП, 16, 1874 (1982)
  • Л.С. Берман, А.А. Лебедев. Емкостная спектроскопия глубоких центров в полупроводниках. (Л., Наука, 1981)
  • О.В. Константинов, О.А. Мерзин. ФТП, 17, 305 (1983)
  • Ю.А. Гольдберг, О.В. Иванова, Т.В. Львова, Б.В. Царенков. ФТП, 17, 1068 (1983)
  • Е.В. Астрова, А.А. Лебедев, А.А. Лебедев. ФТП, 19, 1382 (1985)
  • S. Ortolland, C. Raynald, J.P. Chante, M.L. Locatelli, A.N. Andreev, A.A. Lebedev, M.G. Rastegaeva, A.L. Syrkin, N.S. Savkina, V.E. Chelnokov. J. Appl. Phys., 80, 546 (1996)
  • А.А. Лебедев, М.М. Аникин, М.Г. Растегаева, Н.С. Савкина, В.Е. Челноков. ФТП, 29, 1635 (1995)
  • М.М. Аникин, А.А. Лебедев, А.Л. Сыркин, А.В. Суворов. ФТП, 19, 69 (1985)
  • W. Suttrop, G. Pensl, P. Laning. Appl. Phys., A, 51, 231 (1991)
  • М.М. Аникин, Н.И. Кузнецов, А.А. Лебедев, А.Л. Сыркин, А.М. Стрельчук. ФТП, 24, 1384 (1990)
  • А.И. Вейнгер, Ю.А. Водаков, Ю. Кулев, Г.А. Ломакина, Е.Н. Мохов, В.Г. Одинг, В.И. Соколов. Письма ЖТФ, 6, 1319 (1980)
  • V.S. Balandovich, E.N. Mokhov. Transactions Second Intern. High Temperature Electronics Conference (Charlotte NC, USA, 1994) v. 2. p. 181
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.