Новая структура поверхностно-барьерного сенсора ультрафиолетового излучения на основе CdS
Павелец С.Ю.1, Бобренко Ю.Н.1, Комащенко А.В.1, Шенгелия Т.Е.1
1Институт физики полупроводников Национальной академии наук Украины, Киев, Украина
Поступила в редакцию: 30 июля 2000 г.
Выставление онлайн: 19 апреля 2001 г.
В процессе изготовления сенсора в приповерхностной области CdS выращивался слой высокоомного CdS или ZnSe. Приведены результаты сравнительных исследований известных CdS-сенсоров ультрафиолетового излучения и переходов Cu1.8S-CdS с промежуточными слоями. Слои, встроенные в области пространственного заряда, снижают туннельные диодные токи более чем на 3 порядка величины, при этом сохраняется высокая квантовая эффективность структур в ультрафиолетовой области спектра.
- В.Н. Комащенко, С.Ю. Павелец, Г.А. Федорус. Полупроводниковая техника и микроэлектроника (Киев, Наук. думка, 1980) вып. 32, с. 40
- С.Ю. Павелец, Т.М. Сванидзе, В.П. Тарасенко. УФЖ, 28, 581 (1983)
- С.Ю. Павелец, Т.М. Сванидзе, В.П. Тарасенко. ФТП, 17, 1330 (1983)
- Yu.N. Bobrenko, U.U. Kishyuk, K.U. Kolezhuk, V.N. Komashchenko, S.Yu. Pavelets, T.E. Shengeliya. Sol. Energy Mater. and Solar Cells, 33, 83 (1994)
- Ю.Н. Бобренко, А.М. Павелец, С.Ю. Павелец, В.М. Ткаченко. Письма ЖТФ, 20, 9 (1994)
- И.Б. Мизецкая, Г.С. Олейник, Л.Д. Буденная, В.Н. Томашик, Н.Д. Олейник. Физико-химические основы синтеза монокристаллов полупроводниковых твердых растворов соединений A2B6 (Киев, Наук. думка, 1986)
- А.И. Марченко, Р.И. Марченко, С.Ю. Павелец, Т.М. Сванидзе, В.П. Тарасенко, Г.И. Шереметова. Оптоэлектроника и полупроводниковая техника (Киев, Наук. думка, 1990) вып. 17, с. 85
- Ю.Н. Бобренко, А.М. Павелец, С.Ю. Павелец, В.М. Ткаченко. Оптоэлектроника и полупроводниковая техника (Киев, Наук, думка, 1996) вып. 31, с. 74
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук