Физика и техника полупроводников
Авторам
Вышедшие номера
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Морфология межслоевой поверхности и микро-рамановские спектры в слоистых пленках топологических изоляторов на основе теллурида висмута
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия 
2Университет ИТМО, Санкт-Петербург, Россия
2Университет ИТМО, Санкт-Петербург, Россия
Email: lidia.lukyanova@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 12 декабря 2016 г.
Выставление онлайн: 20 мая 2017 г.
В тонких слоистых пленках n-Bi2Te3 и твердых растворов на основе Bi2Te3 исследованы резонансные микро-рамановские спектры и морфология межслоевой ван-дер-ваальсовой поверхности. Установлено влияние состава, толщины, морфологии поверхности и метода получения пленок на относительную интенсивность рамановских фононов, чувствительных к поверхностным топологическим состояниям фермионов Дирака. DOI: 10.21883/FTP.2017.06.44553.13
- K.M.F. Shahil, M.Z. Hossain, D. Teweldebrhan, A.A. Balandin. Appl. Phys. Let., 95, 153103 (2010)
- Yu.D. Glinka, S. Babakiray, T.A. Johnson, D. Lederman. J. Phys.: Condens. Matter, 27, 052203 (2015)
- Л.Н. Лукьянова, А.Ю. Бибик, В.А. Асеев, О.А. Усов, И.В. Макаренко, В.Н. Петров, Н.В. Никоноров, В.А. Кутасов. ФТТ, 58, 1390 (2016)
- K. Saha, K. Legare, I. Garate. Phys. Rev. Lett., 115, 176405 (2015)
- M.Z. Hasan, C.L. Kane. Rev. Mod. Phys., 82, 3045 (2010)
- D.-X. Qu, Y.S. Hor, J. Xiong, R.J. Cava, N.P. Ong. Science, 329, 821 (2010)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
