Вышедшие номера
Исследование характеристик фоторезисторов на основе гидрохимически осажденных пленок твердого раствора Pb0.902Sn0.098Se
Мухамедзянов Х.Н.1, Марков В.Ф.1, Маскаева Л.Н.1
1Уральский федеральный университет им. первого Президента России Б.Н. Ельцина, Екатеринбург, Россия
Поступила в редакцию: 4 июня 2012 г.
Выставление онлайн: 20 марта 2013 г.

Разработаны экспериментальные образцы фоторезисторов на основе полупроводниковой пленки твердого раствора Pb0.902Sn0.098Se, полученной по технологии послойного осаждения индивидуальных селенидов свинца и олова (II) с последующей термоактивацией. Исследованы структура и морфология тонкопленочных композиций (SnSe-PbSe)2. Изучены температурные зависимости темнового сопротивления, сигнала, шумов и их соотношения, а также частотные и спектральные характеристики фоторезисторов, изготовленных на основе пленок Pb0.902Sn0.098Se, в диапазоне 205-300 K. Определены оптимальные значения напряжения смещения. Показано, что для фоторезисторов на основе Pb0.902Sn0.098Se положение максимума и правой границы фотоответа сдвигается по сравнению с PbSe в длинноволновую область спектра на 0.7 мкм. Полученное при 230 K максимальное значение обнаружительной способности исследованных фоторезисторов (2.0x2.0 мм) составило 9·109 см·Вт-1Гц1/2. Показаны преимущества использования фоторезисторов на основе пленок Pb0.902Sn0.098Se по сравнению с PbSe в спектральном диапазоне 3.0-5.5 мкм.
  1. Р.Ж. Киес, П.В. Крузе, Э.Г. Патли. Фотоприемники видимого и ИК диапазонов (М., Радио и связь, 1985)
  2. Ж. Госсорг. Инфракрасная термография. Основы, техника, применение (М., Мир, 1988)
  3. Б.Н. Формозов. Аэрокосмические фотоприемные устройства видимого и инфракрасного диапазона (СПб., ГУАП, 2002)
  4. Л.Н. Курбатов. Прикл. физика, 3, 5 (1999)
  5. А.М. Юшин. Оптоэлектронные приборы и их зарубежные аналоги. Справочник (М., ИП Радиософт, 2000)
  6. Б.А. Волков, О.А. Панкратов, А.В. Сазонов. ФТТ, 26 (2), 430 (1984)
  7. В.С. Земсков, В.Б. Лазарев. Твердые растворы в полупроводниковых системах. Справочник (М., Наука, 1978)
  8. Н.П. Гавалешко, П.Н. Горлей, В.А. Шендеровский. Узкозонные полупроводники. Получение и физические свойства (Киев, Наук. думка, 1984)
  9. A. Szczerbakow, J. Berger. J. Cryst. Growth, 139 (1, 2), 172 (1994)
  10. А.В. Сазонов. Автореф. канд. дис. (М., 1984)
  11. Х.Н. Мухамедзянов, М.П. Миронов, С.И. Ягодин, Л.Н. Маскаева, В.Ф. Марков. Цветные металлы, 12, 57 (2009)
  12. Н.А. Третьякова, В.Ф. Марков, Л.Н. Маскаева, Х.Н. Мухамедзянов. Конденсированные среды и межфазные границы, 7 (2), 189 (2005)
  13. В.Ф. Марков, М.П. Миронов, С.В. Брежнев, Л.Н. Маскаева. Бутлеровские сообщения, 17 (6), 22 (2000)
  14. Н.А. Третьякова, В.Ф. Марков, М.П. Миронов, В.Ф. Дьяков, Л.Н. Маскаева. Химия и хим. технология, 51 (7), 37 (2008)
  15. М.П. Миронов, А.Ю. Кирсанов, В.Ф. Дьяков, Л.Н. Маскаева, В.Ф. Марков. Бутлеровские сообщения, 19 (3), 45 (2010)
  16. В.Ф. Марков, Х.Н. Мухамедзянов, Л.Н. Маскаева, З.И. Смирнова. ФТП, 45, 1459 (2011)
  17. L. Vegard. Z. Phys., 5, 17 (1921)
  18. ASTM X-ray diffraction date cards, Phyladelphia, 14--159 (1968)
  19. М.П. Миронов, В.Ф. Марков, Л.Н. Маскаева, В.Ф. Дьяков, Р.Д. Мухамедьяров, Х.Н. Мухамедзянов, З.И. Смирнова. Патент РФ N 2357321 (15) МЖГ Н01L21/36. Опубл. 27.05.2009. Бюл. N 15. 4 c
  20. В.В. Тарасов, Ю.Г. Якушенков. Инфракрасные системы смотрящего" типа (М., Логос, 2004)
  21. Я.П. Салий. ФТП, 40 (2), 177 (2006)
  22. В.Ф. Дьяков, М.П. Миронов, Р.Д. Мухамедьяров, Х.Н. Мухамедзянов, В.Ф. Марков, Л.Н. Маскаева. Журн. "Транспорт Урала", 21 (2), 94 (2009)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.