Проведен расчет низкочастотной электрической емкости кристаллов кремния при прыжковой миграции как одиночных электронов, так и биполяронов (пар электронов) по дефектам одного сорта (типа), "стабилизирующим" уровень Ферми в окрестности середины запрещенной энергетической зоны. Рассматриваются кристаллы с двухуровневыми дефектами в трех зарядовых состояниях (+1,0,-1) либо с положительной, либо с отрицательной корреляционной энергией. Показано, что с ростом абсолютной величины внешнего потенциала емкость кремния, содержащего дефекты с положительной корреляционной энергией, увеличивается, а содержащего дефекты с отрицательной корреляционной энергией, --- уменьшается. Впервые записано выражение для дрейфовой и диффузионной компонент плотности тока биполяронов, прыгающих с дефектов в зарядовых состояниях (-1) на дефекты в зарядовых состояниях (+1). PACS: 61.82.Fk, 71.38.Mx, 71.55.Cn, 72.20.Ee
В.В. Козловский. Модифицирование полупроводников пучками протонов (СПб., Наука, 2003)
M. McPherson. Physica B, 344 (1--4), 52 (2004)
В.Н. Брудный, Н.Г. Колин, Л.С. Смирнов. ФТП, 41 (9), 1031 (2007)
P.W. Zukowski, S.B. Kantorow, K. Kiszczak, D. M aczka, A. Rodzik, V.F. Stelmakh, E. Czarnecka-Such. Phys. Status Solidi A, 128 (2), K117 (1991)
В.С. Львов, В.И. Стриха, О.В. Третяк, А.А. Шматов. ФТТ, 31 (11), 206 (1989)
Н.Т. Баграев. ЖЭТФ, 100 (4[10]), 1378 (1991)
R.D. Harris, J.L. Newton, G.D. Watkins. Phys. Rev. B, 36 (2), 1094 (1987)
Б.Н. Мукашев, Х.А. Абдуллин, Ю.В. Горелкинский. УФН, 170 (2), 143 (2000)
И.А. Драбкин, Б.Я. Мойжес. ФТП, 15 (4), 625 (1981)
A.R. Long. Adv. Phys., 31 (5), 553 (1982)
С.П. Ионов. Изв. АН СССР. Сер. физ., 49 (2), 310 (1985)
С.Д. Барановский, В.Г. Карпов. ФТП, 21 (1), 3 (1987)
S.R. Elliott. Adv. Phys., 36 (2), 135 (1987)
M. Pollak. Phys. Status Solidi B, 230 (1), 295 (2002)
P.W. Anderson. Phys. Rev. Lett., 34 (15), 953 (1975)
Д.Р. Хохлов. УФН, 176 (9), 983 (2006)
М.В. Красинькова, Б.Я. Мойжес. ФТП, 24 (11), 1934 (1990)
К.Д. Цэндин, И.А. Барыгин, А.И. Капустин, Б.П. Попов. ЖЭТФ, 132 (4[10]), 902 (2007)
R.A. Ogg. Phys. Rev., 69 (5--6), 243 (1946)
А.А. Ликальтер. УФН, 170 (8), 831 (2000)
Н.А. Поклонский, С.А. Вырко, А.Г. Забродский. ФТП, 41 (11), 1317 (2007)
Н.А. Поклонский, С.А. Вырко, С.Л. Поденок. Статистическая физика полупроводников (М., КомКнига, 2005)
H.J. Hoffmann. Phys. Rev. B, 23 (10), 5603 (1981)
Л.И. Шпинар, И.И. Ясковец. ФТП, 19 (10), 1845 (1985)
Н.А. Поклонский, А.И. Сягло, Г. Бискупски. ФТП, 33 (4), 415 (1999)
Н.А. Поклонский, С.Ю. Лопатин. ФТТ, 40 (10), 1805 (1998)
Н.А. Поклонский, С.Ю. Лопатин, А.Г. Забродский. ФТТ, 42 (3), 432 (2000)
Н.Г. Баграев, А.И. Гусаров, В.А. Машков. ЖЭТФ, 95 (4), 1412 (1989)
J. Singh, K. Shimakawa. Advances in Amorphous Semiconductors (London, CRC Press / Taylor \& Francis, 2003)
N.A. Poklonski, V.F. Stelmakh, V.D. Tkachev, S.V. Voitikov. Phys. Status Solidi B, 88 (2), K165 (1978)
А.Г. Ждан, Н.Ф. Кухарская, Г.В. Чучева. ПТЭ, N 6, 77 (2004)
S.M. Sze, K.K. Ng. Physics of Semiconductor Devices (N.Y., Wiley, 2007)
A. Fujishima, T.N. Rao, D.A. Tryk. J. Photochem. Photobiol. C: Photochem. Rev., 1 (1), 1 (2000)