"Физика и техника полупроводников"
Издателям
Вышедшие номера
Оценка надежности полупроводникового излучателя ИЛПН-134
Журавлева О.В.1, Иванов А.В.1, Курносов В.Д.1, Курносов К.В.1, Романцевич В.И.1, Чернов Р.В.1
1ФГУП НИИ " Полюс" им. М.Ф. Стельмаха, Москва, Россия
Поступила в редакцию: 29 апреля 2009 г.
Выставление онлайн: 17 февраля 2010 г.

Исследована надежность излучателя ИЛПН-134. Предложена методика, позволяющая оценить, какой вклад в общий процесс деградации излучателя ИЛПН-134 вносят по отдельности процессы старения лазерного диода и оптической системы. Определены значения энергии активации деградационных процессов, стандартные отклонения и скорости отказов лазерного диода и оптической системы.
  • S.L. Yellen, A.H. Shepard, R.J. Dalby, et. al. IEEE J. Quant. Electron., 29, 2058 (1993)
  • O. Fujita, Y. Nakano, G. Iwane. IEEE J. Lightwave Technol., 3, 1211 (1985)
  • N. Chand, J.W. Osenbach, T.L. Evanosky, R.B. Comizzoli, W.T. Tsnag. IEEE. J. Quant. Electron., 32, 1606 (1996)
  • J.W. Osenbach, T.L. Evanosky, N. Chand, R.B. Comizzoli, H.W. Krautter. IEEE J. Lightwave Technol., 15, 861 (1997)
  • H.-P. Shiao, C.-Y. Wang, T.-T. Shih, Y.-K. Tu. IEEE Phot. Technol. Lett., 10, 1238 (1998)
  • Y.A. Akulova, G.A. Fish, P.-C. Koh, C.L. Schow, P. Kozodoy, A. Dahl, S. Nakagawa, M. Larson, M. Mack, T. Strand, C. Coldren, E. Hegblom, S. Penniman, T. Wipiejewski, L.A. Coldren. IEEE J. Select. Topics Quant. Electron., 8, 1349 (2002)
  • П.Г. Елисеев, А.А. Кочетков. Квант. электрон., 10, 2118 (1983)
  • H.-J. Yoon, N.-J. Chung, M.-H. Choi, In-S. Park, J. Jeong. IEEE J. Lightwave Technol., 17, 1067 (1999)
  • M. Fukuda. Reliability and Degradation of Semiconductor Lasers and LEDs (Artech House Boston, London, 1991)
  • O. Ueda. Reliability and Degradation of III--V Optical Devices (Artech House Boston, London, 1996)
  • П.Г. Елисеев. Итоги науки и техники. Сер. Электроника, 23, 3 (1989)
  • П.Г. Елисеев, А.А. Кочетков. Итоги науки и техники. Сер. Электроника, 23, 53 (1989)
  • П.Г. Елисеев, А.А. Кочетков. Итоги науки и техники. Сер. Электроника, 23, 95 (1989)
  • O.A. Lavrova, D.J. Blumanthal. IEEE J. Lightwave Technol., 18, 2196 (2000)
  • W.H. Cheng, M.T. Sheen, G.L. Wang, et. al. IEEE J. Lightwave Technol., 19, 1177 (2001)
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.