Исследована надежность излучателя ИЛПН-134. Предложена методика, позволяющая оценить, какой вклад в общий процесс деградации излучателя ИЛПН-134 вносят по отдельности процессы старения лазерного диода и оптической системы. Определены значения энергии активации деградационных процессов, стандартные отклонения и скорости отказов лазерного диода и оптической системы.
S.L. Yellen, A.H. Shepard, R.J. Dalby, et. al. IEEE J. Quant. Electron., 29, 2058 (1993)
O. Fujita, Y. Nakano, G. Iwane. IEEE J. Lightwave Technol., 3, 1211 (1985)
N. Chand, J.W. Osenbach, T.L. Evanosky, R.B. Comizzoli, W.T. Tsnag. IEEE. J. Quant. Electron., 32, 1606 (1996)
J.W. Osenbach, T.L. Evanosky, N. Chand, R.B. Comizzoli, H.W. Krautter. IEEE J. Lightwave Technol., 15, 861 (1997)
H.-P. Shiao, C.-Y. Wang, T.-T. Shih, Y.-K. Tu. IEEE Phot. Technol. Lett., 10, 1238 (1998)
Y.A. Akulova, G.A. Fish, P.-C. Koh, C.L. Schow, P. Kozodoy, A. Dahl, S. Nakagawa, M. Larson, M. Mack, T. Strand, C. Coldren, E. Hegblom, S. Penniman, T. Wipiejewski, L.A. Coldren. IEEE J. Select. Topics Quant. Electron., 8, 1349 (2002)
П.Г. Елисеев, А.А. Кочетков. Квант. электрон., 10, 2118 (1983)
H.-J. Yoon, N.-J. Chung, M.-H. Choi, In-S. Park, J. Jeong. IEEE J. Lightwave Technol., 17, 1067 (1999)
M. Fukuda. Reliability and Degradation of Semiconductor Lasers and LEDs (Artech House Boston, London, 1991)
O. Ueda. Reliability and Degradation of III--V Optical Devices (Artech House Boston, London, 1996)
П.Г. Елисеев. Итоги науки и техники. Сер. Электроника, 23, 3 (1989)
П.Г. Елисеев, А.А. Кочетков. Итоги науки и техники. Сер. Электроника, 23, 53 (1989)
П.Г. Елисеев, А.А. Кочетков. Итоги науки и техники. Сер. Электроника, 23, 95 (1989)
O.A. Lavrova, D.J. Blumanthal. IEEE J. Lightwave Technol., 18, 2196 (2000)
W.H. Cheng, M.T. Sheen, G.L. Wang, et. al. IEEE J. Lightwave Technol., 19, 1177 (2001)