Приведены результаты исследования спектральной плотности шума и ее зависимости от плотности тока в исходных и деградировавших синих светодиодах на основе InGaN/GaN квантоворазмерных структур. Показано, что генерация дефектов в процессе деградации происходит неоднородно и концентрируется вдоль протяженных дефектов, пронизывающих активную область светодиодов. Выяснено, что снижение значений внешней квантовой эффективности в процессе старения вызвано усилением неоднородности протекания тока, приводящим к формированию шунтов и областей локального перегрева. Эти эффекты --- причины, типичного для синих светодиодов, неоднозначно развития деградационного процесса, затрудняющего прогнозирование срока службы светодиодов. В узком диапазоне плотностей тока 10-2-10-1 А/см2, соответствующему развитию излучательной рекомбинации, обнаружен эффект подавления шума.
M.S. Shur, A. Zukauskas. Proc. IEEE Solid-State Lighting: Toward Superior Illumination (2005) v. 93, p. 1691
А.Э. Юнович, П.С. Копьёв. Тез. докл. Междунар. форума по нанотехнологиям (М., Россия, 2008) т. 1, с. 119
M. Georg. Craford Proceeding of First International Conference on White LEDs and Solide State Lighting (2007) v. 1, p. 5
U. Zehnder, A. Weimar, U. Strauss, M. Fehrer, B. Hahn, H.J. Lugauer, V. Harle. J. Cryst. Growth, 230, 497 (2001)
G. Meneghesso, M. Meneghini, E. Zanoni. J. Phys. D: Appl. Phys., 43, 354 007 (2010)
А.Н. Ковалев, Ф.И. Маняхин, В.Е. Кудряшов, А.Н. Туркин, А.Э. Юнович. ФТП, 33, 224 (1999)
M. Meneghini, N. Trivelli, K. Orita, S. Takigava, M. Yuri, T. Tanaka, D. Ueda, E. Zanoni, G. Meneghesso. IEEE Electron. Dev. Lett., 30, 356 (2009)
T. Egawa, H. Ishikawa, M. Umeno. Appl. Phys. Lett., 69, 830 (1996)
Shigetaka Tomiya et al. Phys. Status Solidi A, 200, 139, (2003)
Н.И. Бочкарева, А.А. Ефремов, Ю.Т. Ребане, Р.И. Горбунов, Ю.Г. Шретер. ФТП, 40, 122 (2006)
N.G. Gardner, G.O. Muller, Y.C. Shen, S. Watanabe. Appl. Phys. Lett., 91, 243 506 (2007)
M. Albrecht, T. Schulz, J. Weyher, B. Lucznik, P. Prystawko. Proc. 8th Int. Workshop BIAMS 2006 p. 28
L.K.J. Vandamme. IEEE Trans. Electron. Dev., 41, 2176 (1994)
Г.П. Жигальский. УФН, 173, 465 (2003)
S. Bychikhin, D. Poganya, L.K.J. Vandamme, G. Meneghesso, E. Zanoni. J. Appl. Phys., 97, 123 714 (2005)
T.G.M. Kleinpenning. Physica B, 98, 293 (1980)
M.Yu. Perov, N.V. Baidus, A.V. Belyakov, G.A. Maksimov, A.V. Moryashin, S.M. Nerorkin, L.K.J. Vandamme, A.V. Yakimov, B.N. Zvonkov. Proc. 17th Int. Conf. on noise and fructuations (ICNF, 2003, Czech Republic) p. 393
S.K. Jeon, J.G. Lee, E.H. Park, J.H. Jang, J.G. Lim, S.K. Kim, J.S. Park. Appl. Phys. Lett., 94, 131106 (2009)
M. Meneghini, A. Tazzoli, G. Mura, G. Meneghesso, E. Zanoni. IEEE Trans. Electron. Dev., 57, 108 (2010)
N. Shmidt, A. Besyul'kin, M. Dunaevsky et al. J. Phys.: Condens. Matter, 14, 13 025 (2002)
A.V. Ankudonov, A.I. Basyul'kin, A.G. Kolmakov, et. al. Physica B, 462, 340 (2003)
A.V. Kamanin, A.G. Kolmakov, P.S. Kop'ev, G.A. Onushkin, A.V. Sakharov, N.M. Shmidt, D.S. Sizov, A.A. Sitnikova, A.L. Zakgeim, R.V. Zolotareva, A.S. Usikov. Phys. Status Solidi, 3, 2129 (2006)