"Журнал технической физики"
Издателям
Вышедшие номера
Адсорбционные и электронные свойства тонких пленок никеля на поверхности грани (110) кристалла вольфрама
Магкоев Т.Т., Сонг М., Магомэ Т., Мурата Й.1
1The Institute for Solid State Physics, The University of Tokyo, 7-22-1, Roppongi, Minato-ku, Tokyo 106, Japan
Email: magkoev@osetia.ru
Поступила в редакцию: 23 марта 2004 г.
Выставление онлайн: 19 ноября 2004 г.

В условиях сверхвысокого вакуума методами отражательной инфракрасной абсорбционной спектроскопии (ИКС) и ультрафиолетовой фотоэлектронной спектроскопии (УФЭС) исследованы изменения свойств упорядоченных пленок Ni на поверхности кристалла W (110) при увеличении их толщины от одного до трех моноатомных слоев. Структура пленок соответствует структуре грани (111) кристалла Ni. Метод ИКС применен для исследования колебательных свойств тестовых молекул NO, адсорбированных на поверхности формируемых пленок Ni. В процессе роста толщины пленки происходит весьма заметное видоизменение колебательных и фотоэмиссионных спектров, что указывает на изменение адсорбционных и электронных свойств пленки при увеличении ее толщины от одного до трех моноатомных слоев. Стабилизация ИК и фотоэлектронных спектров при толщине пленки, соответствующей трем моноатомным слоям, позволяет предположить, что завершение формирования основных адсорбционных и электронных свойств пленки происходит при этой толщине пленки. Наряду с этим молекулы NO, адсорбированные на моноатомной пленке, проявляют колебательные особенности, характерные при адсорбции на поверхности массивного кристалла W [110].
  • Handbook of Surface Science. Electronic Structure / Ed. K. Horn, M. Scheffler. Elsevier: North Holland, 2000. 1167 p
  • Growth and Properties of Ultrathin Epitaxial Layers / D.A. King, D.P. Woodruff; Elsevier; Amsterdam. 1997. 893 p
  • Diehl R.D., McGrath R. // J. Phys. Condens. Matter. 1997. Vol. 9. N 6. P. 951--972
  • Kolaczkiewicz J., Bauer E. // Surf. Sci. 1984. Vol. 144. N 2. P. 495--512
  • Schmidthals C., Sander D., Enders A. et al. // Surf. Sci. 1998. Vol. 417. N 2/3. P. 361--371
  • Van der Merwe J.H., Bauer E., Toensing D.L. et al. // Phys. Rev. B. 1994. Vol. 49. N 15. P. 2127--2136
  • Blyholder G. // J. Phys. Chem. 1964. Vol. 68. N 7. P. 2772--2778
  • Morikawa Y., Mortensen J.J., Hammer B. et al. // Surf. Sci. 1997. Vol. 386. N 1. P. 67--72
  • Brown W.A., King D.A. // J. Phys. Chem. B. 2000. Vol. 104. N 7. P. 2578--2595
  • Greenler R.G. // J. Vac. Sci. Technol. 1975. Vol. 12. N 3. P. 1410-1417
  • Магкоев Т.Т., Сонг М. // Поверхность. 1999. N 11. С. 45--50
  • Magkoev T.T., Fukutani K., Song M.-B. et. el. // Surf. Sci. 1996. Vol. 363. N 1--3. P. 281--292
  • Fukutani K., Magkoev T.T., Murata Y. et al. // J. Electr. Spectr. Relat. Phenom. 1998. Vol. 88--91. P. 597--603
  • Chen J.G., Erley W., Ibach H. // Surf. Sci. 1990. Vol. 227. N 1--2. P. 79--89
  • Gland J.L., Sexton B. // Surf. Sci. 1980. Vol. 94. N 2--3. P. 355--368
  • Sander D., Schmidthals C., Enders A. et al. // Phys. Rev. B. 1998. Vol. 57. N 3. P. 1406--1409
  • Tsunematsu H., Aita M., Tanaka A. et al. // J. Electr. Spectr. Relat. Phenom. 1999. Vol. 101/103. P. 281--285
  • Bonzel H.P., Pirug G. // Surf. Sci. 1977. Vol. 62. N 1. P. 45--61
  • Rangelov G., Memmel N., Bertel E. et al. // Surf. Sci. 1991. Vol. 251/252. P. 965--973
  • Большов Л.А., Напартович А.П., Наумовец А.Г. и др. // УФН. 1977. Т. 122. N 7. С. 125--158
  • Eguiluz A.G., Campbell D.A. // Phys. Rev. B. 1985. Vol. 31. N 12. P. 7572--7579
  • Liebsch A. Electronic Excitations at Metal Surfaces. New York; London: Plenum Press. 1997. 336 p
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.