Журнал технической физики

Авторам

Правила оформления публикаций

Вышедшие номера

2024
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2023
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2022
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2021
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2020
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2019
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2018
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2017
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2016
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2015
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2014
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2013
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2012
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2011
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2010
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2009
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2008
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2007
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2006
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2005
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2004
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2003
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2002
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2001
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2000
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1999
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1998
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1997
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1996
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1995
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1994
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1993
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1992
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1991
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1990
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1989
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1988
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12

Размеры областей когерентного рассеяния рентгеновского излучения в тонких пленках SmS и их визуализация

Шаренкова Н.В.¹, Каминский В.В.¹, Петров С.Н.¹

¹Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия Ioffe Institute, St. Petersburg, Russia

Email: Vladimir.Kaminski@mail.ioffe.ru

Поступила в редакцию: 16 декабря 2010 г.

Выставление онлайн: 20 августа 2011 г.

PDF версия

Абстракт
Литература
Статистика просмотров

На тонкой поликристаллической пленке SmS из рентгеновских дифрактограмм (theta-2theta-сканирование, ДРОН-2, Cu K_alpha-излучение) по формуле Селякова-Шеррера с учетом влияния микронапряжений определен характерный размер областей когерентного рассеяния рентгеновского излучения (250±20 Angstrem). С помощью электронного микроскопа получено изображение поверхности этой же пленки, на котором четко видны области с характерными размерами 240 Angstrem. Сделан вывод, что визуально наблюдаются области когерентного рассеяния рентгеновского излучения.

Современная кристаллография / Под ред. Б.К. Вайнштейна. Т. 1. М.: Наука, 1979. 384 с
Голубков А.В., Дидик В.А., Каминский В.В., Скорятина Е.А., Шаренкова Н.В. // ФТТ. 2005. Т. 47. Вып. 7. С. 1192-1194
Дидик В.А., Каминский В.В., Скорятина Е.А., Усачева В.П., Шаренкова Н.В., Голубков А.В. // Письма в ЖТФ. 2006. Т. 32. Вып. 13. С. 1-5
Шаренкова Н.В., Каминский В.В., Романова М.В., Васильев Л.Н., Каменская Г.А. // ФТТ. 2008. Т. 50. Вып. 7. С. 1158-1161
Каминский В.В., Курапов Ю.П., Васильев Л.Н., Романова М.В., Шаренкова Н.В. // ФТТ. 1996. Т. 38. Вып. 3. С. 779-785
Шаренкова Н.В., Каминский В.В., Голубков А.В., Васильев Л.Н., Каменская Г.А. // ФТТ. 2005. Т. 47. Вып. 4. С. 598-602
Горелик С.С., Расторгуев Л.Н., Скаков Ю.А. Рентгенографический и электронографический анализ. М.: Металлургия, 1970. 368 с
Рябов А.В., Рувимов С.С., Сорокин Л.М., Смирнов Б.И., Голубков А.В. // ФТТ. 1979. Т. 21. Вып. 7. С. 1986-1989

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель