Журнал технической физики
Электронная почта:
tp@journals.ioffe.ru
English translations
Журналы
Журнал технической физики
Письма в Журнал технической физики
Физика твердого тела
Физика и техника полупроводников
Оптика и спектроскопия
Поиск
Войти
Журнал технической физики
Описание журнала
Редакционная коллегия
Статистика
Рубрикатор
Переводная версия
Авторам
Правила оформления публикаций
Вышедшие номера
2024
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
2023
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
2022
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
2021
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
2020
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
2019
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
2018
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
2017
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
2016
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
2015
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
2014
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
2013
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
2012
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
2011
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
2010
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
2009
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
2008
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
2007
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
2006
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
2005
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
2004
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
2003
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
2002
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
2001
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
2000
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
1999
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
1998
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
1997
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
1996
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
1995
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
1994
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
1993
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
1992
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
1991
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
1990
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
1989
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
1988
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
Home
»
Журнал технической физики
»
Год 2023, выпуск 7
<<<
>>>
Журнал технической физики, 2023, том 93, выпуск 7
XXVII Международный симпозиум "Нанофизика и наноэлектроника" Н. Новгород, 13--16 марта, 2023 г. o Теоретическая и математическая физика
Горай Л.И., Шаров В.А., Мохов Д.В., Березовская Т.Н., Шубина К.Ю., Пирогов Е.В., Дашков А.C., Буравлев А.Д.
Кремниевые решетки с блеском для мягкого рентгеновского и экстремального ультрафиолетового излучения: влияние формы профиля штриха и случайной шероховатости на дифракционную эффективность
859
Гайкович К.П., Малышев И.В., Реунов Д.Г., Чхало Н.И.
Теория аксиальной томографии на основе обратного преобразования Радона для высокоапертурной мягкой рентгеновской микроскопии
867
Плазма
Самохвалов А.А., Сергушичев К.А., Елисеев С.И., Бронзов Т.П., Большаков Е.П., Гетман Д.В., Смирнов А.А.
Исследование эмиссионного спектра быстрого капиллярного разряда в области "водяного окна"
880
Преображенский Е.И., Водопьянов А.В., Нежданов А.В.
Исследование процесса гидрогенизации одностенных углеродных нанотрубок с помощью индукционно-связанной аргон-водородной плазмы
884
Лопатин А.Я., Лучин В.И., Нечай А.Н., Перекалов А.А., Пестов А.Е., Салащенко Н.Н., Соловьев А.А., Цыбин Н.Н., Чхало Н.И.
Эмиссионные характеристики лазерно-плазменного источника экстремального ультрафиолетового излучения с тонкопленочными мишенями
892
Физическое материаловедение
Ломов А.А., Захаров Д.М., Тарасов М.А., Чекушкин А.М., Татаринцев А.А., Киселёв Д.А., Ильина Т.C., Селезнев А.Е.
Влияние гомобуферного слоя на морфологию, микроструктуру и твердость пленок Al/Si(111)
897
Твердотельная электроника
Кривулин Д.О., Пашенькин И.Ю., Горев Р.В., Юнин П.А., Сапожников M.В., Грунин А.В., Захарова С.А., Леонтьев В.Н.
Влияние радиационного воздействия на магнитные свойства пленок ферромагнетик/IrMn с обменным сдвигом
907
Физика низкоразмерных структур
Бизяев Д.А., Бухараев А.А., Морозова А.С., Нургазизов Н.И., Чукланов А.П.
Использование сканирующей зондовой литографии для формирования планарных микрочастиц с конфигурационной анизотропией
913
Петров Ю.В., Гогина О.А., Вывенко О.Ф., Kovalchuk S., Bolotin K.
Влияние комбинированного ионного и электронного облучения на полосу люминесценции 2 eV в гексагональном нитриде бора
921
Божко С.И., Ксенз А.С., Фокин Д.А., Ионов А.М.
Квантовые эффекты при формировании двойниковой границы в Pb
928
Шапошников Р.А., Гарахин С.А., Дуров К.В., Полковников В.Н., Чхало Н.И.
Исследование свойств многослойных зеркал на основе пары материалов Mo/B
4
C
931
Ильина М.В., Рудык Н.Н., Соболева O.И., Полывянова М.Р., Хубежов С.А., Ильин О.И.
Исследование влияния температуры роста на свойства легированных азотом углеродных нанотрубок для создания устройств нанопьезотроники
936
Полковников В.Н., Чхало Н.И., Шапошников Р.А., Николенко A.Д.
Короткопериодные многослойные зеркала для высокоразрешающего монохроматора многослойное зеркало/кристалл
943
Фотоника
Митрофанов А.В., Фещенко Р.М.
О численном моделировании трековых мембран, используемых в качестве коллиматоров рентгеновского излучения
948
Артюков И.А., Арутюнов Г.П., Драгунов Д.О., Мельник Н.Н., Панэке Д.Х.А., Переведенцева Е.В., Соколова А.В., Соколова В.В.
Методы рентгеновского флуоресцентного микроанализа и спектроскопии комбинационного рассеяния света для исследования гистологических срезов мышечных тканей
953
Волков П.В., Семиков Д.А., Вязанкин О.С., Горюнов А.В., Лукьянов А.Ю., Тертышник А.Д.
Метод детектирования малых колебаний на основе гомодинной демодуляции с тандемным низкокогерентным интерферометром
959
Малышев И.В., Михайленко М.С., Пестов А.Е., Торопов М.Н., Чернышев А.К., Чхало Н.И.
Внеосевой асферический коллектор для экстремальной ультрафиолетовой литографии и мягкой рентгеновской микроскопии
963
Венедиктов И.О., Ковалюк В.В., Ан П.П., Голиков А.Д., Святодух С.С., Гольцман Г.Н.
Исследование направленных ответвителей для реализации квантовых операций над кубитами
968
Седых К.О., Сулеймен Е., Святодух М.И., Подлесный А., Ковалюк В.В., Ан П.П., Каурова Н.С., Флоря И.Н., Лахманский К.Е., Гольцман Г.Н.
Влияние внешнего переменного электрического поля на эффективность сверхпроводникового однофотонного детектора
974
Малышев И.В., Чхало Н.И., Якунин С.Н.
Проект рентгенооптической схемы литографа с динамической маской пропускающего типа и синхротронным источником излучения
980
Радиофизика
Шитов С.В.
Активный сверхпроводящий терагерцовый детектор
988
Ким Т.М., Меренков А.В., Ермаков Ан.Б., Соломатов Л.С., Чичков В.И., Шитов С.В.
Устройства и методы измерения параметров RFTES-болометра
995
Физическая электроника
Гарахин С.А., Лопатин A.Я., Нечай А.Н., Перекалов А.А., Пестов А.Е., Салащенко Н.Н., Цыбин Н.Н., Чхало Н.И.
Дисперсионные элементы зеркального спектрометра на диапазон 7-30 nm
1002
Балашов Ю.Ю., Мягков В.Г., Быкова Л.Е., Волочаев М.Н., Жигалов В.С., Мацынин А.А., Галушка К.А., Бондаренко Г.Н., Комогорцев С.В.
Особенности протекания твердофазных реакций в трехслойной пленочной системе Sn/Fe/Cu
1009
Татарский Д.А., Скороходов Е.В., Гусев С.А.
Визуализация магнитных полей в растровом электронном микроскопе
1014
Чукланов А.П., Морозова А.С., Нургазизов Н.И., Митюшкин Е.О., Жарков Д.К., Леонтьев А.В., Никифоров В.Г.
Прецизионное перемещение апконверсионных наночастиц по поверхности с использованием сканирующей зондовой микроскопии
1019
Логинов Б.А., Блинников Д.Ю., Второва В.C., Кириллова В.В., Ляшко Е.А., Макеев В.С., Первых А.Р., Абросимова Н.Д., Забавичев И.Ю., Пузанов А.С., Волкова Е.В., Тарасова Е.А., Оболенский С.В.
Особенности трансформации микрорельефа структур "кремний на изоляторе" при воздействии фотонных и корпускулярных излучений
1025
Реунов Д.Г., Гусев Н.С., Михайленко М.С., Петрова Д.В., Малышев И.В., Чхало Н.И.
Подложки для мягкой рентгеновской микроскопии на основе Si
3
N
4
мембран
1032
Петрова Д.В., Михайленко М.С., Зорина М.В., Дроздов М.Н., Пестов А.Е., Чхало Н.И.
Нанесение жидкого стекла на подложки оптических элементов и его молекулярный состав
1037
Михайленко М.С., Пестов А.Е., Чернышев А.К., Зорина М.В., Чхало Н.И., Салащенко Н.Н.
Изучение влияния энергии ионов неона на шероховатость поверхности основных срезов монокристаллического кремния при ионном травлении
1046
Михайленко М.С., Пестов А.Е., Чернышев А.К., Чхало Н.И.
Изучение угловых зависимостей скоростей ионно-пучкового распыления металлов для синтеза заготовок фотошаблонов
1051
Физические приборы и методы эксперимента
Приходько К.Е., Дементьева М.М.
Применение просвечивающей электронной микроскопии для исследования функционального наноэлемента
1054
Дедкова А.А., Флоринский И.В., Чернышев А.К.
Использование морфометрических величин при изучении рельефа поверхности рентгенооптических элементов
1059
Учредители
Российская академия наук
Физико-технический институт им. А.Ф.Иоффе Российской академии наук
Издатель
Физико-технический институт им. А.Ф.Иоффе Российской академии наук
© 2024
Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук