Вышедшие номера
Home » Журнал технической физики » Год 2011, выпуск 10 » Статья стр. 114
<<<>>>
Изучение адгезии пленок ниобия на разно-ориентированных поверхностях alpha-Al2O3
Мельников В.В., Еремеев С.В., Кулькова С.Е.1,2
1Институт физики прочности и материаловедения СО РАН, Томск, Россия
2Национальный исследовательский Томский государственный университет, Томск, Россия
Email: melnikov@phys.tsu.ru
Поступила в редакцию: 4 марта 2011 г.
Выставление онлайн: 19 сентября 2011 г.
PDF версия
По методу функционала электронной плотности изучена атомная и электронная структура границ раздела Nb/alpha-Al2O3. Обсуждены структурные и электронные свойства трех поверхностей корунда, а также химическая связь металлических пленок ниобия на разно-ориентированных границах раздела. Установлены особенности электронной структуры для различных поверхностей alpha-Al2O3 и их интерфейсов с ниобием. Проведен анализ взаимосвязи между электронными, геометрическими факторами и механическими свойствами изученных границ раздела. Показано, что адгезия пленок ниобия в значительной степени зависит от типа поверхности оксида.
  1. Finnis M.W. // J. Phys. Condens. Matter. 1996. Vol. 8. P. 5811--5836
  2. Kruse C., Finnis M.W., Lin J.S., Paine M.C., Milman V., Vita A., Gilan J. // Phil. Mag. 1996. Vol. 73. P. 377--383
  3. Zhao G.L., Smith J.R., Raynolds J., Srolovitz D.J. // Interface Sci. 1996. Vol. 3. P. 289--302
  4. Batirev I., Alavi A., Finnis M. // Phys. Rev. Lett. 1999. Vol. 82. P. 1510--1513
  5. Zhang W., Smith J.R. // Phys. Rev. B. 2000. Vol. 61. P. 16 883--16 889
  6. Zhang W., Smith J.R. // Phys. Rev. Lett. 2000. Vol. 85. P. 3225--3228
  7. Zhang W., Smith J.R., Evans A.G. // Acta Mater. 2002. Vol. 50. P. 3803--3816
  8. Feng J., Zhang W., Jiang W. // Phys. Rev. B. 2005. Vol. 72. P. 115 423: 1--11
  9. Verdozzi C., Jennison D., Schultz P., Sears M. // Phys. Rev. Lett. 1999. Vol. 82. P. 799--802
  10. Еремеев С.В., Немирович-Данченко Л.Ю., Кулькова С.Е. // ФТТ. 2008. Т. 50. N 3. С. 523--532
  11. Eremeev S.V., Schmauder S., Hocker S., Kulkova S.E. // Physica B. 2009. Vol. 404. P. 2065--2071
  12. Hohenberg P., Kohn W. // Phys. Rev. 1964. Vol. 136. P. 864--871
  13. Kohn W., Sham L.J. // Phys. Rev. 1965. Vol. 140. P. 1133--1138
  14. Guo J., Ellis D.E., Lam D.J. // Phys. Rev. B. 1992. Vol. 45. P. 13 647--13 656
  15. Sun J., Stirner T., Matthews A. // Surf. Coat. Thech. 2006. Vol. 201. P. 4205--4208
  16. Mason S.E., Iceman C.R., Trainor T.P., Chaka M. // Phys. Rev. B. 2010. Vol. 81. P. 125 423: 1--16
  17. Carrasco J., Gomes J.R.B., Illias F. // Phys. Rev. B. 2004. Vol. 69. P. 064 116: 1--13
  18. Guenard P., Renaud G., Barbier A., Gautier-Soyer M. // Surf. Rev. Lett. 1997. Vol. 5. P. 321--324
  19. Ahn J., Rabalais J.W. // Surf. Sci. 1997. Vol. 388. P. 121--131
  20. Beltran J.I., Munoz M.C. // Phys. Rev. B. 2008. Vol. 78. P. 245 417: 1--14
  21. Batirev I.G., Kleinman L. // Phys. Rev. B. 2001. Vol. 64. P. 033 410: 1--4
  22. Reimer P.M., Zabel H., Flynn C.P., Dura J.A. // Phys. Rev. B. 1992. Vol. 45. P. 11 426--11 429
  23. Cowley R.A., McMorrow D.F., Ward R.C.C., Wells M.R. // Phys. Rev. B. 1993. Vol. 48. P. 14 463--14 471
  24. Kresse G., Hafner J. // Phys. Rev. B. 1993. Vol. 47. P. 558--561
  25. Kresse G., Furthmuller J. // Comput. Mat. Sci. 1996. Vol. 6. P. 15--50
  26. Perdew J.P., Burke K., Ernzerhof M. // Phys. Rev. Lett. 1996. Vol. 77. P. 3865--3868
  27. D'Amour H., Schiferl D., Denner W., Schulz H., Holzapfer W.B. // J. Appl. Phys. 1978. Vol. 49. P. 4411--4416
  28. Кулькова С.Е., Загорская Л.Ю., Шеин И.Р. // Изв. вузов. Физика. 2005. Т. 11. С. 20--34
  29. Batirev I., Alavi A., Finnis M. // Phys. Rev. B. 2000. Vol. 62. P. 4698--4706
  30. Zhao G.L., Smith J.R., Raynolds J., Srolovitz D.J. // Interface Sci. 1996. Vol. 3. P. 289--302
  31. McHale J.M., Navrotsky A., Perrotta A.J. // J. Phys. Chem. B. 1997. Vol. 101. P. 603--613
  32. Saunders V.R., Dovesi R., Roetti C., Orlando R., Zicovich-Wilson C.M., Harrison N.M., Doll K., Civalleri B., Bush I., D'Arco Ph., Llunell M. / CRYSTAL2003 User's Manual. Torino: University of Torino, 2003. 205 p
  33. Mackrodt W.C., Davey R.J., Black S.N., Docherty R.J. // Cryst. Growth. 1987. Vol. 80. P. 441--446

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme