Эффекты локализации тока в мощных биполярных переключателях с микрозатворами при неидеальной связи управляемых элементов
Горбатюк А.В., Грехов И.В., Гусин Д.В.1,2
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
2Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого, Санкт-Петербург, Россия
Email: agor.pulse@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 16 августа 2011 г.
Выставление онлайн: 19 апреля 2012 г.
Проанализировано влияние неидеальных электрических связей управляемых ячеек биполярных переключателей с микрозатворами на возникновение локализации тока на стадии запирания. Для количественного учета сопротивления распределенных электродов вся приборная структура представлена в виде двух параллельных подсистем управляемых ячеек, соединенных через эффективное сопротивление в цепи затвора. При помощи численного моделирования исследованы различные сценарии процесса выключения при неидеальных связях ячеек на примере интегрального тиристора с внешним полевым управлением в трех схемных режимах запирания в зависимости от величины эффективного сопротивления и соотношения рабочих площадей двух подсистем ячеек тиристорого чипа. Проведено сравнение ограничений по предельному коммутируемому току. Для случая малого масштаба неоднородности последовательных сопротивлений цепи затвора предельный выключаемый ток в каскодном режиме и при запирании с помощью источника отрицательного напряжения остается на порядок более высоким по сравнению с режимом короткого замыкания катодных эмиттеров.
- Temple V.A.K. // IEEE Trans. Electron. Devices. 1986. Vol. ED-33. N 10. P. 1609--1618
- Грехов И.В., Костина Л.С., Рожков А.В., Зитта Н.Ф., Матвеев В.И. // ЖТФ. 2008. Т. 78. Вып. 12. С. 78--84
- Gruening H., Zuckerberger A. // Proc. 31st IEEE IAS Annual Meeting IAS'96 (San Diego, USA, 1996) P. 1474--1480
- Li Y., Huang A.Q., Motto K.// IEEE Trans. Power Electronics. 2000. Vol. 15. N 3. P. 561--574
- Грехов И.В., Рожков А.В., Костина Л.С., Зитта Н.Ф., Матвеев В.И., Машовец Д.В. // ЖТФ. 2010. Т. 80. Вып. 1. С. 155--158
- Горбатюк А.В. Динамика и устойчивость быстрых регенеративных процессов в структурах мощных тиристоров. Препринт ФТИ им. А.Ф. Иоффе АН СССР N 962. Л., 1985. 60 с
- Gorbatyuk A.V., Rodin P.B. // Sol. State Electronics. 1992. Vol. 35. N 9. P. 1359--1364
- Горбатюк А.В., Грехов И.В., Гусин Д.В. // ФТП. 2010. Т. 44. Вып. 11. С. 1577--1583
- Liu Y., You B., Huang A.Q. // Sol. State Electronics. 2003. Vol. 47. N 1. P. 1--14
- Lilja K., Gruening H. // Proc. 21st Annual IEEE Power Electron. Specialists Conf. PESC'90 (San Antonio, USA, 1990) P. 398--406
- Gusin D.V., Gorbatyuk A.V., Grekhov I.V. // Proc. 12th International Conf. and Seminar on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices EDM'2011. P. 132--136
- Stanford Technology CAD Home Page. URL: http://www-tcad.stanford.edu/index.html
- Pinto M.R., Rafferty C.S., Dutton R.W. PISCES-II: Poisson and Continuity Equation Solver, Stanford Electronics Laboratory Technical Report. Stanford University: 1984. 144 p
- Caughey D.M., Thomas R.E. // Proc. IEEE. 1967. Vol. 55. P. 2192--2193
- Slotboom J.W. // Sol. State Electronics. 1977. Vol. 20. P. 279--283
- Oetjen J., Jungblut R., Kuhlmann U., Arkenau J., Sittig R. // Sol. State Electronics. 2000. Vol. 44. N 1. P. 117--123
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.