Вышедшие номера
Home » Журнал технической физики » Год 2012, выпуск 7 » Статья стр. 79
<<<>>>
Оптические свойства эпитаксиальных тонких пленок Ba0.8Sr0.2TiO3
Широков В.Б., Головко Ю.И., Мухортов В.М.1
1Федеральный исследовательский центр Южный научный центр РАН, Ростов-на-Дону, Россия
Email: shirokov-vb@rambler.ru
Поступила в редакцию: 27 июня 2011 г.
Выставление онлайн: 19 июня 2012 г.
PDF версия
Исследованы свойства наноразмерных пленок (Ba0.8,Sr0.2)TiO3 на монокристаллических подложках окиси магния. Пленки изготовлены по методу высокочастотного распыления при осаждении по слоевому механизму роста. Измерения параметров решетки выполнены с помощью методов рентгеновской дифракции. Пропускание пленок различной толщины исследовано в диапазоне длин волн 190-1100 nm. При анализе экспериментальных оптических характеристик для определения коэффициента преломления и поглощения в дисперсионной формуле использованы дополнительные, релаксационные слагаемые, отражающие конечное время жизни осциллятора, что позволило более точно провести аппроксимацию экспериментальных данных.
  1. Wessels B.W. // Annu. Rev. Mater. Res. 2007. Vol. 37. P. 659
  2. Im J., Auciello O., Baumann P.K., Streiffer S.K., Kaufman D.Y., Krauss A.R. // Appl. Phys. Lett. 2000. Vol. 76. P. 625
  3. Huang C.-L., Chen Y.-C. // Mater. Sci. Eng. 2003. Vol. A345. P. 106
  4. Synowicki R.A. // Thin Sol. Films. 1998. Vol. 313. P. 394
  5. Chen K.H., Hsu C.C., Su D.C. // Appl. Phys. B: Lasers Opt. 2003. Vol. 77. P. 839
  6. Swanepoel R. // J. Phys. E: J. Sci. Instrum. 1983. Vol. 16. P. 1214
  7. Nenkov M., Pencheva T. // J. Opt. Soc. Am. 1998. Vol. A15. P. 1852
  8. Li S.Z., Yang Y.Q., Liu L., Liu W.C., Wang S.B. // Phys. B. 2008. Vol. 403. P. 2618
  9. Wang D.Y., Li S., Chan H.L.W., Choy C.L. // Appl. Phys. Lett. 2010. Vol. 96. P. 061 905
  10. Aulika I., Pokorny J., Zauls V., Kundzins K., Rutkis M., Petzelt J. // Opt. Mater. 2008. Vol. 30. P. 1017
  11. Мухортов В.М., Маматов А.А., Зеленчук П.А., Головко Ю.И., Бирюков С.В., Масычев С.И. // Нанотехника. 2007. Т. 3. С. 59
  12. Жигалина О.М., Кускова А.Н., Чувилин А.Л., Мухортов В.М., Головко Ю.И. // Поверхность. 2009. Т. 7. С. 55
  13. Park B.H., Gim Y., Fan Y., Jia Q.X., Lu P. // Appl. Phys. Lett. 2000. Vol. 77. P. 2587
  14. Stenzel O. The Physics of Thin Film Optical Spectra. An Introduction. Berlin: Springer, 2005. 276 p
  15. Jundt D.H. // Opt. Letters. 1997. Vol. 22. P. 1553
  16. Erman M., Theeten J.B., Chambon P., Kelso S.M., Aspnes D.E. // J. Appl. Phys. 1984. Vol. 56. P. 2664
  17. Командин Г.А., Волков А.А., Спектор И.Е., Воротилов К.А., Мухортов В.М. // ФТТ. 2009. Т. 51. С. 1280
  18. Ландау Л.Д., Лифшиц Е.М. Электродинамика сплошных сред. М: ГИТТЛ, 1957. 532 с
  19. Cardona M. // Phys. Rev. 1965. Vol. 140. P. A651
  20. Pontes F.M., Leite E.R., Pontes D.S.L., Longo E., Santos E.M.S., Mergulhao S., Pizani P.S., Lanciotti F. Jr., Boschi T.M., Varela J.A. // J. Appl. Phys. 2002. Vol. 91. P. 5972
  21. Wemple S.H., Didomenico M. // Phys. Rev. B. 1971. Vol. 3. P. 1338

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme