Интегральная оценка качества дифракционного изображения в оптической литографии на основе строгого решения задачи дифракции плоской волны на щели
Рудницкий А.С., Сердюк В.М.1
1Институт прикладных физических проблем им. А.Н. Севченко Белорусского государственного университета, Минск, Республика Беларусь
Email: serdyukvm@bsu.by
Поступила в редакцию: 1 ноября 2011 г.
Выставление онлайн: 19 сентября 2012 г.
Предложен метод интегральной оценки качества оптического дифракционного изображения, который использует несколько скалярных параметров, определяемых посредством интегрального сравнения двух функций на поверхности формирования изображения. Первая функция представляет собой реальное распределение плотности энергии электрического поля на данной поверхности и может моделироваться решением соответствующей строгой или приближенной дифракционной задачи формирования изображения, а в качестве второй функции берется требуемое распределение энергии на указанной поверхности. Метод продемонстрирован на примере оценки качества изображений, получаемых при бесконтактной печати с фотошаблона в оптической литографии, где функция изображения вычисляется с помощью известного строгого решения задачи дифракции плоской волны на щели в проводящем экране.
- Броудай И., Мерей Дж. Физические основы микротехнологии. М.: Мир, 1985. C. 249--348
- Levinson H.J. Principles of Lithography. Washington: SPIE Press, 2010. 504 p
- Mack C.A. Fundamental Principles of Optical Lithography: The Science of Microfabrication. London: Wiley, 2007. 534 p
- Lin B.J. Optical Lithography: Here is Why. Bellingham: SPIE Press, 2010. 473 p
- Yeung M.S., Barouch E. // IEEE Electr. Device L. 2000. Vol. 21. N 9. P. 433--435
- Yeung M.S. // IEEE T. Semicond. M. 2000. Vol. 13. N 1. P. 24--33
- Борн М., Вольф Э. Основы оптики. М.: Наука, 1973. 721 с
- Бейтс Р., Мак-Доннелл М. Восстановление и реконструкция изображений. М.: Мир, 1989. 333 c
- Wong A.K., Neureuther A.R. // IEEE T. Semicond. M. 1995. Vol. 8. N 4. P. 419--431
- Lucas K.D., Tanabe H., Strojwas A.J. // J. Opt. Soc. Am. A. 1996. Vol. 13. N 11. P. 2187--2199
- Литвиненко Л.Н., Просвирнин С.Л. Спектральные операторы рассеяния в задачах дифракции волн на плоских экранах. Киев: Наукова думка, 1984. C. 144--174
- Сердюк В.М. // ЖТФ 2005. Т. 75. Вып. 8. С. 113--120
- Rudnitsky A.S., Serdyuk V.M. // Prog. Electromag. Res. 2008. Vol. PIER 86. P. 277--290
- Serdyuk V.M., Titovitsky J.A. // Prog. Electromagn. Res. M. 2010. Vol. 12. P. 205--216
- Physical Properties of Polymers: Handbook. Part IX / Ed. by J.E. Mark. Berlin: Springer, 2007. P. 965--979
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.