Влияние расходимости и когерентности псевдоплоской волны на изображение дефектов
Выставление онлайн: 20 мая 1993 г.
Изучается влияние параметров падающей волны на изображение дефектов в методе плосковолновой топографии. Описаны методы экспериментального определения расходимости волны и даны сравнительные характеристики бездисперсионных схем (n, -n) и (n, -n, n). Показано, что спектральная ширина волны, как и угловая, связанные длиной когерентности, должны учитываться при моделировании изображений дефектов в монокристаллах.
- Meieran E.S. Charact. Cryst. Growth Defects by X-Ray Methods. New York; London: Plenum Press, 1980. P. 1--27
- Крылова Н.О., Ковьев Э.К., Шульпина И.Л. ЖЭТФ. 1983. Т. 53. Вып. 9. С. 1750--1753
- Крылова Н.О., Мелинг В., Шульпина И.Л., Шейхет Э.Г. ФТТ. 1986. Т. 28. Вып. 2. С. 440--446
- Ishida K., Kobayashi Y., Katoh H., Takagi S. Jap. J. Appl. Phys. 1983. Vol. 22. N 3. P. L151--L159
- Ishikawa T., Kikuta S., Kohra K. Jap. J. Appl. Phys. 1985. Vol. 24. N 7. P. L559--L561
- Ishida H., Miyamoto N., Ishikawa T., Kohra K. Z. Natur Forsch. 1982. Vol. 37a. P. 650--659
- Петрашень П.В. Металлофизика. 1988. Т. 10. N 1. С. 18--25
- Indembom V.L., Kaganer V.M. Phys. Stat. Sol. (a). 1985. Vol. 87. P. 253--265
- Каганер В.М., Инденбом В.Л. Кристаллография. 1986. Т. 31. N 1. С. 29--34
- Петрашень П.В., Ингал В.Н., Беляевская Е.А. Тез. II Всесоюз. конф. по межвузовской комплексной программе "Рентген". Ереван, 1987. С. 92--93
- Ishikawa T. Acta Cryst. 1988. Vol. A44. P. 496--499
- Пинскер З.Г. Рентгеновская кристаллооптика. М.: Наука, 1982. С. 79--82
- Malgrange C., Gronkowskii J. Phys. Stat. Sol. (a). 1984. Vol. 85. P. 389--397
- Balibar F., Chuchovskii F.N., Malgrange C. Acta Cryst. 1983. Vol. A39. P. 387--399
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук