Вышедшие номера
Особенности интерференции на границе тонкая металлическая пленка-- диэлектрическое основание
Усанов Д.А.1, Скрипаль А.В.1
1Саратовский национальный исследовательский государственный университет им. Н.Г. Чернышевского, Саратов, Россия
Поступила в редакцию: 10 марта 1993 г.
Выставление онлайн: 19 апреля 1994 г.

Проведен анализ влияния толщины металлической пленки на интерференционную картину на границе металлическая пленка-диэлектрическое основание. Установлена немонотонная зависимость сдвига интерференционных полос на границе металлической пленки от ее толщины. Необходимость учета глубины проникновения волны в металлическую пленку продемонстрирована на примере измерения толщины алюминиевых пленок в диапазоне толщины 160-1200 Angstrem.