Сканирующая туннельная микроскопия фазовых переходов в адсорбированных пленках висмута: система Bi/Si (111)
Бахтизин Р.З.1, Пак,-=SUP=-1-=/SUP=- Ч.1, Хашицуме,-=SUP=-2-=/SUP=- Т.1, Сакурай-=SUP=-2-=/SUP=- Т.1
1Башкирский университет,, Уфа
Поступила в редакцию: 14 июля 1993 г.
Выставление онлайн: 20 июля 1994 г.
Методами сканирующей туннельной микроскопии (СТМ) и дифракции медленных электронов (ДМЭ) исследована реконструкция (sqrt(3)sqrt)R30o, вызванная адсорбцией висмута на атомарно-чистой поверхности Si(111) 7x 7. Впервые получены СТМ изображения системы Bi/Si (111) с атомным разрешением. В пределах симметрии (sqrt(3)sqrt), наблюдавшейся на картинах ДМЭ поверхности кремния, впервые с помощью СТМ удалось обнаружить три отчетливые фазы: монометры, тримеры и структуру типа пчелиных сот, образование которых связано с различной степенью покрытия адсорбатом. При малых покрытиях атомы Bi занимают T4-центры (по DAS-модели Такаянаги) и в этой адсорбционной геометрии alpha-фаза (монометры) стабильно формируется вплоть до покрытия 1/3 монослоя. beta-фаза (тримеры) наблюдалась при монослойном покрытии, причем на СТМ изображениях кластеров висмута удалось разрешить отдельные атомы Bi. При промежуточных покрытиях с помощью СТМ впервые была обнаружена структура типа пчелиных сот, сосуществующая вместе с тримерами. Этот результат свидетельствует о существовании дополнительного нового, зависящего от величины покрытия процесса реконструкции.
- Brillson L.J. Surf. Sci. Rep. 1982. Vol. 2. N 1. P. 123--241
- Persson B.N.J. Surf. Sci. Rep. 1992. Vol. 15. N 1--3. P. 1--135
- Northrup J.E. Phys. Rev. Lett. 1984. Vol. 54. P. 683--686
- Hybertsen M.S., Louie S.C. Phys. Rev. 1988. Vol. B38. N 4. P. 4033--4044
- Ricart J.M., Rubio J., Illas F. Phys. Rev. 1990. Vol. B42. N 4. P. 5212--5220
- Kinoshita T., Kono S., Sagawa T. Phys. Rev. 1986. Vol. B34. N 3. P. 3011--3014
- Huang H., Wei C.M., Li H., Tonner B.P., Tong S.Y. Phys. Rev. Lett. 1989. Vol. 62. P. 559--562
- Park C.-Y., Abukawa T., Kinoshita T. et al. Jap. J. Appl. Phys. 1988. Vol. 27. P. 147--152
- Takahashi T., Nakatani S., Okamoto N. et al. Jap. J. Appl. Phys. 1988. Vol. 27. P. L753--L759
- Chan C.T., Ho K.M. Surf. Sci. 1989. Vol 217. P. 403--409
- Saito Y., Kawazu A., Tominaga G. Surf. Sci. 1981. Vol. 103. N 3. P. 563--575
- Kinoshita T., Kono S., Nagayjshi H. J. Phys. Soc. Jap. 1987. Vol. 56. P. 2511--2517
- Park C.Y., Abukawa T., Higashiyama K., Kono S. Jap. J. Appl. Phys. 1987. Vol. 26. P. L1335--L1337
- Takahashi T., Nakatani S., Ishikawa T., Kikuta S. Surf. Sci. 1987. Vol. 191. N 3. P. L825--L834
- Lander J.J., Morrison J. Surf. Sci. 1964. Vol. 2. N 2. P. 553--562
- Elswijk H.B., Dijkkamp D., van Loenen E.J. Phys. Rev. 1991. Vol. B4. N 3.P. 3802--3809
- Wilson R.J., Chiang S. Phys. Rev. Lett. 1987. Vol. 58. P. 369--372
- Van Loenen E.J., Demuth J.E., Tromp R.M., Hamers R.J. Phys. Rev. Lett. 1987. Vol. 58. P. 373--376
- Kawazu A., Saito Y., Ogiwara N. et al. Surf. Sci. 1979. Vol. 86. N 1. P. 108--109
- Wan K.J., Guo T., Ford W.K., Hermanson J.C. Phys. Rev. 1991. Vol. B44. N 3. P. 3471--3474
- Wan K.J., Guo T., Ford W.K., Hermanson J.C. Surf. Sci. 1992. Vol. 261. N 1. P. 69--87
- Guo T., Atkinson R.E., Ford W.K. Rev. Sci. Instr. 1990. Vol. 611. P. 968--974
- Sakurai T., Hashizume T., Kamiya I. et al. J. Vac.Sci. \& Technol. 19x89. Vol. A7. N 2. P. 1684--1692
- Sakurai T., Hashizume T., Kamiya I. et al. Progress in Surf. Sci. 1990. Vol. 33. N 1. P. 3--89
- Paffett M.T., Campbell C.T., Taylor T.N. J. Vac. Sci. \& Technol. 1985. Vol. A3. N 3. P. 812--816
- Tsukada M., Shima N. J. Phys. Soc. Jap. 1987. Vol. 56. N 4. P. 2875--2883
- Tersoff J., Namann D.R. Phys. Rev. 1985. Vol. B31. N 2. P. 805--812
- Sakurai T., Sakai A., Pickering H.W. Atom-Probe Field Ion Microscopy and Its Applications. New York: Academic Press, 1989. P. 261--263
- La Femina J.P. Surf. Sci. Repts. 1992. Vol. 16. N 4/5. P. 133--261
- Vartensson P., Meyer G., Amer N.M. et al. Phys. Rev. 1990. Vol. B42. N 6. P. 7230--7233
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2025 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
