Проведены теоретические и экспериментальные исследования влияния цезия на эмиссию отрицательных ионов H^- из источника отражательного типа. Показано, что при добавке паров цезия в разряд основной вклад в генерацию ионов H^- вносят процессы, происходящие на цезированной поверхности разрядной камеры.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.