Интерферометрический контроль эллиптических одножильных световодов при непрерывной вытяжке
Ильин В.Н.1
1Институт электроники АН Беларуси,, Минск, Беларусь
Поступила в редакцию: 18 февраля 1994 г.
Выставление онлайн: 20 января 1995 г.
Рассмотрен интерференционный способ контроля протяженных цилиндрических объектов, заключающийся в измерении кривизны поверхности объекта с локальностью, равной единицам или десяткам микрометров и соответствующей периоду предметной интерференционной полосы, сформированной сходящимися на объекте когерентными пучками. Способ позволяет определять любые отклонения формы объекта в поперечном сечении от круглости. Приведены основные аналитические выражения для расчета радиуса кривизны локального участка поверхности объекта.
- Александров В.К., Биенко Ю.Н., Ильин В.Н. Оптико-электронные средства размерного контроля технологических микрообъектов. Минск: Наука и техника, 1988. 240 с
- Лазарев Л.П., Мировицкая С.Д. Контроль геометрических и оптических параметров волокон. М.: Радио и связь, 1988. 280 с
- Presbi H.M. Appl. Opt. 1976. Vol. 15. N 2. P. 492--494
- Ильин В.Н. Измерительная техника. 1991. N 12. С. 35--37
- Ильин В.Н., Рубцов А.Ф. А.С. 1768962 (СССР). Устройство контроля диаметра световодов и оптических волокон. 1992. N 38
- Дорошевич О.А., Ильин В.Н. ЖПС. 1993. Т. 58. N 3--4. С. 329--341
- Буров Ю.Г., Ильин В.Н. Измерительная техника. 1993. N 3. С. 22--24
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук