Журнал технической физики
Авторам
Вышедшие номера
- 2025
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Исследование шумов p+-n-детекторов жестких излучений техникой амплитудного анализа
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия 
Поступила в редакцию: 1 декабря 1998 г.
Выставление онлайн: 20 января 2000 г.
На примере кремниевых p+-n-детекторов ионов показаны возможности изучения шума техникой амплитудного анализа. Предлагается использовать в качестве параметра ток детектора и варьировать его подсветкой образца. По дробовому шуму фототока проводится также калибровка установки. Критериями дробового характера шума служат линейный ход квадрата шума от тока и значение наклона данной зависимости. Показано, что стандартная для амплитудного анализа аппаратура позволяет проводить точное и одновременно экспрессное исследование шума. Для излученных детекторов установлено отсутствие фликер-шума даже при увеличении на порядок величины заряда, встроенного в защитный окисел.
- Ван дер Зил А. Шум: источники, описание, измерение. М.: Сов. радио, 1973. 225 с
- Gillespie A.B. Signal, Noise and Resolution in Nuclear Counter Amplifiers. London: Pergamon Press Ltd., 1953. P. 155
- Tsukuda M. // Nucl. Instr. Meth. 1961. Vol. 14. N 3. P. 241--251
- Вербицкая Е.М., Еремин В.К., Маляренко А.М. и др. // ФТП. 1993. Т. 27. Вып. 11--12. С. 2052--2067
- Eremin V., Ilyashenko I., Malyarenko A. et al. Electrochem. Soc. Ser. High Purity Silicon IV / Ed. C.L. Claeys. Penningtonm, 1996. Vol. 96-13. P. 395--406
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
