Вышедшие номера
Исследование шумов p+-n-детекторов жестких излучений техникой амплитудного анализа
Иванов А.М.1, Строкан Н.Б.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 1 декабря 1998 г.
Выставление онлайн: 20 января 2000 г.

На примере кремниевых p+-n-детекторов ионов показаны возможности изучения шума техникой амплитудного анализа. Предлагается использовать в качестве параметра ток детектора и варьировать его подсветкой образца. По дробовому шуму фототока проводится также калибровка установки. Критериями дробового характера шума служат линейный ход квадрата шума от тока и значение наклона данной зависимости. Показано, что стандартная для амплитудного анализа аппаратура позволяет проводить точное и одновременно экспрессное исследование шума. Для излученных детекторов установлено отсутствие фликер-шума даже при увеличении на порядок величины заряда, встроенного в защитный окисел.