Вышедшие номера
Home » Журнал технической физики » Год 2002, выпуск 7 » Статья стр. 117
<<<>>>
Эрозия поверхности автоэмиттеров под действием низкоэнергетичной ионной бомбардировки
Мазилова Т.И.1, Михайловский И.М.1
1Национальный научный центр "Харьковский физико-технический институт", Харьков, Украина
Поступила в редакцию: 19 марта 2001 г.
Выставление онлайн: 19 июня 2002 г.
PDF версия
Методами полевой ионной и электронной микроскопии исследовалась радиационно-стимулированная эрозия поверхности вольфрамовых автоэмиттеров в условиях низкоэнергетичной ионной бомбардировки. Показано, что изменение эмиссионных характеристик эмиттеров в процессе бомбардировки связано со смещением поверхностных атомов в положения с пониженными значениями координационных чисел и скачкообразным возникновением нановыступов, характеризующихся повышенной локальной напряженностью электрического поля. При полевом испарении нановыступов вскрывались полости, что свидетельствовало о возможности описания такого типа эрозии в терминах блистерообразования. Проанализированы квазистатические механизмы эрозии поверхности и показано, что наноблистеринг может быть связан с абсорбцией гелия в приповерхностных слоях металла.
  1. Дранова Ж.И., Михайловский И.М. // ФТТ. 1970. Т. 12. Вып. 1. С. 132--137
  2. Дранова Ж.И., Михайловский И.М. // ФТТ. 1971. Т. 31. Вып. 5. С. 1108--1111
  3. Cavaille J.Y., Drechsler M. // Rev. Phys. Appl. 1977. Vol. 12. N 10. P. 1631--1640
  4. Cavaille J.Y., Drechsler M. // Surf. Sci. 1978. Vol. 75. P. 342--354
  5. Фурсей Г.Н., Глазанов Д.В., Баскин Л.М. и др. // Вакуумная микроэлектроника. 1997. Т. 26. N 2. С. 89--96
  6. Баскин Л.М., Владимиров Г.Г., Шредник В.Н. // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 1999. N 7. С. 67--71
  7. Мазилова Т.И. // ЖТФ. 2000. Т. 70. Вып. 2. С. 102--105
  8. Knoblauch A., Miller Ch., Kalbizer S. // Nucl. Instrum. and Meth. in Phys. Res. 1998. Vol. B139. P. 20--27
  9. Герасименко В.И., Дранова Ж.И., Михайловский И.М. // ФТТ. 1983. Т. 25. N 8. С. 2456--2461
  10. Miller M.K., Cerezo A., Hetherington M.G., Smith G.D.W. Atom Probe Field Ion Micriscopy. Oxford: Clarendon press, 1996. 509 p
  11. Березняк П.А., Слезов В.В. // РиЭ. 1972. N 2. С. 354--358
  12. Залужный А.Г., Сокурский Ю.Н., Тебус В.Н. Гелий в реакторных материалах. М.: Энергоатомиздат. 1988. 224 с
  13. Распыление твердых тел ионной бомбардировкой. Вып. II / Под ред. Р. Бериша. М.: Мир, 1986. 488 с
  14. Кирсанов В.В., Суворов А.Л., Трушин Ю.В. Процессы образования радиационных дефектов в металлах. М.: Энергоатомиздат, 1985. 272 с
  15. Герасименко В.И. // ФТТ. 1977. Т. 19. N 10. С. 2862--2868
  16. Foiles M., Baskes M.I., Daw M.S. // Phys. Rev. 1986. Vol. B33. N 12. P. 7983--7991
  17. Foiles S.M. // Phys. Rev. 1993. Vol. 48. N 7. P. 4287--4298
  18. Sutton A.P. // Phil. Mag. A. 1991. Vol. 63. N 4. P. 793--818
  19. Герасименко В.И., Мазилова Т.И., Михайловский И.М. // ФММ. 2001. N 4

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme