Журнал технической физики
Авторам
Вышедшие номера
- 2025
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Определение толщин и визуализация ионообменных волноводов в стеклах методом растровой электронной микроскопии
Переводная версия: 10.1134/S1063784219030174 
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия 
Email: Lihachev@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 18 июня 2018 г.
Выставление онлайн: 17 февраля 2019 г.
Методами растровой электронной микроскопии и рентгеноспектрального микроанализа показано формирование в стеклах марки К8 в результате ионного обмена приповерхностного слоя с градиентом концентрации серебра и натрия. В режиме вторичных электронов визуализированы слои, обогащенные ионами серебра, с различной толщиной в зависимости от времени проведения ионного обмена из расплава серебра. Данные по толщине слоя, обогащенного серебром, измеренные методом РЭМ, хорошо коррелируют с расчетом, полученным из уравнения диффузии для серебра в стекле. Используя картирование элементного состава по поперечному сечению стекла, показана зависимость концентрации серебра от глубины диффузии. Присутствие слоя с градиентом концентрации серебра приводит к формированию градиентного волновода. Обнаружены дискретные пики на профилях концентрации серебра, обусловленные особенностями взаимной диффузии ионов натрия и серебра в стеклах.
- Sakamaki Y., Shikama K., Ikuma Y., Suzuki K. // Opt. Express. 2017. Vol. 25. N 17. P. 19946-19954
- Zhou J., Du Q., Xu P., Zhao Y., Lin R., Wu Y., Zhang P., Zhang W., Shen X. // IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron. 2018. Vol. 24. N 4
- Wijaya E., Lenaerts C., Maricot S., Hastanin J., Habraken S., Vilcot J.-P., Boukherroub R., Szunerits S. // Current Opinion Sol. Stat. Mater. Sci. 2011. Vol. 15. N 5. P. 208-224
- Tervonen A., West B.R., Honkanen S. // Opt. Eng. 2011. Vol. 50. P. 071107
- Образцов П.А., Нащекин А.В., Никоноров Н.В., Сидоров А.И., Панфилова А.В., Брунков П.Н. // ФТТ. 2013. T. 55. Bып. 6. C. 1180-1186
- Егоров В.И., Нащекин А.В., Образцов П.А., Сидоров А.И., Брунков П.Н. // Оптич. журн. 2013. T. 80. N 3. C. 61-67
- Журихина B.B., Петров М.И., Соколов К.С., Шустова О.В. // ЖТФ. 2010. T. 80. Bып. 10. C. 58-63
- Подвязный A.A., Свистунов Д.В. // Письма в ЖТФ. 2003. T. 29. Bып. 11. C. 35-40
- Blondeau J.-P., Veron O. // Opt. Mat. 2011. Vol. 34. N 1. P. 278-286
- Таблицы физических величин / Справочник под ред. И.К. Кикоина. M.: Атомиздат, 1976
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
