Вышедшие номера
Определение толщин и визуализация ионообменных волноводов в стеклах методом растровой электронной микроскопии
Переводная версия: 10.1134/S1063784219030174
Лихачев А.И.1, Нащекин А.Н.1, Соколов Р.В.1, Конников С.Г.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: Lihachev@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 18 июня 2018 г.
Выставление онлайн: 17 февраля 2019 г.

Методами растровой электронной микроскопии и рентгеноспектрального микроанализа показано формирование в стеклах марки К8 в результате ионного обмена приповерхностного слоя с градиентом концентрации серебра и натрия. В режиме вторичных электронов визуализированы слои, обогащенные ионами серебра, с различной толщиной в зависимости от времени проведения ионного обмена из расплава серебра. Данные по толщине слоя, обогащенного серебром, измеренные методом РЭМ, хорошо коррелируют с расчетом, полученным из уравнения диффузии для серебра в стекле. Используя картирование элементного состава по поперечному сечению стекла, показана зависимость концентрации серебра от глубины диффузии. Присутствие слоя с градиентом концентрации серебра приводит к формированию градиентного волновода. Обнаружены дискретные пики на профилях концентрации серебра, обусловленные особенностями взаимной диффузии ионов натрия и серебра в стеклах.