Вышедшие номера
Home » Журнал технической физики » Год 2019, выпуск 10 » Статья стр. 1556
<<<>>>
Моделирование плазмы короткодугового ксенонового разряда сверхвысокого давления
DOI: 10.21883/JTF.2019.10.48171.103-19
Переводная версия: 10.1134/S1063784219100207
Тимофеев Н.А.1, Сухомлинов В.С.1, Zissis G.2, Мухараева И.Ю.1, Михайлов Д.В.1, Dupuis P.3
1Санкт-Петербургский государственный университет, Санкт-Петербург, Петергоф, Россия
2LAPLACE, 118 route de Narbonne, Toulouse, France
3Kawantech SAS, Toulouse, France
Email: niktimof@yandex.ru
Выставление онлайн: 19 сентября 2019 г.
PDF версия
Исследован короткодуговой разряд высокого (сверхвысокого) давления в ксеноне, использующего катоды из торированного вольфрама. На основе ранее полученных экспериментальных данных, которые указывают на возможную эмиссию материала катода - тория, в разрядный промежуток, сформулирована система уравнений, позволяющая определить напряженность электрического поля, температуру плазмы, концентрации атомов тория и ионов тория и ксенона в плазме. Задача решена для модельного случая разряда между плоскими электродами. Полученные результаты свидетельствует о ключевой роли атомов тория в прикатодной области. Атомы тория определяют ионизационный баланс и другие электрокинетические свойства плазмы. Эмиссия атомов тория снижает температуру плазмы вблизи катода, которая оказывается заметно ниже температуры плазмы вблизи анода, что является новым результатом и находится в соответствии с экспериментальными данными. Также в хорошем согласии находятся другие электрокинетические характеристики плазмы, в частности, концентрация заряженных частиц и напряженность электрического поля. Ключевые слова: короткодуговой ксеноновый разряд, высокое давление, торий, моделирование плазмы.
  1. Рохлин Г.Н. Разрядные источники света. М.: Энергоатомиздат, 1991. 720 с
  2. Lisnyak M., Cunha M., Bauchire J., Benolov M. // J. Appl. Phys. 2007. Vol. 50. N 31. P. 315203
  3. Nakar D., Malul A., Feuermann D., Gordon J.M. // Appl. Opt. 2008. Vol. 47. N 2. P. 224--229. https://doi.org/10.1364/AO.47.000224
  4. Malul A., Nakar D., Feuermann D., Gordon J.M. // Opt. Express. 2007. Vol. 15. N 21. P. 14194--14201
  5. Kohler S., Deissenberger R., Eberhardt K., Erdmann N., Herrmann G., Huber G., Kratz J.V., Nunnemann M., Passler G., Rao P.M., Riegel J., Trautmann N., Wendt K. // Spectrochim. Acta B. 1997. Vol. 52. P. 717--726. DOI: 10.1016/S0584-8547(96)01670-9
  6. Neiger M., Hoppstock R., Kleiner B. US Patent 4937496. 1990
  7. Тимофеев Н.А., Сухомлинов В.С., Зиссис Ж., Мухараева И.Ю., Дюпуа П. // Материалы Х Всероссийской конференции по физической электронике (ФЭ-2018). Махачкала, 2018. С. 19--23
  8. Timofeev N., Sukhomlinov V., Zissis G., Mukharaeva I., Dupuis P. // IEEE. 2019. In press
  9. Bergner A., Scharf F.H., Kuhn G., Ruhrmann C., Hoebing T., Awakowicz P., Mentel J. // Plasma Sources Sci. Т. 2014. Vol. 23. N 5. P. 054005--054017. DOI: 10.1088/0963-0252/23/5/054005
  10. Sillero J.L., Ortega D., Munoz-Serrano E., Casado E. // J. Phys. D: Appl. Phys. 2010. Vol. 43. N 18. P. 185204. https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00629948
  11. Reinelt J., Westermeier M., Ruhrmann C., Bergner A., Awakowicz P., Mentel J. // J. Phys. D: Appl. Phys. 2011. Vol. 44. N 9. 095204. doi.org/10.1088/0022-3727/44/9/095204
  12. Zhu P., Lowke J.J., Morrow R. // J. Phys. D: Appl. Phys. 1992. Vol. 25. N 9. P. 1221--1230
  13. Wendehtorr J., Wohlfahrt H., Simon G. // IEEE Conference Record --- Abstracts. 1999 IEEE International Conference on Plasma Science. 26th IEEE International Conference (Cat. No 99CH36297). Monterrey, CA, USA. 2002. P. 240. DOI: 10.1109/PLASMA.1999.829559
  14. Baeva M., Uhrlandt D., Benilov M.S., Cunha M.D. // Plasma Sources Sci. T. 2013. Vol. 22. P. 065017--065025. doi:10.1088/0963-0252/22/6/065017
  15. Baeva M. // Plasma Chem. Plasma P. 2017. Vol. 37. P. 341--370. DOI: 10.1007/s11090-017-9785-y
  16. Minayeva O.B., Doughty D.A. // Proc of the 59th GEC Conference. Columbus, OH, USA, 2006. P. RR2.00002
  17. Stull D. American Institute of Physics Handbook / Ed. by D.E. Gray. NY.: McGraw Hill, 1972. 2200 p
  18. Waymouth J.F. // IEEE. 1991. Vol. 19. N 6. P. 1003
  19. Корн А.Г., Корн Т.М. Справочник по математике для научных работников и инженеров. М.: Наука, 1973. 832 с
  20. Райзер Ю.П. Физика газового разряда. М.: Наука, 1987. 592 с
  21. Kramida A., Ralchenko Yu., Reader J. NIST ASD Team. NIST Atomic Spectra Database (ver. 5.6.1), 2018. URL: https://physics.nist.gov/asd. National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD. DOI: https://doi.org/10.18434/T4W30F
  22. Ровинский Р.Е. // Светотехника. 1958. N 8. C. 5
  23. Haidar J., Farmer A.J.D. // J. Phys. D: Appl. Phys. 1995. Vol. 28. P. 2089
  24. Gu Z., Xi X., Yang J., Xu J. // Fuel. 2012. Vol. 95. P. 648. DOI: 10.1016/j.fuel.2011.12.051

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2025 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme