Вышедшие номера
Home » Журнал технической физики » Год 2020, выпуск 4 » Статья стр. 678
<<<>>>
Образование множественных сбоев в изделиях электроники под действием протонов и нейтронов
DOI: 10.21883/JTF.2020.04.49095.311-19
Переводная версия: 10.1134/S106378422004009X
Иванов Н.А.1, Лобанов О.В.1, Пашук В.В.1, Прыгунов М.О.2, Сизова К.Г.3
1Петербургский институт ядерной физики им. Б.П. Константинова Национального исследовательского центра Курчатовский институт, Гатчина, Ленинградская обл., Россия
2ООО "Радиоавтоматика", Москва, Россия
3ООО "НПЦ "Гранат", Санкт-Петербург, Россия
Email: ksizova@npcgranat.ru
Поступила в редакцию: 4 сентября 2019 г.
В окончательной редакции: 4 сентября 2019 г.
Принята к печати: 14 октября 2019 г.
Выставление онлайн: 20 марта 2020 г.
PDF версия
Проведено облучение нуклонами на пучках синхроциклотрона Петербургского института ядерной физики (ПИЯФ) интегральных схем памяти типа SRAM с технологической нормой 90 nm и оптоэлектронных изделий: CCD- и CMOS-матриц. Представлены данные по сечениям образования сбоев в интегральных схемах памяти под действием протонов с энергией 1000 MeV и пикселей с большой величиной темнового тока (спайков) в оптоэлектронных изделиях, облученных протонами с энергией 1000 MeV, и нейтронами с энергетическим спектром, подобным спектру атмосферных нейтронов. Основное внимание уделено исследованию возникновения кластеров спайков и множественных сбоев. Установлено, что основная часть спайков и одиночных сбоев находится в составе кластеров. Ключевые слова: спайки, кластеры, множественные сбои, протоны, нейтроны, интегральные схемы, память, оптоэлектронные изделия.
  1. Srour J.R., Hartmann R.A., Kitazaki K.S. // IEEE Trans. Nucl. Sci. 1986. Vol. 33. Dec. P. 1597--1604
  2. Srour J., Marshall C.J., Marshall P.W. // IEEE Trans. Nucl. Sci. 2003. Vol. 50. Jan. P. 653--670
  3. Чумаков А.И. Действие космической радиации на интегральные схемы. М.: Радио и связь, 2004. 320 с
  4. Janni J.F. // Atomic data and nuclear data tables. 1982. Vol. 27. P. 147--529
  5. Messenger R., Burke E.A., Xapsos M.A., Summers G.P., Walters R.J., Jun I., Jordan T. // IEEE Trans. Nucl. Sci. 2003. Vol. 50. Dec. P. 1929--1933
  6. Gereth R.H., Haitz, Smits F.M. // J. Appl. Phys. 1965. Vol. 36. N 12. Dec. P. 3884--3894
  7. Marshall P., Marshall C. // Proc. Short Course NSREC. 1999. P. 51--100
  8. Pickel A.H., Calmfa G.R., Hopkinson C.J. Marshall // IEEE Trans. Nucl. Sci. 2003. Vol. 50. June. P. 671--688
  9. Mavis D.G., Eaton P.H., Sibley M.D., Lacoe R.C., Smith E.J., Avery K.A. // IEEE Trans. Nucl. Sci. 2008. Vol. 55. N 6. Dec. P. 3288--3294
  10. Hopkinson G., Dale C.J., Marshall P.W. // IEEE Trans. Nucl. Sci. 1996. Vol. 43. Apr. P. 614--627
  11. Абросимов Н.К., Воробьев А.С., Иванов Е.М., Михеев Г.Ф., Рябов Г.А., Тверской М.Г, Щербаков О.А. // ВАНТ. Сер. Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. Научно-технический сборник. 2010. Вып. 4. С. 107--112
  12. Иванов Н.А., Лобанов О.В., Пашук В.В. // ПТЭ. 2009. N 6. С. 5--10. [ Ivanov N.A., Lobanov O.V., Pashuk V.V. // Instruments and Experiment. Techniq. 2009. Vol. 52. N 6. P. 763--768.]
  13. Cumming J.B. // Phys. Rev. 1963. Vol. 13. P. 261
  14. Measurement and reporting of alpha particle and terrestrial cosmic ray-induced soft errors in semiconductor devices. JEDEC Standard --- JESD89A, Oct. 2006
  15. Абросимов Н.К., Вайшнене Л.А., Воробьёв А.С., Иванов Е.М., Михеев Г.Ф., Рябов Г.А., Тверской М.Г., Щербаков О.А. // ПТЭ. 2010. N 4. С. 5--12. [ Abrosimov N.K., Vaishnene L.A., Vorob'ev A.S., Ivanov E.M., Mikheev G.F., Ryabov G.A., Tverskoi M.G., Shcherbakov O.A. // Instrum. Experiment. Techniq. 2010. Vol. 53. N 4. P. 469--476.]
  16. Ермаков К.Н., Иванов Н.А., Лобанов О.В., Пашук В.В., Тверской М.Г., Любинский С.М. // Письма в ЖТФ. 2010. Т. 36. Вып. 13. С. 54--60. [ Ermakov K.N., Ivanov N.A., Lobanov O.V., Pashuk V.V., Tverskoy M.G., Lyubinskii S.M. // Tech. Phys. Lett. 2010. Vol. 36. N 7. P. 610--612.]
  17. Иванов Н.А., Лобанов О.В., Митин Е.В., Пашук В.В., Тверской М.Г. // Письма в ЖТФ. 2013. Т. 39. Вып. 17. С. 35--43. [ Ivanov N.A., Lobanov O.V., Mitin E.V., Pashuk V.V., Tverskoy M.G. // Techn. Phys. Lett. 2013. Vol. 39. N 9. P. 711--774]
  18. Иванов Н.А., Пашук В.В., Понежа Т.Е., Тверской М.Г. // ВАНТ. Сер. "Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру", Научно-технический сборник. 2012. Вып. 2 (апрель--июнь). С. 61--63
  19. Ермаков К.Н., Иванов Н.А., Маркелов В.В., Пашук В.В., Тверской М.Г. // ВАНТ. Сер. "Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру". Научно-технический сборник. 2006. Вып. 1--2. С. 54--57.
  20. Sirianni M., Mutchler M., Clampin M., Ford H., Illingworth G., Hartig G., Van Orsow D., Wheeler T. // Proc. SPIE. 2004. Vol. 5499. P. 173--184
  21. Dawson K., Bebek C., Emes J., Holland S., Jelinsky S., Karcher A., Kolbe W., Palaio N., Roe N., Saha J., Takasaki K., Wang G. // IEEE Trans. Nucl. Sci. 2008. Vol. 55. N 3. P. 1725--1735
  22. Барашенков В.С. Сечения взаимодействия частиц и ядер с ядрами. Дубна: ОИЯИ, 1993. 346 с
  23. Cannon E.H., Cabanas-Holmen M., Wert J., Amort T., Brees R., Koehn J., Meaker B., Normand E. // IEEE Trans. Nucl. Sci. 2010. Vol. 57. N 6. Dec. P. 3493--3499
  24. Калашников В.И., Козодаев М.С. Детекторы элементарных частиц. М.: Наука, 1966. С. 246
  25. Secondo R., Foucard G., Danzeca S., Losito R., Peronnard P., Masi A., Brugger M., Dusseau L. RADECS 2015. Moscow. Russia. 14--18 September.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme