Вышедшие номера
Home » Журнал технической физики » Год 2020, выпуск 11 » Статья стр. 1806
<<<>>>
Перспективы использования рентгеновских трубок с автоэмиссионным катодом и "прострельным" анодом в диапазоне мягкого рентгеновского излучения
DOI: 10.21883/JTF.2020.11.49966.150-20
Переводная версия: 10.1134/S1063784220110043
Российского фонда фундаментальных исследований (РФФИ), 18-07-00633
Российского фонда фундаментальных исследований (РФФИ), 18-02-00173
Российского фонда фундаментальных исследований (РФФИ), 18-42-520007
Российского фонда фундаментальных исследований (РФФИ), 19-07-00173
Барышева М.М.1,2, Зуев С.Ю.1, Лопатин А.Я.1, Лучин В.И.1, Пестов А.Е.1, Салащенко Н.Н.1, Цыбин Н.Н.1, Чхало Н.И.
1Институт физики микроструктур Российской академии наук, Нижний Новгород, Россия
2Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского, Нижний Новгород, Россия
Email: aepestov@ipm.sci-nnov.ru
Поступила в редакцию: 28 апреля 2020 г.
В окончательной редакции: 28 апреля 2020 г.
Принята к печати: 28 апреля 2020 г.
Выставление онлайн: 15 июля 2020 г.
PDF версия
Использование автоэмиссионных катодов в конструкциях рентгеновских трубок требует размещения катодного узла с малым зазором от анода, а это затрудняет вывод излучения. Наибольшие сложности возникают при генерации относительно мягкого спектра с длинами волн 1-10 nm: в этом случае ускоряющее напряжение не превышает нескольких kV, а межэлектродный зазор - нескольких сотен μm. В работе экспериментально продемонстрированы возможности применения субмикронных пленок на основе бериллия как "прострельных" анодов для генерации линии Be Kalpha (λ=11.4 nm) и сопутствующего тормозного спектра. В частности, зарегистрировано характеристическое излучение трубки с автоэмиссионным лезвийным катодом и пленочным Be-анодом, установленной в схему решеточного спектрометра скользящего падения. Определены характеристики бериллиевых пленок, необходимые при проектировании рентгеновских трубок такого типа с большей выходной мощностью. Ключевые слова: автоэмиссия, рентгеновская трубка, тонкопленочная мишень.
  1. The Center for X-Ray Optics [Электронный ресурс] URL: http://cxro.lbl.gov/
  2. Бибишкин М.С., Пестов А.Е., Лопатин А.Я., Чхало Н.И. // Тез. докл. VIII Нижегородской сессии молодых ученых. (Естественнонаучные дисциплины). Нижний Новгород, Россия, 2003. С. 22
  3. Бибишкин М.С., Забродин И.Г., Зуев С.Ю., Клюенков Е.Б., Пестов А.Е., Салащенко Н.Н., Чехонадских Д.П., Чхало Н.И. // Микросистемная техника. 2004. N 11. С. 34-40
  4. Chkhalo N.I., Drozdov M.N., Gusev S.A., Kluenkov E.B., Lopatin A.Ya., Luchin V.I., Salashchenko N.N., Shmaenok L.A., Tsybin N.N., Volodin B.A. // Proc. SPIE. 2011. Vol. 8076. Р. 80760O-1-80760O-11
  5. Дюжев Н.А., Демин Г.Д., Филиппов Н.А., Евсиков И.Д., Глаголев П.Ю., Махиборода М.А., Чхало Н.И., Салащенко Н.Н., Филиппов С.В., Колосько А.Г., Попов Е.О., Беспалов B.A. // ЖТФ. 2019. Т. 89. Вып. 12. С. 1836
  6. Chkhalo N., Zabrodin I., Kas'kov I., Kluenkov E., Pestov A., Salashchenko N. // Proc. Int. Conf. "Micro- and nanoelectronics - 2007". Moscow-Zvenigorod, Russia, 2007. P. 1-03
  7. Casnati E., Tartari A., Baraldi C. // J. Phys. B: At. Mol. Phys. 1982. Vol. 15. N 1. P. 155
  8. Maihom T., Sukuba I., Janev R., Becker K., Mark T., Kaiser A., Limtrakul J., Urban J., Mach P., Probst M. // Eur. Phys. J. D. 2013. Vol. 67. N 2
  9. Лопатин А.Я., Парьев Д.Е., Пестов А.Е., Салащенко Н.Н., Чхало Н.И., Дёмин Г.Д., Дюжев Н.А., Махиборода М.А., Кочетков А.А. // ЖЭТФ. 2018. Т. 154. Вып. 6 (12). С. 1067-1076
  10. Chkhalo N.I., Drozdov M.N., Kluenkov E.B., Lopatin A.Ya., Luchin V.I., Salashchenko N.N., Tsybin N.N., Sjmaenok L.A., Banine V.E., Yakunin A.M. // J. Micro-Nanolith. Mem. 2012. Vol. 11. N 2. 021115. DOI: 10.1117/1.JMM.11.2.021115
  11. Chkhalo N.I., Kluenkov E.B., Lopatin A.Ya., Luchin V.I., Salashchenko N.N., Sjmaenok L.A., Tsybin N.N. // Thin Solid Films. 2017. Vol. 631. P. 93-98. DOI: 10.1016/j.tsf.2017.04.015
  12. Chkhalo N.I., Kuzin S.V., Lopatin A.Ya., Luchin V.I., Salashchenko N.N., Zuev S.Yu., Tsybin N.N. // Thin Solid Films. 2018. Vol. 653. P. 359-364
  13. Svechnikov M., Chkhalo N., Lopatin A., Pleshkov R., Polkovnikov V., Salashchenko N., Schafers F., Sertsu M.G., Sokolov A., Tsybin N. // J. Synchrotron Radiat. 2020. Vol. 27. P. 75-82. DOI: 10.1107/S1600577519014188
  14. Migliori A., Ledbetter H., Thoma D.J., Darling T.W. // J. Appl. Phys. 2004. Vol. 95. N 5. P. 2436-2440. DOI: 10.1063/1.1644633
  15. Pinto N.P. Beryllium Science and Technology / Ed. by D.R. Floyd, J.N. Lowe. NY.: Plenum, 1979. Vol. 2. P. 319-350
  16. Chkhalo N.I., Lopatin A.Ya., Pestov A.E., Salashchenko N.N., Demin G.D., Dyuzhev N.A., Makhiboroda M.A. // Proc. SPIE. 2019. Vol. 11022. 110221M. DOI: 10.1117/12.2522105
  17. Aita O., Sagawa T. // J. Phys. Soc. Jpn. 1969. Vol. 27. N 1. P. 164-175
  18. Аруев П.Н., Барышева М.М., Бер Б.Я., Забродская Н.В., Забродский В.В., Лопатин А.Я., Пестов А.Е., Петренко М.В., Полковников В.Н., Салащенко Н.Н., Суханов В.Л., Чхало Н.И. // Квант. электрон. 2012. Т. 42. N 10. С. 943-948
  19. Бибишкин М.С., Забродин И.Г., Каськов И.А., Клюенков Е.Б., Пестов А.Е., Салащенко Н.Н., Чехонадских Д.П., Чхало Н.И., Шмаенок Л.А. // Изв. РАН. Сер. физ. 2004. Т. 68. N 4. С. 560-564
  20. Jin-Woo Jeong et al. // Nanotechnology. 2013. Vol. 24. P. 085201
  21. Basu A., Swanwick M.E., Fomani A.A. et al. // J. Phys. D: Appl. Phys. 2015. Vol. 48. P. 225501
  22. Дюжев Н.А., Махиборода М.А., Преображенский Р.Ю., Демин Г.Д., Гусев Е.Э., Дедкова А.А. // Поверхность. 2017. N 4. С. 64-70
  23. [Электронный ресурс] URL: www.evex.com
  24. The MA-Table software [Электронный ресурс] URL: http://microanalyst.mikroanalytik.de/software.phtml
  25. Electron Beam Scattering Modeling [Электронный ресурс] URL: http://montecarlomodeling.mcgill.ca/

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2025 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme