Высокочастотный магнетотранспорт в тонком металлическом слое с варьируемыми коэффициентами зеркальности границ
Кузнецов П.А.
1, Савенко О.В.
1, Юшканов А.А.
21Ярославский государственный университет им. П.Г. Демидова, Ярославль, Россия
2Московский государственный областной университет, Москва, Россия
Email: p.kuznetsov@uniyar.ac.ru, o.savenko@uniyar.ac.ru, yushkanov@inbox.ru
Поступила в редакцию: 28 января 2020 г.
В окончательной редакции: 3 апреля 2020 г.
Принята к печати: 7 апреля 2020 г.
Выставление онлайн: 10 августа 2020 г.
Построена теоретическая модель электропроводности тонкого металлического слоя в продольном постоянном магнитном и переменном электрическом полях с учетом диффузно-зеркальных граничных условий. Получено аналитическое выражение для интегральной проводимости, как функции безразмерных параметров: толщины слоя, частоты электрического поля, индукции магнитного поля и коэффициентов зеркальности поверхностей. Проанализированы зависимости проводимости слоя от вышеуказанных параметров. Проведено сравнение полученных результатов с известными экспериментальными данными. Ключевые слова: уравнение Больцмана, функция распределения, тонкий слой, электропроводность, коэффициент зеркальности.
- A. Kowsar, S.F.U. Farhad, S.N. Sakib. IJRER, 8, 2218 (2018)
- B. Godefroid, G. Kozyreff. Phys. Rev. Appl., 8 (034024), 1 (2017). https://doi.org/10.1103/PhysRevApplied.8.034024
- S. Bhattacharya, I. Baydoun, M. Lin, S. John. Phys. Rev. Appl., 2019. 11 (014005), 1 (2019). https://doi.org/10.1103/PhysRevApplied.11.014005
- Л.С. Лунин, М.Л. Лунина, А.С. Пащенко, Д.Л. Алфимова, Д.А. Арустам, А.Е. Казакова Письма в ЖТФ, Т. 45 (6), 7 (2019). https://doi.org/10.21883/PJTF.2019.06.47489.17635 [L.S. Lunin, M.L. Lunina, A.S. Pashchenko, D.L. Alfimova, D.A. Arustamyan, A.E. Kazakova. Tech. Phys. Lett., 45 (6), 250 (2019). https://doi.org/10.1134/S1063785019030313]
- А.Б. Никольская, М.Ф. Вильданова, С.С. Козлов, О.И. Шевалеевский. ФТП, 52 (1), 93 (2018). https://doi.org/10.21883/FTP.2018.01.45325.8591 [A.B. Nikolskaia, M.F. Vildanova, S.S. Kozlov, O.I. Shevaleevskiy. Semiconductors, 52 (1), 88 (2018). https://doi.org/10.1134/S1063782618010165]
- Ал.А. Никитин, Ан.А. Никитин, А.Б. Устинов, Е. Lahderanta, Б.А. Калиникос. ЖТФ. 86 (6), 115 (2016). [A.A. Nikitin, A.B. Ustinov, E. Lahderanta, B.A. Kalinikos. Tech. Phys. 61 (6), P. 913 (2016).] https://doi.org/10.1134/S106378421606013X
- Д.А. Усанов, А.В. Скрипаль, М.К. Мерданов, В.О. Горлицкий. ЖТФ, 86 (2), 65 (2016). [D.A. Usanov, A.V. Skripal', M.K. Merdanov, V.O. Gorlitskii. Tech. Phys., 61 (2), 221 (2016).] https://doi.org/10.1134/S1063784216020250
- L. Wang, M. Yin, A. Khan, S. Muhtadi, F. Asif, E.S. Choi, T. Datta. Phys. Rev. Appl., 9 (024006), 1 (2018). https://doi.org/10.1103/physrevapplied.9.024006
- M.A. Abeed, J.L. Drobitch, S. Bandyopadhyay. Phys. Rev. Appl., 11 (054069), 1 (2019)
- А.И. Ансельм. Введение в теорию полупроводников. (Наука, М., 1978, 616 c.)
- И.М. Лифшиц, М.Я. Азбель, М.И. Каганов. Электронная теория металлов. (Наука, М., 1971, 415 c.)
- K. Fuchs. Proc. Camb. Phil. Soc., 34, 100 (1938). https://doi.org/10.1017/S0305004100019952
- E.H. Sondheimer. Adv. Phys., 50, 499 (2001). https://doi.org/10.1080/00018730110102187
- Y.S. Way, Y.H. Kao. Phys. Rev. B., 5, 2039 (1972). https://doi.org/10.1103/PhysRevB.5.2039
- R.G. Chambers. Proc. Roy. Soc. Lond. A., 202, 378 (1950). https://doi.org/10.1098/rspa.1950.0107
- J. Peterseim, G. Thummes, H.H. Mende. Phys. Stat. Sol. (a), 59, K25 (1980). https://doi.org/10.1002/pssa.2210590160
- V. Kuckhermann, G. Thummes, H.H. Mende. Phys. Stat. Sol. (a), 73, 439 (1982). https://doi.org/10.1002/pssa.2210730218
- A.A. Yushkanov, O.V. Savenko, I.A. Kuznetsova. Physicascripta, 95 (045805), (2020). https://dx.doi.org/10.1088/1402-4896/ab635a
- L. Moraga, C. Arenas, R. Henriquez, S. Bravo, B. Solis. Physica B: Condens. Matter., 499, 17 (2016). https://doi.org/10.1016/j.physb.2016.07.001
- R. Henriquez, S. Oyarzun, M. Flores, M.A. Suarez, L. Moraga, G. Kremer, C.A. Gonzalez-Fuentes, M. Robles, R.C. Munoz. J. Appl. Phys., 108 (123704), 1 (2010). https://doi.org/10.1063/1.3525704
- R.C. Munoz, M.A. Suarez, S. Oyarzun. Phys. Rev. B, 81 (165408), 1 (2010). https://doi.org/10.1103/PhysRevB.81.165408
- S. Oyarzun, R. Henri quez, M.A. Suarez, L. Moraga, G. Kremer, R.C. Munoz. Appl. Surf. Sci. 289, 167 (2014). https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2013.10.128
- А.И. Уткин, Э.В. Завитаев, А.А. Юшкановю Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 9, 85 (2016). https://doi.org/10.7868/S0207352816090158 [A.I. Utkin, E.V. Zavitaev, A.A. Yushkanov. J. Surf. Invest.: X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques, 10, 962 (2016). https://doi.org/10.1134/S1027451016050153]
- А.И. Уткин, А.А. Юшканов. Микроэлектроника, 45 (5), 386 (2016). https://doi.org/10.7868/S0544126916050100 [A.I. Utkin, A.A. Yushkanov. Russ. Microelectronics, 45, 357 (2016). https://doi.org/10.1134/S1063739716050103]
- А.И. Уткин, А.А. Юшканов. ЖТФ, 86 (10), 15 (2016). [A.I. Utkin, A.A. Yushkanov. Tech. Phys., 61 (10), 1457 (2016). https://doi.org/10.1134/S1063784216100273]
- И.А. Кузнецова, О.В. Савенко, А.А. Юшканов. ЖТФ, 87 (12), 1769 (2017). https://doi.org/10.21883/JTF.2017.12.45196.1831 [I.A. Kuznetsova, O.V. Savenko, A.A. Yushkanov. Tech. Phys., 62 (12), 1766 (2017). https://doi.org/10.1134/S1063784217120143]
- И.А. Кузнецова, Д.Н. Романов, А.А. Юшканов. Микроэлектроника, 47 (3), 226 (2018). https://doi.org/10.7868/S0544126918030079 [I.A. Kuznetsova, D.N. Romanov, A.A. Yushkanov. Russ. Microelectronics, 47 (3), 201 (2018). https://doi.org/10.1134/S1063739718030071]
- А.И. Уткин, А.А. Юшканов. Опт. спектр., 124 (2), 250 (2018). https://doi.org/10.21883/OS.2018.02.45532.190-17 [A.I. Utkin, A.A. Yushkanov. Opt. Spectr., 124 (2), 247 (2018). https://doi.org/10.1134/S0030400X18020194]
- А.И. Уткин, А.А. Юшканов. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 3, 62 (2019). https://doi.org/10.1134/S0207352819030181 [A.I. Utkin, A.A. Yushkanov. J. Surf. Invest.: X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques, 13, 221 (2019). https://doi.org/10.1134/S1027451019020186]
- Э.В. Завитаев, К.Е. Харитонов, А.А. Юшканов. ЖТФ, 89 (5), 643 (2019). https://doi.org/10.21883/JTF.2019.05.47462.275-18 [E.V. Zavitaev, K.E. Kharitonov, A.A. Yushkanov. Tech. Phys., 64 (5), 593 (2019). https://doi.org/10.1134/S1063784219050268]
- I.A. Kuznetsova, D.N. Romanov, A.A. Yushkanov. Phys. Scr., 94 (115805), (2019). https://doi.org/10.1088/1402-4896/ab20e4
- И.А. Кузнецова, О.В. Савенко, А.А. Юшканов. Микроэлектроника, 45 (2), 126 (2016). https://doi.org/10.7868/S0544126916020071 [I.A. Kuznetsova, O.V. Savenko, A.A. Yushkanov. Russ. Microelectronics, 45 (2) 119 (2016). https://doi.org/10.1134/S1063739716020074]
- Л.Д. Ландау, Е.М. Лифшиц. Теоретическая физика. Т. 8. (Физматлит, М, 2005. 656 с.)
- J.S. Chawla, F. Gstrein, K.P. O'Brien, J.S. Clarke, D. Gall. Phys. Rev. B, 84 (235423), 1 (2011). https://doi.org/10.1103/PhysRevB.84.235423
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.