Журнал технической физики
Авторам
Вышедшие номера
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Влияние плотности плазмы на степень подавления сигналов аналитов в ICP-MS
Переводная версия: 10.1134/S1063784220120166 
Нурубейли Т.К.
1
1Институт физики Национальной академии наук Азербайджана, Баку, Азербайджан 
Email: kamilnuri@rambler.ru
Поступила в редакцию: 7 февраля 2020 г.
В окончательной редакции: 3 марта 2020 г.
Принята к печати: 16 июня 2020 г.
Выставление онлайн: 10 августа 2020 г.
Рассмотрены возможные влияния ионизационных явлений на аналитический сигнал в методе масс-спектрометрии с индуктивно связанной плазмой с высокотемпературным источником ионов. Рассчитаны и экспериментально определены зависимости степени подавления ионных сигналов от концентрации электронов для ионов матричных и приместных элементов. Показано, что степень подавления сигналов достаточно сильно зависит от концентрации электронов в аналитической зоне в присутствии матричных элементов с различными по величине первыми потенциалами ионизации. На примере масс-спектрометра ICP-MS (Agilent Technologies) изучены влияния мощности индуктивной плазмы и скорости распылительного аргона на чувствительность масс-спектрометра. Результаты эксперимента показали, что причины подавления сигналов аналитов на выходе, по-видимому, связаны с ионно-электронной рекомбинацией ионов (как матричных, так и примесных) в области плазмы. Ключевые слова: масс-спектрометрия с индуктивно связанной плазмой, матричный эффект, рекомбинация ионов, концентрация электронов, подавление ионных сигналов.
- E.H. Evans, J.J. Giglio. J. Anal. At. Spectrom., 8 (1), 1 (1993)
- N. Jakubowski, T. Prohaska, F. Vanhaecke, P.H. Roos, T. Lindemann. J. Anal. At. Spectrom., 26 (4), 727 (2011)
- C. Agatemor, D. Beauchemin. Anal. Chim. Acta, 706 (1), 66 (2011)
- E.R. Denoyer, D. Jacques, E. Debrach, S.D. Tanner. Atom. Spectrosc., 16, 1 (1995)
- А.Н. Зайдель, В.К. Прокофьев, С.М. Райский, В.А. Славный, Е.Я.Шрейдер. Таблицы спектральных линий. (Наука, М., 1969)
- R.S. Houk. Analytical Chemistry, 58, 97A (1986)
- J.A. Olivares, R.S. Houk. Anal. Chem., 58 (1), 20 (1986)
- J.R. Garbarino, H.E. Taylor. Anal. Chem., 59, 1568 (1987)
- А.А. Пупышев, А.К. Луцак, В.Н. Музгин. ЖАХ, 53 (7), 713 (1998)
- Т.К. Нурубейли. Электронная обработка материалов, 53 (4), 53 (2017).
- Г.И. Беков, А.А. Бойцов, М.А. Большов, Е.Л. Гринзайд, А.И. Дробышев, Х.И. Зильберштейн, Д.А. Кацков, А.А. Петров, С.В. Подмошенская, Е.Д. Прудников, Б.Я. Юфа. Спектральный анализ чистых веществ. Под ред. Х. И. Зильберштейна. 2-е изд. (Химия, СПб., 1994)
- Т.К. Нурубейли. Проблемы энергетики, 1, 19 (2018)
- В.К. Карандашев, А.Ю. Лейкин, К.В. Жерноклеева. ЖАХ, 69 (1), 26 (2014)
- Плазма в лазерах. Ред. Дж. Бекефи. (Энергоиздат, М., 1986)
- А.А. Пупышев, А.К. Луцак, В.Н. Музгин. ЖАХ, 53, 713 (1990)
- К.П. Балуда, Л.Н. Филимонов, В.В. Недлер. Высокочастотный ИСП разряд в эмиссионном спектральном анализе. (Наука, Л., 1988)
- А.А. Пупышев, А.К. Луцак. ЖАХ, 53 (11), 1141 (1998)
- В.К. Карандашев, А.Н. Туранов, Т.А. Орлова, А.Е.Лежнев, С.В. Носенко, Н.И. Золотарева, И.Р. Москвина. Заводская лаборатория. Диагностика материалов, 73 (1), 12 (2007)
- M.M. Fraser, D. Beauchemin. Spectrochim Acta, Part B, 55 (11), 1705 (2000).
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
